具体描述
Characterization of Materials (formerly Methods in Materials Research) provides comprehensive up-to-date coverage of materials characterization techniques including computational and theoretical methods as well as crystallography, mechanical testing, thermal analysis, optical imaging and spectroscopy, and more.
Editor-in-Chief, Elton Kaufmann, Ph.D. is Associate Director of the Strategic Planning Group at the Argonne National Laboratory and has published approximately 100 technical papers in refereed journals and books.
Dr. Kaufmann has assembled leading experts from academia, government, and industry to provide:
* A comprehensive up-to-date collection of methods used in the characterization of materials
* Articles on various methods from standard to cutting edge
* Periodic online updates to keep pace with latest developments
* A user-friendly format that is easy and simple to search and navigate
Characterization of Materials is a collection of characterization methods that is widely applicable in the wide and diverse field of materials research irrespective of discipline or ultimate application and with which researchers, engineers, and educators must have familiarity.
Methods covered include:
* General Vacuum Techniques
* X-Ray Powder Diffraction
* High Strain Rate Testing
* Deep Level Transient Spectroscopy
* Cyclic Voltammetry
* Extended X-Ray Absorption Fine Structure
* Low Energy Electron Diffraction
* Thermogravimetric Analysis
* Magnetometry
* Transmission Electron Microscopy
* Ultraviolet Photoelectron Spectroscopy
This reference work is also available as a convenient online edition. For information regarding the online edition, please visit: www.mrw.interscience.wiley.com/com
作者简介
目录信息
读后感
评分
评分
评分
评分
用户评价
这本书，我从名字《Characterization of Materials》就能感受到其内容的深度和广度。我预期它会是一本非常具有指导意义的书籍，能够帮助我系统地学习和掌握各种材料表征的技术和原理。我设想，书中会从宏观性能入手，例如力学性能、电学性能、光学性能等，然后层层深入，探讨这些宏观性能是如何由材料的微观结构所决定的。随后，它会详细介绍各种表征技术，如X射线衍射（XRD）用于晶体结构分析，扫描电子显微镜（SEM）用于表面形貌观察，透射电子显微镜（TEM）用于内部结构成像，以及各种光谱技术（如XPS, EDS, Raman）用于元素和化学态分析。我特别希望书中能对这些技术的原理、操作步骤、数据解释以及在不同材料体系中的应用都有详细的说明。此外，我期待书中还能涵盖一些前沿的表征技术，比如原子探针断层扫描（APT）、同步辐射X射线成像等，并介绍它们在纳米材料、生物材料等领域的研究中的应用。这本书，对我来说，将是一本宝贵的参考书，它能够帮助我解决在材料研究中遇到的各种问题，并提升我的学术研究能力。
评分《Characterization of Materials》这本书，从它的书名来看，就充满了知识的力量，预示着它将是一部深入剖析材料属性的学术巨著。我猜想，这本书的内容会极其丰富，它不仅仅是在列举各种表征技术，更是在传达一种认识材料、理解材料的方法论。我希望书中能够详细介绍各种表征技术的物理和化学原理，并辅以大量的实例来阐述它们在实际应用中的效果。例如，在讲解表面分析技术时，我希望能看到X射线光电子能谱（XPS）是如何通过测量光电效应来分析材料表面元素组成和化学状态的，以及如何通过俄歇电子能谱（AES）来获得更高空间分辨率的表面成分信息。在谈及显微成像技术时，我期望它能深入介绍扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的工作原理，以及如何利用它们来观察材料的微观形貌、晶粒结构和缺陷。这本书，对我而言，不仅仅是知识的海洋，更是一种思维的启迪，它将教会我如何用科学的工具和方法去深入了解材料的“灵魂”。
评分这本书，名为《Characterization of Materials》，从封面到书脊，都散发着一种沉甸甸的学术气息，仿佛自带一种引力，将所有对材料科学怀揣好奇、渴望深入探索的目光牢牢吸引。当我第一次将它从书架上取下，沉甸甸的份量就预示着其内容的厚重与全面。我猜想，这本书绝非泛泛而谈，而是会在材料的方方面面进行细致入微的剖析。我期待它能带领我穿越材料的微观世界，理解那些肉眼看不见的结构是如何决定宏观性能的。这本书，或许会从最基本的原子排列讲起，然后逐步深入到晶格结构、缺陷、表面性质，甚至是更复杂的相变和界面现象。我甚至可以想象，书中会用大量精美的图表和清晰的示意图来辅助理解，将那些抽象的理论概念具象化。同时，我也期待作者能够将最新的表征技术娓娓道来，比如先进的电子显微镜技术（TEM, SEM）、X射线衍射（XRD）、光谱分析（XPS, EDS, Raman）等等，并详细阐述它们各自的原理、适用范围以及在解析材料结构和成分方面的独特贡献。这本书，不仅仅是理论的堆砌，更应是实践的指导，它可能还会涉及一些经典的实验案例，通过这些案例，读者可以更直观地感受到各种表征技术在解决实际材料问题中的力量。总之，我对这本书的期望极高，它应该是一本能够激发我学习热情、拓宽我学术视野、甚至在我未来的科研道路上扮演重要角色的指南。它承载着我对材料世界无尽的求知欲，我迫不及待地想翻开它，开始这场精彩的探索之旅。
评分我一直在寻找一本能够系统性地梳理材料表征手段，并深入剖析其应用的书籍，而《Characterization of Materials》似乎正是我梦寐以求的那一本。我能想象到，这本书的内容必然是极其丰富的，它不会仅仅停留在对单一表征技术的介绍，而是会展现出一种全局观。它可能会从宏观层面开始，例如材料的力学性能、热学性能、电学性能等，然后逐步深入到微观结构，解释这些宏观性能是如何由原子、分子层面的结构所决定的。紧接着，它会详细介绍各种能够探测量子层面的技术，例如X射线衍射、中子衍射等，阐述它们如何揭示晶体结构、位错、晶界等缺陷。随后，它可能会转向电子显微镜家族，如透射电子显微镜（TEM）和扫描电子显微镜（SEM），详细介绍它们在成像、元素分析（EDS）和电子能量损失谱（EELS）等方面的强大功能，以及如何通过这些技术观察纳米结构、相分布等。更令人期待的是，我希望书中能对表面科学的表征技术，如X射线光电子谱（XPS）和俄歇电子能谱（AES）等有深入的探讨，因为表面性质在很多材料应用中都至关重要。这本书，应该是一部材料科学的百科全书，它将各种表征技术如同拼图一样，一块块地呈现出来，并展示出它们如何共同构建起我们对材料的全面认知。
评分这本书的标题《Characterization of Materials》就极具吸引力，因为它直接触及了材料科学的核心问题——如何认识和理解材料。我个人对这本书的期待是，它能够提供一个全面且深入的视角来审视材料的内在属性。我猜想，书中会从最基础的层面开始，介绍构成材料的基本单元，比如原子、分子，以及它们之间的相互作用。然后，它会逐步过渡到更高层次的结构，如晶体结构、非晶结构、以及各种缺陷的存在。我特别希望书中能详细介绍各种表征技术，不仅仅是列出名称，而是要深入阐述每一种技术背后的物理原理、光学原理、电磁原理等，解释它们是如何与材料的特定属性相互作用并产生可测量信号的。例如，在讲解光学显微镜时，我期待它会详细解释不同照明方式（明场、暗场、相衬、微分干涉）的工作原理，以及如何利用这些技术来观察材料的微观形貌和组织结构。在谈及光谱技术时，我希望它能深入浅出地解释不同谱峰的来源，以及如何通过谱图分析来确定材料的化学成分、价态和化学键状态。这本书，应该是材料表征技术的“武林秘籍”，它将教会我如何运用各种“武器”去探索材料的奥秘。
评分《Characterization of Materials》这本书，从书名来看，就透露出一种科学的严谨和对材料本质的探求。我期待这本书能够像一位经验丰富的向导，带领我穿越纷繁复杂的材料世界，认识材料的“真面目”。我设想，书中会从基础理论出发，系统地介绍各种材料表征方法，并对每种方法进行深入浅出的讲解。例如，在介绍X射线衍射时，我希望能看到其基本原理、衍射图谱的解析方法，以及如何利用它来确定材料的晶体结构、相组成和晶粒尺寸。在讲解电子显微镜时，我期望书中能详细阐述SEM和TEM的工作原理、成像模式以及在微观形貌、晶体缺陷和界面分析方面的应用。更让我期待的是，我希望书中能涵盖一些非破坏性或半破坏性的表征技术，如红外光谱、拉曼光谱、核磁共振等，并解释它们如何用于分析材料的化学键、分子结构和相变。这本书，不仅是技术的汇集，更是一种科学思维的培养，它将教会我如何选择最合适的工具来解决具体的问题，如何从实验数据中提取有价值的信息，并最终理解材料的内在奥秘。
评分这本书的题目《Characterization of Materials》本身就充满了吸引力，它暗示着一本能够帮助我们深入理解材料本质的书籍。我脑海中勾勒出的画面是，这本书会像一个博学的向导，带领我一步步探索材料世界的奥秘。我期待它能够涵盖广泛的材料表征技术，并且对每一种技术都进行详尽的阐述。例如，在介绍光学显微镜时，我希望能看到不同类型的显微镜，如正置显微镜、倒置显微镜、金相显微镜等的原理和适用范围，以及如何通过制样技术来获得高质量的显微图像。在谈及X射线衍射时，我期望它能详细解释晶体学的基本概念，如晶系、晶面、晶向等，以及如何通过X射线衍射来确定材料的晶体结构、晶格参数和相组成。更让我期待的是，我希望书中能对各种先进的表征技术，如电子能量损失谱（EELS）、能量色散X射线光谱（EDS）等有深入的讲解，并阐述它们在材料成分分析、化学态分析以及形貌表征方面的独特优势。这本书，应该是一本集理论、实验和应用为一体的宝典，它将为我打开一扇通往材料世界的大门。
评分拿到《Characterization of Materials》这本书，我首先感受到的是其严谨的学术态度。从书的装帧设计到字里行间的遣词造句，都透露出一种精益求精的精神。我设想，这本书的作者必定是行业内的资深专家，他们不仅掌握了丰富的理论知识，更有着深厚的实践经验。我期待书中能够详细介绍各种材料表征技术的基本原理，并且会清晰地解释每种技术是如何工作的。例如，在讲解X射线衍射时，我希望能看到详细的衍射图谱解析过程，以及如何根据图谱信息判断材料的晶体结构、晶粒尺寸和内应力。在介绍电子显微镜时，我希望能看到高质量的显微图像，并了解如何通过图像分析来评估材料的微观形貌、颗粒分布以及相界面的结构。同时，我也期待书中能够涵盖一些先进的表征技术，比如同步辐射技术、原子探针断层扫描（APT）等，并阐述它们在研究纳米材料、复合材料等前沿领域中的重要作用。此外，我希望书中能够包含大量的案例研究，通过真实的实验数据来展示各种表征技术的应用价值，并分析如何从实验结果中获得有意义的信息。这本书，对我来说，不仅是知识的获取，更是一种思维方式的启迪，它将带领我以更加科学、严谨的态度去认识和理解材料。
评分《Characterization of Materials》这本书，在我看来，不应只是一个技术的罗列，而更像是一个故事的讲述，一个关于材料如何被“读懂”的故事。我期待书中能够充满启发性的内容，它不仅仅是告诉你“做什么”，更会引导你思考“为什么这么做”以及“这样做的意义何在”。我设想，在介绍每一种表征技术时，作者都会首先阐述其发展历程和解决过的关键科学问题，让读者感受到这项技术的历史厚重感和现实意义。例如，在讲解X射线技术时，我希望能看到早期X射线衍射在揭示DNA双螺旋结构中的关键作用，或者X射线成像在医学诊断中的广泛应用。在谈及扫描探针显微镜（SPM）时，我期望它能详细描述原子力显微镜（AFM）如何首次实现了原子级别的三维成像，以及扫描隧道显微镜（STM）如何让我们得以窥视电子的量子世界。这本书，应该是将抽象的科学原理与生动的实验场景相结合，通过引人入胜的叙述，让读者对材料表征技术产生浓厚的兴趣，并从中体会到科学探索的乐趣。
评分这是一本绝对能够激发思考的著作，光是目录就已经让我脑洞大开。它不仅仅是在罗列各种材料表征的技术，我感觉它是在探讨一种“理解”材料的哲学。书名《Characterization of Materials》看似直白，实则蕴含深意。它不是简单地告诉你“是什么”，而是引导你去思考“为什么是这样”以及“如何才能知道是这样”。我脑海中浮现出，书中可能会循序渐进地解析不同的表征方法，但重点绝非技术操作的细节，而是每一种方法背后所蕴含的物理原理和化学思想。例如，在介绍衍射技术时，它或许会深挖布拉格定律的精髓，不仅仅是公式的呈现，而是会深入阐述晶体结构的周期性与衍射现象之间的必然联系，甚至可能触及傅里叶变换等更深层次的数学工具。在讨论光谱技术时，我期待它能清晰地解释电子跃迁、振动模式等概念，并生动地描绘出不同元素、不同化学键是如何在光谱图上留下独特的“指纹”。这本书，应该是一种引导，它鼓励读者不仅仅是被动地接受信息，而是主动地去构建对材料的认知体系。它可能还会提出一些开放性的问题，比如如何选择最合适的表征技术来解决特定的材料问题，如何从多方面的信息中提炼出最关键的结论，以及如何将微观的结构信息与宏观的性能联系起来。这种引导性的写作风格，无疑会让我更加投入，仿佛置身于一场与作者的深度对话，共同探索材料世界的奥秘。
评分 评分 评分 评分 评分相关图书
本站所有内容均为互联网搜索引擎提供的公开搜索信息，本站不存储任何数据与内容，任何内容与数据均与本站无关，如有需要请联系相关搜索引擎包括但不限于百度，google,bing,sogou 等
© 2026 book.wenda123.org All Rights Reserved. 图书目录大全 版权所有