测试智能信息处理

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出版者:
作者:王雪
出品人:
页数:545
译者:
出版时间:2008-1
价格:55.00元
装帧:
isbn号码:9787302165750
丛书系列:
图书标签:
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《清华大学测控技术与仪器系列教材·测试智能信息处理》介绍了测试系统的组成、特点以及信号测量处理的过程,给出了数据融合的基本方法,重点介绍了测试智能计算的基础理论和方法。具体内容包括测试系统的组成和信息获取的过程、智能计算的产生和发展、数据融合的基本原理;神经网络计算的基础、神经计算的基本方法、神经计算的实现技术和支持向量机;模糊计算中的模糊逻辑与模糊推理、模糊计算应用和粗糙集;进化计算中的遗传算法、粒群智能、蚁群智能等方法和实例。

智能计算是测试智能信息处理的核心技术,是目前多学科研究和应用的热点,涉及测试技术、电子技术、计算机技术、控制技术等,具有广泛的应用前景。测量技术是信息处理的关键和基础。

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