Scanning Auger Electron Microscopy

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出版者:John Wiley & Sons Inc
作者:Prutton, M. (EDT)/ El Gomati, Mohamed M. (EDT)
出品人:
页数:384
译者:
出版时间:2006-5
价格:1120.00 元
装帧:HRD
isbn号码:9780470866771
丛书系列:
图书标签:
  • Scanning Auger Microscopy
  • Auger Electron Spectroscopy
  • Surface Analysis
  • Materials Science
  • Nanotechnology
  • Vacuum Technology
  • Electron Microscopy
  • Surface Chemistry
  • Thin Films
  • Microscopy Techniques
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具体描述

This eagerly-awaited volume has been edited by two academic researchers with extensive and reputable experience in this field. Emphasis is given to the underlying science of the method of Auger microscopy, and its instrumental realization, the visualization and interpretation of the data in the sets of the images that form the output of the measurements and the methods used to quantify the images. Imaging artefacts in Auger microscopy and methods to correct them are also detailed. The authors describe the technique of Multi-Spectral Auger Microscopy (MULSAM) and demonstrate its advantages in mapping complex multi-component surfaces. The book concludes with an outlook for the future of Auger microscopy.

这本书详细介绍了扫描电子显微镜技术中的一种先进方法——Auger电子光谱分析,这是一种能够深入探索材料表面及其化学组成的高精度分析手段。内容系统地阐述了该技术的基本原理和操作流程,详细解释了如何通过检测特定能量的Auger电子来获取关于样品表面元素和结构信息。书中不仅介绍了理论基础,还结合实验案例,展示了在不同材料和应用场景下,该方法的实际操作技巧和优化策略,为读者提供全面而实用的知识框架。 作者深入分析了Auger电子光谱技术的优势,包括其高灵敏度、高分辨率以及对微小区域的高精确测定能力。书中还详细介绍了仪器选型、样品处理及数据解析方法,使读者能够更好地理解技术细节和实际应用中的注意事项。此外,内容涵盖了该技术在材料科学、纳米技术以及表面分析领域的重要性,探讨了其对研究进展和工业应用的推动作用。 书中不仅注重理论知识的传授,还通过大量图示、实验步骤和数据对比,让读者能够直观地掌握相关概念和操作流程。作者特别强调该技术在不同材料类型中的适用性,从金属到半导体,再到复合材料,均有详细论述。书中还引入了最新的研究进展和前沿应用,例如环境监测、生物样品分析以及纳米结构表征等,让读者了解该领域的动态变化与发展趋势。 在实际操作方面,书籍提供了丰富的实验设计建议和数据处理技巧,帮助读者更好地理解并利用此技术进行科学研究或工程验证。通过系统化的内容安排,这本书不仅是一份技术指南,更是一个全面的学习资源,旨在提升读者对Auger电子光谱方法的认识与应用能力。 这本书的内容经过精心整理,适合科研人员、实验师以及相关领域的学生所需阅读。它不仅涵盖了从基础理论到高级应用的各个方面,还强调了实践操作的重要性,确保读者在学习过程中能够获得实际可行的方法和技巧。这是一本内容详实、结构清晰的著作,适合希望深入了解并掌握现代表面分析技术的专业人士。 通过这部书,读者将能够全面理解Auger电子光谱技术的原理与应用价值,并在实际研究中灵活运用,推动相关领域的创新发展。内容设计注重逻辑性和实用性,不仅丰富了理论知识,也提升了读者对实验操作的自信心。这是一本兼顾学术深度与实践指导的高质量资源。

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