实用X射线光谱分析

实用X射线光谱分析 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:原子能出版社
作者:杨明太.任大鹏
出品人:
页数:253
译者:
出版时间:2008-11-1
价格:46.00元
装帧:平装
isbn号码:9787502242664
丛书系列:
图书标签:
  • 专业
  • x
  • X射线光谱分析
  • 材料分析
  • 光谱学
  • X射线
  • 元素分析
  • 表面分析
  • 分析化学
  • 物理化学
  • 材料科学
  • 无损检测
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具体描述

《实用X射线光谱分析》是介绍X射线光谱分析技术的综合性参考书。《实用X射线光谱分析》共分三篇十一章,分别对X射线光谱分析的基本原理、X射线物理、X射线荧光光谱分析、全反射X射线荧光光谱分析、质子激发X射线光谱分析和电子探针显微分析作了全面的介绍。讲述了在实际应用中需掌握的基本理论和必要的数学公式,另外,还介绍了X射线光谱分析的常用分析方法和应用成果,简述了该领域的新技术和新进展。

《实用X射线光谱分析》从实用角度出发,不求内容的完备高深,但求简捷实用为主要目的。《实用X射线光谱分析》可供从事X射线光谱分析之工作者使用,亦可为有关部门和仪器研制人员提供参考。

作者简介

目录信息

第一篇 X射线光谱分析基础
第一章 X射线物理学基础
§1.1 X射线光谱分析的发展简史
§1.2 X射线
§1.3 X射线的产生
§1.4 X射线谱
§1.5 X射线与物质的相互作用
§1.6 X射线荧光强度的理论计算
参考文献
第二章 X射线光谱分析概述
§2.1 术语
§2.2 X射线光谱分析的基本原理与特点
§2.3 X射线光谱仪的分类
§2.4 X射线光谱分析的现状与发展
参考文献
第三章 特征X射线的激发
§3.1 概述
§3.2 X射线管激发
§3.3 放射源激发
§3.4 加速粒子激发
§3.5 不同激发方式的性能比较
参考文献
第二篇 X射线荧光光谱分析
第四章 波长色散X射线荧光光谱分析
§4.1 概述
§4.2 X射线的波长色散(晶体分光)
§4.3 探测
§4.4 测量
§4.5 谱仪性能测试
§4.6 波长色散X射线荧光光谱仪现状及其应用
参考文献
第五章 能量色散X射线荧光光谱分析
§5.1 概述
§5.2 谱仪基本结构
§5.3 滤波选择
§5.4 二次激发
§5.5 探测器
§5.6 能谱采集
§5.7 WDXRF谱仪与EDXRF谱仪的区别
§5.8 谱仪性能测试
§5.9 能量色散X射线荧光光谱仪的现状及其应用
参考文献
第六章 样品制备
§6.1 概述
§6.2 固体块样的制备
§6.3 粉末样的制备
§6.4 熔融样的制备
§6.5 溶液样的制备
§6.6 特殊样品的制备
参考文献
第七章 定性分析和半定量分析
§7.1 概述
§7.2 定性分析
§7.3 半定量分析
参考文献
第八章 定量分析
§8.1 概述
§8.2 外标法
§8.3 内标法
§8.4 增量法
§8.5 数学校正法
§8.6 波长色散谱仪定量分析条件的设定
§8.7 能量色散谱仪定量分析条件的设定
§8.8 X射线荧光光谱定量分析中的不确定度
参考文献
第三篇 其它X射线光谱分析
第九章 全反射X射线荧光光谱分析
§9.1 概述
§9.2 TXRF基本原理和装置
§9.3 全反射X射线荧光光谱仪
§9.4 全反射X射线荧光分析的基本特点
§9.5 全反射X射线荧光光谱分析的应用与展望
参考文献
第十章 电子探针显微分析
§10.1 概述
§10.2 仪器构造与工作原理
§10.3 电子探针显微分析仪的分析方法及应用
§10.4 电子探针显微分析仪性能测试
参考文献
第十一章 质子激发X射线光谱分析
§11.1 概述
§11.2 质子激发X射线光谱分析装置
§11.3 质子静电加速器
§11.4 PIXE真空分析靶室
§11.5 PIXE非真空分析装置
§11.6 PIXE分析样品制备
参考文献
附录
附录1 K壳层临界及激发能和K系特征X射线能量
附录2 K壳层I临界吸收限和K系特征X射线波长
附录3 K系特征X射线相对强度和K壳层荧光产额
附录4 L壳层临界激发能和L系特征X射线能量
附录5 L壳层临界吸收限和L系特征X射线波长
附录6 L系特征X射线相对强度和壳层平均荧光产额
附录7 M系特征X射线波长
附录8 M系特征X射线能量
· · · · · · (收起)

读后感

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用户评价

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这本书最大的问题在于其时代局限性,它似乎完全“遗忘”了过去三十年间X射线光谱技术所发生的翻天覆地的变化。例如,关于数据采集和处理的部分,作者还沉浸在传统的单道扫描模式中,对现代多道同时计数技术(MCA)的优势和应用几乎没有提及。对于我们日常使用的基于FP(傅里叶变换)的X射线技术,这本书更是只字未提,这使得书中的方法论显得异常笨拙和低效。在计算和校准方面,全书依然大量依赖手动查表和基础线性回归,完全没有涉及现代光谱分析中常用的多元校正模型、主成分分析(PCA)或是更先进的峰拟合算法(如Voigt函数拟合)。对于一个身处信息爆炸时代的学习者而言,阅读这本侧重于“体力劳动”的分析方法论的书籍,很难产生兴奋感,因为它无法提供任何关于如何利用现代计算资源来加速和优化分析过程的视角。它更像是一个历史文献,而不是一本指导未来研究的工具书。

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这本书的包装设计实在是太复古了,封面那种老式技术手册的排版风格,让人不禁想起那些在昏暗灯光下,用放大镜仔细研究图谱的年代。拿到书的时候,就能感受到纸张那种略带粗糙的质感,闻起来还有一股淡淡的油墨味,这种情怀分我给满分。不过,内容上嘛,我得说,它更像是一本给资深研究人员的“旧时宝典”,而不是给初学者准备的入门指南。里面对一些基础理论的讲解,比如X射线的产生机制和不同衍射角下的强度变化规律,讲得非常深入,但对我们这些刚接触这个领域的人来说,简直是天书。我翻阅了前几章,感觉作者假定读者已经对晶体学和量子力学有相当的了解,很多公式推导过程直接省略了,直接给出了结论。对于想要快速上手操作或者了解现代分析软件应用的人来说,这本书可能不是最佳选择,它更适合那些想从最底层的物理原理上去深挖X射线光谱技术根基的老学者,或者准备撰写深度综述性论文的博士生。我期望看到更多关于现代能谱仪(如EDS或WDS)的实际操作步骤和常见误差源的分析,但这本书似乎更专注于理论构建和历史回顾。

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这本书的排版和图表质量,坦白地说,在21世纪的今天来看,简直是一场视觉灾难。很多关键的谱图,尤其是那些用于区分不同物相的特征峰图,分辨率低得令人发指,很多本应清晰区分的重叠峰,在打印出来后几乎融为一体。我不得不经常对照着书中的图号,去网上搜索原文献的图片来核对信息,这极大地浪费了我的时间。此外,书中的很多表格数据,似乎是手工录入的,偶尔还能发现一些明显的转录错误,比如某个元素特征峰的波长值与国际标准值相差甚远。这对于一本严肃的科学著作来说,是不可容忍的疏忽。我希望看到的是那种线条清晰、色彩准确的图表,能够直观地展示数据背后的物理意义,而不是这种模糊不清、需要“自行脑补”的视觉呈现。阅读体验被这些低质量的插图严重拉低,让人很难保持专注,同时也对作者所阐述的某些结论的可靠性产生了疑虑。

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作为一本声称“实用”的工具书,这本书在实际应用案例的呈现上显得有些力不从心。我花了大量时间去寻找关于特定材料分析的详细流程,比如如何快速识别合金中的微量杂质,或者在半导体材料中进行元素定量分析的具体步骤和常用标准物质。然而,书中的案例更偏向于五十年代左右的矿物学研究,很多分析结果的讨论都停留在定性的阶段,缺乏现代分析所要求的精密度和统计学验证。举个例子,书中描述了一个关于岩石薄片中金属元素分布的实验,但它仅仅通过不同峰强度的对比得出了结论,没有提及任何关于背景扣除算法的优化,也没有给出任何关于测量不确定度的评估,这在当前严谨的科研环境中是远远不够的。我真正需要的是那种能直接对应到我们实验室现役设备上,并且能指导我撰写规范实验报告的实用技巧,比如如何设置合适的加速电压以平衡信号强度和样品损伤,这本书在这方面的内容非常稀疏,更像是停留在概念介绍的层面,而不是操作手册。

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我尝试从作者的写作语气中寻找一些鼓舞人心的科研精神,但发现其表达方式过于枯燥和教条化。整本书读下来,就像是在阅读一份冗长、缺乏人情味的工程规范。缺乏对前沿科学问题的探讨和对未来技术趋势的展望,使得阅读过程显得异常沉闷。例如,在讨论样品制备时,作者只是罗列了“必须研磨到10微米以下”这类硬性要求,却从未深入探讨过不同研磨方法对表面微观形貌的影响,以及这种形貌差异如何系统性地影响到次级X射线的产额和测量结果。一个真正“实用”的指南,应当是能引导读者思考“为什么”以及“如何规避潜在陷阱”,而不仅仅是告知读者“该做什么”。这本书给人感觉,它只负责告诉别人船要怎么开,但却从未告诉水手这片海域下一场风暴可能在哪里,让人在面对真实、复杂的实验问题时,感到知识的“落地性”不足,缺乏解决实际工程难题的灵活性和深度指导。

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