现行光学元件检测与国际标准

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出版者:
作者:
出品人:
页数:302
译者:
出版时间:2009-7
价格:50.00元
装帧:
isbn号码:9787030250834
丛书系列:
图书标签:
  • 科学 
  • 技术 
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《现行光学元件检测与国际标准》重点介绍了光学元件检测领域的近期进展、方法、技术和需求。全书共10章,主要论述了现代光学的发展对光学元件检测的需求;计量概念与误差及精度的必要知识;光学元件检测基础;光学元件的参数检测和性能检测的现行技术,侧重对特殊元件、光学表面面形、表面缺陷及表面粗糙度等内容的叙述;介绍了光学元件技术要求和检测要求的国际标准(ISO10110)的最新内容和相关的辅助资料。《现行光学元件检测与国际标准》附录汇总了光学检测中4个常用的资料及相关的参考书籍。

《现行光学元件检测与国际标准》可供从事光学、光学工程(尤其光学制造技术与检验)的科技人员与工艺技术人员参考,也可供大专院校有关专业的师生阅读。

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