Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits 在线电子书 pdf 下载 txt下载 epub 下载 mobi 下载 2024


Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits

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Bushnell, Michael L./ Agrawal, Vishwani D. 作者
Kluwer Academic Pub
译者
2000-11 出版日期
708 页数
$ 117.52 价格
HRD
丛书系列
9780792379911 图书编码

Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits 在线电子书 图书标签: 11   


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发表于2024-11-29


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Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-signal VLSI Circuits 在线电子书 图书描述

Today's electronic design and test engineers deal with several types of subsystems, namely, digital, memory, and mixed-signal, each requiring different test and design for testability methods. This book provides a careful selection of essential topics on all three types of circuits. The outcome of testing is product quality, which means "meeting the user's needs at a minimum cost". The book includes test economics and techniques for determining the defect level of VLSI chips. Besides being a textbook for a course on testing, it is a complete testability guide for an engineer working on any kind of electronic device or system or a system-on-a-chip.

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