Intended for use in undergraduate senior-level digital circuit design courses with advanced material sufficient for graduate-level courses. Progressive in content and form, this text successfully bridges the gap between the circuit perspective and system perspective of digital integrated circuit design. Beginning with solid discussions on the operation of electronic devices and in-depth analysis of the nucleus of digital design, the text maintains a consistent, logical flow of subject matter throughout. The revision addresses today's most significant and compelling industry topics, including: the impact of interconnect, design for low power, issues in timing and clocking, design methodologies, and the tremendous effect of design automation on the digital design perspective. The revision reflects the ongoing evolution in digital integrated circuit design, especially with respect to the impact of moving into the deep-submicron realm.
要读这本书,我觉得得要有三个前提。第一:不急躁的心态,第二:有层次想当的人可以讨论;第三:比较深厚的数字电路的基础。这可能是由于国外的教学方式与国内的教学方式不同,所以造成了国外教材在国内并不被很多学生所接受的原因之一。国外是一种讨论式、引导式的教学方式,...
评分要读这本书,我觉得得要有三个前提。第一:不急躁的心态,第二:有层次想当的人可以讨论;第三:比较深厚的数字电路的基础。这可能是由于国外的教学方式与国内的教学方式不同,所以造成了国外教材在国内并不被很多学生所接受的原因之一。国外是一种讨论式、引导式的教学方式,...
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评分要读这本书,我觉得得要有三个前提。第一:不急躁的心态,第二:有层次想当的人可以讨论;第三:比较深厚的数字电路的基础。这可能是由于国外的教学方式与国内的教学方式不同,所以造成了国外教材在国内并不被很多学生所接受的原因之一。国外是一种讨论式、引导式的教学方式,...
我发现这本书最吸引我的地方,在于它对“可靠性”这一维度进行了前所未有的强调。在现代集成电路设计中,性能和功耗往往是焦点,但可靠性,尤其是随着制造工艺节点的缩小,正成为决定产品寿命和市场接受度的关键因素。书中关于电迁移(Electromigration)、热效应(Self-Heating)以及对晶体管寿命影响的分析,极其细致入微。它不仅描述了这些失效机制的物理成因,更重要的是,提供了在设计阶段如何通过约束走线宽度、电流密度以及如何平衡热点区域的布局策略。对于任何需要为航空航天、汽车电子或任何对寿命有严格要求的领域进行芯片设计的人来说,这本书提供的不仅仅是设计技巧,而是一整套风险规避的框架。它教会你如何预见那些传统仿真工具可能忽略的长期退化效应,并将这些考虑融入到初始的架构选择中,这是一种非常成熟且面向产品的设计哲学。
评分这本书的叙事节奏非常舒缓,但其内容密度却高得惊人,就像一块被压缩到极限的知识晶体。初看起来,它似乎涵盖了数字集成电路设计的所有标准主题,但一旦进入细节,那种对底层机制的刨根问底便立刻显现出来。最让我印象深刻的是它对互连线延迟(Interconnect Delay)建模的论述。作者清晰地阐述了从早期主要由有源器件控制的延迟,如何逐渐转变为由RC延迟网络主导的瓶颈。书中对Lumped、Elmore以及更复杂的Distributed RC模型的应用场景和局限性进行了对比分析,这对于处理现代SoC设计中数以万计的金属层走线至关重要。这种对“不完美”现实的拥抱,使得本书远超一般教科书的泛泛而谈。此外,书中关于低功耗设计策略的探讨也极其到位,并非简单地堆砌多阈值电压(Multi-Vt)技术或时钟门控(Clock Gating),而是深入到工艺角(Process Corners)变化下,如何量化和权衡动态功耗与漏电功耗之间的矛盾,这种系统性思维的训练,是任何想成为资深IC设计师的人都必须掌握的。
评分坦白说,这本书的语言风格相当古典和学术化,初次翻阅时可能会感到一些晦涩,但一旦适应了这种严密的逻辑推导方式,你就会发现其逻辑链条的坚固性是无与伦比的。它很少使用花哨的图表或过于现代的术语来掩盖核心概念的复杂性,更多是依靠扎实的数学基础和物理定律来构建知识体系。我花了相当长的时间才完全消化掉关于噪声容限和时序裕度分析的那几章,因为作者坚持从晶体管开关特性出发,逐步推导出建立在蒙特卡洛仿真基础上的统计时序分析(STA)的理论依据。对于那些习惯于EDA工具直接给出结果的设计师来说,这本书或许会显得有些“反直觉”,因为它强迫读者去理解工具背后的决策逻辑。我认为,这本书的最大价值在于培养一种“自底向上”的工程直觉,让你在面对新兴技术(比如FinFET到GAAFET的过渡)时,能够迅速地将新的器件特性映射到现有的电路模型中去,而不是被表面的新特性所迷惑。
评分本书的广度令人称奇,它成功地在一个框架内将高速CMOS逻辑、存储器结构、以及基础的模拟/混合信号接口电路的数字部分进行了有机的整合。我特别喜欢它在处理亚阈值电路(Subthreshold Circuits)和近阈值计算(Near-Threshold Computing)时的那部分内容。这部分内容对于开发极低功耗传感器和物联网设备的设计者来说,简直是及时雨。作者没有将这些技术视为噱头,而是严肃地分析了在极低电压下,由于器件的跨导(Transconductance)急剧下降,导致逻辑延迟呈指数级增长的内在物理瓶颈。更重要的是,书中探讨了如何通过重新设计逻辑样式(Logic Style)——比如使用特殊的正反馈结构——来部分克服这些限制。这种对设计空间边界的探索,显示出作者深厚的工程实践背景,远超出了教科书的范畴,更像是一份领域专家的经验总结报告,虽然阅读起来需要极大的专注度,但回报是实实在在的对设计极限的认知。
评分这本书的深度令人叹为观止,对于那些渴望从基础原理层面深入理解现代电子设计核心的工程师和高级学生来说,它无疑是一座宝库。我尤其欣赏作者在处理亚微米乃至更小制程下的器件物理与电路行为之间的细微差异时所展现出的那种近乎偏执的严谨性。书中对CMOS晶体管的阈值电压效应、短沟道效应,以及这些效应如何系统性地影响着逻辑门的速度和功耗,进行了极其详尽的剖析。它没有停留在教科书上常见的理想模型,而是扎根于实际的半导体工艺限制。例如,关于静态随机存取存储器(SRAM)单元的稳定性分析,作者不仅仅是给出了基本的读写时序图,而是深入探讨了噪声裕度、波动效应(Variation Effects)以及如何通过精确的晶体管尺寸优化来确保大规模阵列的可靠性。阅读这些章节时,我感觉自己仿佛置身于一个顶尖的芯片设计实验室,亲手面对着良率和性能的权衡难题。它不是那种读完就能立刻上手设计产品的“速成指南”,而更像是一本需要反复研读、并需要结合实际仿真工具才能真正消化的参考手册,每一次重读都能发现新的洞见,尤其是在系统级功耗管理和时钟树综合(CTS)的底层物理约束方面,提供了无与伦比的视角。
评分数字集成电路靠它刷上了90...
评分边角料很多有意思的,适合闲着没事的时候读。
评分我听过Reaby的课,简直是灾难(一是因为口音,二是因为条理性)...这本书做为那门课的集合体,读起来极其变扭。一是因为Reaby大神的表达我看得不习惯,二是内容一坨坨的,毫无主次,真是恶心...
评分书里的解释堪比模电,班里的同学貌似已经接受“好书都不好读”这种设定了
评分圣经
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