公差与技术测量

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出版者:上海交通大学出版社
作者:周勤芳
出品人:
页数:236
译者:
出版时间:2001-3
价格:21.00元
装帧:简裝本
isbn号码:9787313026187
丛书系列:
图书标签:
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《公差与技术测量(第二版)》,本书内容包括互换性与标准化的基本概念、光滑圆柱体结合的极限与配合,形状和位置公差及其检测,表面粗糙度及其检测,测量技术基础,滚动轴承的公差与配合,圆柱齿轮传动公差及其检测等十章。

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