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Defects in Microelectronic Materials and Devices

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Fleetwood, Daniel/ Pantolides, Sokrates/ Schrimpf, Ronald D. 作者
译者
出版日期
770 页数
1258.00 元 价格
丛书系列
9781420043761 图书编码

Defects in Microelectronic Materials and Devices 在线电子书 图书标签: 半导体   


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发表于2024-12-24


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Defects in Microelectronic Materials and Devices 在线电子书 图书描述

Uncover the Defects that Compromise Performance and Reliability

As microelectronics features and devices become smaller and more complex, it is critical that engineers and technologists completely understand how components can be damaged during the increasingly complicated fabrication processes required to produce them.

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