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数字系统测试与可测试设计
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阿布拉莫韦奇 作者
机械工业出版社
李华伟 译者
2006-8 出版日期
449 页数
56.00元 价格
简裝本
丛书系列
9787111192374 图书编码

数字系统测试与可测试设计 在线电子书 图书标签: 测试  数字  可测性设计  IC   

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发表于2025-01-12

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数字系统测试与可测试设计 在线电子书 图书描述

本书系统地介绍数字系统测试理论和方法，包括测试生成、故障模型、故障模拟、可测试性设计、内建自测试等内容。本书共分为三部分：第一部分介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法等；第二部分介绍数字系统的可测试性设计理论和方法、内建自测试BIST、测试数据压缩方法等；第三部分主要讨论系统测试的方法。本书概念清晰、层次分明、定义和证明准确、算法推导和阐述简练。每章附有大量练习题可帮助读者消化吸收所学的概念。

　　本书可供数字系统设计相关技术人员参考，也可作为高等院校相关专业高年级本科生或研究生的教材。

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