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Digital Noise Monitoring of Defect Origin

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Aliev, Telman 作者
Springer Verlag
译者
2007-7 出版日期
237 页数
$ 202.27 价格
HRD
丛书系列
9780387717531 图书编码

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发表于2025-01-12


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Digital Noise Monitoring of Defect Origin 在线电子书 图书描述

This book explores the initial stage of the origin of the defect taking into account technical, biological, and other features of several technologies. These technologies allow the defect monitoring at the beginning of the defect origin to be performed at the expense of extracting information from the noise. This book appeals to a wide audience focused on solving numerous problems.

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