Euv, X-Ray, and Gamma-Ray Instrumentation for Astronomy

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出版者:Society of Photo Optical
作者:Oswald H. W. Siegmund
出品人:
页数:0
译者:
出版时间:1990-11
价格:USD 70.00
装帧:Paperback
isbn号码:9780819404053
丛书系列:
图书标签:
  • 天文学
  • 仪器
  • X射线
  • 伽马射线
  • EUV
  • 观测
  • 探测器
  • 空间望远镜
  • 高能天体物理
  • 天体物理
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具体描述

这本书系统地介绍了光谱仪在天文学中的重要应用及其发展历程。从早期的探索到现代高精度仪器,作者详细描述了不同波段光的收集与分析技术。这一过程中,许多科学家提出了关键理论和方法论,为后续研究奠定了坚实基础。书中不仅涵盖了Euv、X-Ray和Gamma-Ray这三种重要的辐射类型,还详细阐述了它们在天体物理学中的具体意义。 内容丰富,逻辑清晰,每一章节都紧密围绕仪器设计与应用进行,作者对各类光谱仪的原理、制造工艺和使用案例有深入探讨。从初始设备的构造到高能辐射探测的最新技术,不同领域的研究进展被系统地呈现,使读者能够全面了解这些工具在科学探索中的关键作用。 书中还特别注重对科研人员和学生的实际指导,提供了丰富的实验案例和数据分析方法。这些内容不仅帮助读者理解理论知识,更为他们操作和优化仪器性能提供了实用建议。此外,作者引用了众多知名天文学研究成果,使得书本内容更具权威性和参考价值。 对于希望掌握光谱技术基础及其应用的专业人士来说,这一书是一份全面且深入的学习资源。每个章节都经过精心编排,既适合理论学习,也能为实践操作提供有力支持。无论是新手入门还是资深研究者继续探索,书中都为读者打开了广泛的视野。 总体而言,这本书以专业性和细致度著称,内容覆盖面广,结构严谨,适合各个层次的读者深入学习天文学与光谱仪研究的相关知识。通过详尽的描述和实际案例分析,本书为探索宇宙奥秘提供了有力工具和参考依据。在现代天文学快速发展的背景下,这一书的重要性愈加凸显。

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