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Gate Dielectrics and Mos Ulsis
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简体网页||繁体网页
Hori, Takashi 作者
Springer Verlag
译者
出版日期
352 页数
$ 157.07 价格
HRD
丛书系列
9783540631828 图书编码

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发表于2024-11-13

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Gate Dielectrics and Mos Ulsis 在线电子书 图书描述

Gate Dielectrics focusses on dielectric films satisfying the superior quality gate dielectric even in large-scale integration. The information presented is rather up to date with regard to nanometer-range ultrathin gate-dielectric films, which are indispensible for submicrometer ULSIs.

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