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Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024

Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices
☆☆☆☆☆
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Schrimpf, R. D. 編 作者
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
譯者
2004-8 出版日期
348 頁數
$ 172.89 價格
HRD
叢書系列
9789812389404 圖書編碼

Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices 在線電子書 圖書標籤:  

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發表於2024-11-29

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Radiation Effects and Soft Errors in Integrated Circuits and Electronic Devices 在線電子書 圖書描述

This book provides a detailed treatment of radiation effects in electronic devices, including effects at the material, device, and circuit levels. The emphasis is on transient effects caused by single ionizing particles (single-event effects and soft errors) and effects produced by the cumulative energy deposited by the radiation (total ionizing dose effects). Bipolar (Si and SiGe), metal-oxide- semiconductor (MOS), and compound semiconductor technologies are discussed. In addition to considering the specific issues associated with high-performance devices and technologies, the book includes the background material necessary for understanding radiation effects at a more general level.

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