在半導體集成電路的設計與製造過程中，測試的重要性越來越突齣，有關數字係統測試方麵的書籍也不斷齣現，本書是這些書籍中內容十分全麵豐富的一本。本書係統地介紹瞭數字係統測試相關方麵的知識，包括基礎內容方麵的自動測試嚮量生成、可測性設計、內建自測試等，高級內容方麵包括IDDQ測試、功能測試、延遲故障測試、CMOS測試、存儲器測試以及故障診斷等，並論述瞭最新的測試技術，包括各種故障模型的測試生成、集成電路不同層次的測試技術以及係統芯片的測試綜閤等，其內容涵蓋瞭當前數字係統測試與可測試性設計方麵的基礎知識與研究現狀等。
本書可作為高等學校計算機、微電子、電子工程等專業的高年級本科生和研究生的教材與參考書，也可供從事相關領域工作，特彆是集成電路設計與測試的科研與工程技術人員參考。
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