自动测试系统

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出版者:高等教育
作者:秦红磊
出品人:
页数:420
译者:
出版时间:2007-10
价格:41.60元
装帧:
isbn号码:9787040222579
丛书系列:
图书标签:
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《自动测试系统:硬件及软件技术》以自动测试系统涉及的硬件、软件和下一代自动测试系统信息框架技术为主要内容,共分为三篇,分别对自动测试系统的总线技术、软件技术及下一代自动测试系统信息框架技术进行了深入和详细的阐述。总线技术内容包括计算机通用总线技术、GPIB总线技术、VXI和MXI-2总线技术、PXI总线技术、LXI总线技术;软件技术包括计算机通用软件技术、自动测试系统软件开发环境、自动测试系统通用测试语言、自动测试系统仪器控制软件;下一代自动测试系统信息框架技术包括NxTestATS技术、ABBET体系结构、核心测试信息模型、测试基础框架、ABBET资源管理、AI-ESTATE规范。该书可以帮助读者快速、深入地了解自动测试系统的软、硬件技术的基础知识和未来发展趋势。

《自动测试系统:硬件及软件技术》既可作为高等学校工科有关专业的本科、研究生教材或专业技术培训教材,也可作为从事自动测试系统的开发、研制、生产的工程技术人员的参考书。

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