测试与计量技术基础

测试与计量技术基础 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:西安电子科技大学出版社
作者:周渭
出品人:
页数:266
译者:
出版时间:2004-4-1
价格:19.00元
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787560613680
丛书系列:
图书标签:
  • 仪器仪表技术
  • 工程技术
  • Expertise
  • 测试技术
  • 计量技术
  • 基础知识
  • 仪器仪表
  • 测量原理
  • 误差分析
  • 传感器
  • 数据采集
  • 实验教学
  • 工程测量
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具体描述

本书系统地介绍了测试与计量技术的理论和基础知识。全书共分11章,主要内容包括:计量;量和基本计量单位;计量误差与数据处理;计量器具;测试与计量方法;量值传递与检定测试;基本物理常数;各种物理量的测试方法,包括几何量计量、温度计量、力学计量、光学计量、声学计量、化学计量、电磁计量、电子计量、时间频率计量以及电离辐射计量;计量管理等。

本书内容广泛,注重对学生基本测量方法和能力的培养,以使他们在掌握共性知识的基础上解决更广泛的检测问题。

本书适合作为仪器科学与技术、电子科学与技术等学科的本科生和硕士生的教材或教学参考书,对于从事电子工程的技术人员也是一本有价值的参考书。根据教学要求,也可以适当调整部分内容。

本书配有电子教案,需要者可与西安电子科技大学出版社联系,免费索取。

《精密测量与数据解读》 本书聚焦于现代工业生产和科学研究中至关重要的“精密测量”与“数据解读”两大核心领域。在日新月异的技术浪潮下,精确的测量是获取可靠数据的前提,而对数据的深入分析与解读则是驱动创新、优化工艺、保障质量的关键。本书旨在为广大工程技术人员、科研工作者以及对精密测量和数据分析感兴趣的读者提供一套系统、实用的知识体系。 第一篇 精密测量技术:基石与实践 本篇将带领读者深入探索精密测量世界的基石——测量原理、方法与误差分析。我们不局限于单一的测量手段,而是从宏观视角梳理了各类测量技术的演进与发展,重点讲解了在不同应用场景下,如机械制造、电子信息、生物医药、航空航天等领域中,如何选择最适宜的测量仪器与方法。 第一章 测量基础理论与误差分析: 深入剖析测量的基本概念,包括测量对象、测量基准、测量精度、分辨率等。详细阐述测量误差的产生原因、分类(系统误差、随机误差、过失误差)及其传播规律。重点介绍常用的误差评定方法,如极限误差法、概率统计法,并指导读者如何通过有效的实验设计和数据处理来最小化误差,提高测量结果的可信度。 第二章 几何量精密测量技术: 聚焦于长度、角度、形状和位置等几何量的精密测量。我们将介绍游标卡尺、千分尺、指示表等传统精密量具的使用技巧与精度校核。更深入地探讨光学测量(如激光干涉仪、影像测量仪)、触觉测量(如三坐标测量机)以及非接触式测量技术(如三维扫描仪)的原理、应用及发展趋势。针对复杂零件的尺寸、形位公差测量,提供详细的测量方案设计与实施指南。 第三章 物理量与参数测量: 涵盖物理量和各种工程参数的测量。这包括温度(热电偶、电阻温度计)、压力(压力传感器、液柱式压力计)、流量(涡轮流量计、电磁流量计)、力(应变片传感器、测力传感器)、电学量(万用表、示波器、信号发生器)以及其他重要参数(如湿度、转速、振动)的测量原理、仪器选择与应用。重点讲解传感器的工作原理、性能指标及其在实际系统中的集成与校准。 第四章 测量系统集成与校准: 阐述如何构建一个完整的测量系统,包括传感器的选择、信号的采集与处理、数据的传输与存储。强调测量系统在实际应用中的集成度、稳定性和动态响应能力。详细介绍测量仪器的校准标准、校准周期、校准方法与报告解读,确保测量结果的准确性和可追溯性。 第二篇 数据解读与分析:洞察与决策 精准的测量只是起点,对测量数据的有效解读与深入分析,才能转化为有价值的信息,指导生产和研发决策。本篇将带领读者掌握从原始数据到深刻洞见的转化过程。 第五章 数据预处理与可视化: 讲解数据清洗(处理缺失值、异常值)、数据转换(标准化、归一化)等预处理技术,为后续分析奠定基础。重点介绍各种数据可视化技术,包括图表类型(散点图、折线图、柱状图、箱线图、热力图等)的选择与绘制,以及如何利用可视化工具(如Python的Matplotlib、Seaborn库,R语言的ggplot2)有效地呈现数据特征、趋势与关系,帮助观察者快速捕捉关键信息。 第六章 统计分析方法: 深入介绍常用的统计分析方法,包括描述性统计(均值、方差、标准差、中位数、众数)和推断性统计。重点讲解假设检验(t检验、卡方检验、F检验)在验证测量结果差异性、评估工艺稳定性等方面的应用。介绍回归分析(线性回归、多元回归)用于建立变量间的关系模型,以及方差分析(ANOVA)用于比较多个样本的均值差异。 第七章 过程监控与质量控制: 将精密测量与数据分析相结合,应用于工业过程监控与质量控制。详细介绍控制图(X-bar-R图、P图、C图)的构建与应用,用于实时监控生产过程的稳定性,识别过程异常。阐述过程能力指数(Cp, Cpk)的计算与解读,评估生产过程满足设计要求的程度。介绍抽样检验、验收抽样等质量管理工具,以及失效模式与影响分析(FMEA)等风险评估方法。 第八章 数据挖掘与模式识别基础: 介绍更高级的数据分析技术。讲解聚类分析在产品分类、缺陷模式识别中的应用。介绍关联规则挖掘,如Apriori算法,用于发现数据中的隐藏关系,例如哪些参数组合容易导致产品缺陷。初步介绍机器学习的基本概念,及其在预测分析、异常检测等方面的潜力,为读者进一步探索高级分析技术打开思路。 本书特色: 理论与实践紧密结合: 每一章都力求从理论原理出发,辅以丰富的实际案例和应用场景,让读者能够学以致用。 工具与技术并重: 不仅介绍测量原理和分析方法,还涉及常用的测量仪器和数据处理软件工具,帮助读者掌握实际操作技能。 循序渐进,由浅入深: 从基础概念入手,逐步深入到复杂的分析模型与应用,适合不同知识背景的读者。 面向未来,拓展视野: 在介绍传统技术的同时,也关注新兴测量技术和数据分析方法的发展趋势,激发读者的学习兴趣和创新思维。 通过对本书的学习,读者将能够更自信地进行精密测量,更有效地解读测量数据,从而在各自的专业领域做出更明智的决策,推动技术进步与创新发展。

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读后感

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用户评价

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这本书的叙述风格极其严谨,如同精密仪器的操作手册,每一个章节都像是对特定领域知识点的步步为营。我特别欣赏作者在复杂理论阐述上的耐心和清晰度,他并没有简单地堆砌公式和定义,而是将抽象的物理概念与实际的工程应用场景紧密结合起来。例如,在讨论信号采集的精度和稳定性时,书中不仅详细分析了不同传感器的工作原理,还深入探讨了环境噪声对测量结果的系统性影响,并给出了多种噪声抑制和数据滤波的实用算法。这种从理论根基到实践操作的完整链条构建,使得读者在理解“是什么”的同时,也能掌握“怎么做”。不过,对于初学者来说,前半部分对数学基础的要求稍高,可能需要一些预备知识才能完全跟上节奏。整体而言,对于需要将理论知识转化为可操作测试流程的工程师来说,这是一本不可多得的案头参考书,它更像是一本“如何科学地观察世界”的工具箱,而不是一本泛泛而谈的科普读物。

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这是一本令人感到“踏实”的书,内容的选择非常聚焦且实用,完全没有为了凑页数而加入的“水文”。作者的重点显然放在了“可重复性”和“可追溯性”这两个核心概念上,书中花了大量篇幅讲解如何设计出符合标准要求的测试方案,并确保在不同时间、不同地点执行都能得出一致的结论。特别是关于测量不确定度的评定部分,讲解得极为细致入微,它不仅仅停留在公式套用上,更强调了对所有潜在不确定度来源(包括设备老化、操作员差异等“软性”因素)的系统性识别和量化处理。这本书更像是一位经验丰富的老技师在手把手地传授他的“独门心法”,让你明白为什么一个看似微小的操作失误,最终可能导致整个测试结果失效。读完后,我感觉自己对“严谨”二字的理解提升了一个层次,看待任何测量数据都会下意识地去寻找其背后的误差链条。

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这本书的排版和图示质量非常高,这对于理解涉及空间几何或复杂波形的内容至关重要。很多教科书的插图模糊不清,或者过于简陋,但这里的每一个图表都经过精心设计,线条清晰,标签明确,很多三维的测量模型和信号流向图,仅凭观看图示就能领悟其核心原理。作者在描述那些难以用语言完全捕捉的动态过程时,比如瞬态响应或耦合效应,大量采用了精美的剖面图和时间轴示意图,极大地减轻了读者的认知负荷。这种对视觉辅助工具的重视,体现了出版方对知识传播质量的严格要求。尽管内容本身涉及许多高深的物理和电子学原理,但凭借这些优秀的视觉材料,阅读体验也保持在了非常流畅和愉悦的水平,让人愿意一页一页地深入下去探索其中的奥秘。

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我之前阅读过几本同类主题的教材,大多过于偏重理论推导,读起来枯燥乏味,但这本书完全不同,它具有一种强烈的“现场感”。作者似乎是以一个资深项目经理的视角来组织内容的,每一章的布局都紧密围绕着一个实际的测试任务展开:确定需求、选择工具、搭建平台、执行采集、分析数据、撰写报告。这种叙事方式让学习过程充满了目的性。书中对于如何使用各种标准测试设备(如示波器、万用表、频谱分析仪等)的“最佳实践”描述得尤为生动,哪些参数是必须要关注的“红线”,哪些设置是可以灵活调整的“弹性区域”,讲得一清二楚。它真正做到了一书在手,便能信心十足地面对大部分常见的工业和科研测量挑战,极大地提升了我的实操信心和解决问题的效率。

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这本书的行文节奏把握得非常到位,它成功地在学术深度和可读性之间找到了一个精妙的平衡点。我尤其喜欢作者在引入新概念时所采用的类比和实例,它们极大地降低了理解门槛。比如,讲解误差分析时,作者引入了一个关于“制作完美棋盘格”的比喻,生动地解释了系统误差和随机误差的本质区别,这比单纯看那些复杂的统计模型要直观得多。此外,书中对现代测试系统的架构描述,也体现了作者对行业前沿的敏锐洞察力,涵盖了从传统的电阻、电容测量到新型的光学传感器的应用案例,拓宽了我的视野。唯一让我觉得美中不足的是,某些关键算法的推导过程被略写了,虽然这保证了篇幅的紧凑,但对于想深究其数学机理的钻研者来说,可能会感到有些意犹未足,需要额外查阅其他资料进行补充佐证。

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