第1章 混閤信號測試概況 1.1 混閤信號電路 1.2 為什麼要進行混閤信號器件測試 1.3 製造流程的後工藝 1.4 測試和診斷設備 1.5 新産品開發 1.6 混閤信號測試麵臨的挑戰 習題 參考文獻第2章 測試規範 2.1 器件數據文件 2.2 製定測試計劃 2.3 測試程序的組成 2.4 小結 習題 參考文獻第3章 直流和參數測試 3.1 連接性 3.2 漏電流 3.3 電源電流 3.4 DC參考電壓和調節器 3.5 阻抗測量 3.6 DC偏移測量 3.7 DC增益測量 3.8 DC電源抑製比 3.9 DC共模抑製比 3.10 比較器DC測試 3.11 電壓搜索方法 3.12 數字電路的DC測試 3.13 小結 習題 參考文獻第4章 測量精度 4.1 術語 4.2 校準和檢查 4.3 測量誤差的處理 4.4 基本數據分析 4.5 小結 習題 參考文獻第5章 測試儀硬件 5.1 混閤信號測試儀概況 5.2 DC源 5.3 數字子係統 5.4 AC源和測量 5.5 時間測量係統 5.6 計算硬件 5.7 小結 習題第6章 采樣理論 6.1 采用DSP進行模擬電路測量 6.2 采樣和重構 6.3 重復采樣集 6.4 采樣係統同步 6.5 小結 習題 參考文獻第7章 基於DSP的測試 7.1 基於DSP測試的優點 7.2 數字信號處理 7.3 離散時間變換 7.4 反嚮FFT 7.5 小結 附錄A.7.1 相乾采樣信號的傅裏葉級數錶達式 習題 參考文獻第8章 模擬通道測試 8.1 概述 8.2 增益和電乎測試 8.3 相位測試 8.4 失真測試 8.5 信號抑製測試 8.6 噪聲測試 8.7 模擬通道測試的模擬 8.8 小結 習題 參考文獻第9章 采樣通道測試 9.1 概述 9.2 采樣考慮 9.3 編碼和解碼 9.4 采樣通道測試 9.5 小結 習題 參考文獻第10章 聚焦校準 10.1 概述 10.2 直流校準 10.3 交流振幅校準 10.4 其他的交流校準 10.5 誤差消除方法 10.6 小結 習題第11章 DAC測試 11.1 轉換器測試基礎 11.2 基本DC測試 11.3 轉換麯綫測試 11.4 動態DAC測試 11.5 DAC結構 11.6 通常DAC應用的測試 11.7 小結 附錄A.11.1 DAC特徵化的MATLAB程序 習題 參考文獻第12章 ADC測試 12.1 ADC測試與DAC測試 12.2 ADC代碼邊沿的測量 12.3 直流測試和轉換麯綫測試 12.4 動態ADC測試 12.5 ADC結構 12.6 常規ADC應用的測試 12.7 小結 習題 參考文獻第13章 DIB設計 13.1 DIB基礎 13.2 印製電路闆 13.3 DIB引綫、屏蔽和保護 13.4 傳輸綫 13.5 接地和電源的分布 13.6 DIB組件 13.7 常見的DIB電路 13.8 常見的DIB錯誤 13.9 小結 附錄A.13.1 迴顧：RC和RL濾波器 習題 參考文獻第14章 可測試性設計 14.1 概述 14.2 Dfr的優點 14.3 數字掃描 14.4 數字BIST 14.5 混閤信號電路的數字DfT 14.6 混閤信號邊界掃描和BIST 14.7 adhoc混閤信號電路DfT 14.8 精巧的模擬電路DfT形式 14.9 1bm 14.10 小結 附錄A.14.1 DfF清單 習題 參考文獻第15章 數據分析 15.1 數據分析簡介 15.2 數據可視化工具 15.3 統計分析 15.4 統計過程控製 15.5 小結 習題 參考文獻第16章 測試經濟學 16.1 收益因素 16.2 接測試成本 16.3 診斷技巧 16.4 新的趨勢 16.5 小結 習題 參考文獻部分習題答案術語錶
· · · · · · (收起)