Transmission Electron Microscopy

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出版者:
作者:Williams
出品人:
页数:822
译者:
出版时间:2009-8
价格:$ 168.37
装帧:
isbn号码:9780387765006
丛书系列:
图书标签:
  • 经典
  • 彩印
  • TEM
  • Transmission Electron Microscopy
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  • Microscopy
  • Physics
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具体描述

This profusely illustrated text on Transmission Electron Microscopy provides the necessary instructions for successful hands-on application of this versatile materials characterization technique. The new edition also includes an extensive collection of questions for the student, providing approximately 800 self-assessment questions and over 400 questions suitable for homework assignment.

《显微镜下的奇迹:微观世界的探索与发现》 在这本引人入胜的著作中,我们将踏上一段令人惊叹的微观世界之旅,深入探索那些肉眼无法触及的精妙结构与复杂运作。本书并非专注于某种特定的成像技术,而是以一种更为宏观和普遍的视角,描绘了人类如何运用各种工具,不断拓展对微观世界的认知边界,揭示生命、物质与宇宙的奥秘。 第一章:窥探之始——显微学的黎明 在显微镜诞生之前,人类对世界的认知局限于肉眼所能及的范围。微生物、细胞结构、物质的晶体形态……这一切都笼罩在神秘的面纱之下。本书将从早期显微镜的发明讲起,介绍那些伟大的先驱者,如列文虎克,如何用简陋的工具第一次“看见”了微小的生命体,开启了全新的科学领域。我们将回顾显微学发展的早期里程碑,探讨这些早期光学仪器的工作原理,以及它们如何彻底改变了生物学、医学和材料科学的进程。从对细菌和原生动物的观察,到对植物细胞和动物组织的初步了解,显微学的曙光照亮了科学探索的道路。 第二章:光学的极限与突破 随着科学的进步,人们发现光学显微镜在分辨率上存在固有的局限性。对更微小结构的渴望,促使科学家们不断寻求突破。本章将详细阐述光学显微镜的原理,包括其放大能力、分辨率的物理极限(瑞利判据),以及不同类型光学显微镜(如明场、暗场、相差、荧光显微镜)的工作特点与应用。我们将深入探讨如何通过改进透镜设计、光源技术和染色方法来提升光学显微镜的性能,尽管它们依然无法跨越衍射极限。同时,本章也将为后续章节中更为先进的成像技术奠定理论基础,强调了光学原理在任何显微成像中的核心地位。 第三章:超越光——电子的革命 当光学显微镜的潜力被挖掘殆尽时,一种全新的成像方式应运而生:利用电子束替代光束。本章将深入介绍电子显微镜的革命性意义,以及其基本工作原理。我们将详细解析电子的波粒二象性,以及电子束如何能够实现远高于光波长的分辨率。通过对比电子显微镜与光学显微镜的关键差异,突出电子束在成像过程中的能量、聚焦和探测方式。本章将为读者理解后续关于特定电子成像技术的章节打下坚实的理论基础,强调了电子作为一种成像介质的独特优势。 第四章:观察内部——扫描与透射的智慧 在电子显微镜领域,有两种基本的技术路线:扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)。本章将对这两种技术进行详细的对比分析。我们将分别阐述SEM的工作原理,包括电子束与样品的相互作用,以及如何通过探测二次电子、背散射电子等信号来构建高分辨率的表面形貌图像。随后,我们将深入讲解TEM的成像机制,聚焦于电子束穿过极薄样品后产生的衍射和散射,以及如何通过物镜和中间镜形成放大的图像。本书将详细解释这两种技术在样品制备、图像信息(形貌 vs. 内部结构)、分辨率和放大倍数上的差异,以及它们各自最适合的应用场景。 第五章:解析细节——衍射与晶体学 物质的内部结构,尤其是晶体材料的有序排列,是理解其性质的关键。本章将聚焦于电子衍射这一强大的分析工具,它在电子显微镜成像中扮演着至关重要的角色。我们将深入讲解晶体结构的基本概念,如晶格、晶面和倒易点阵。随后,我们将详细阐述电子束与晶体样品发生衍射的物理过程,以及如何通过分析衍射花样来确定样品的晶体结构、取向和相组成。本书将解释如何利用电子衍射技术来识别未知相,研究晶界、位错等晶体缺陷,为材料科学、矿物学和冶金学等领域提供不可或缺的分析手段。 第六章:能量与元素——光谱的洞察 在观察微观形貌的同时,了解样品中的元素组成和化学状态同样重要。本章将探讨与电子显微镜成像相结合的多种能谱分析技术。我们将详细介绍X射线能谱分析(EDX/EDS),解释电子束激发样品原子产生特征X射线,以及如何通过探测这些X射线的能量和强度来确定样品的元素种类和含量。此外,本章还将简要介绍俄歇电子能谱(AES)和电子能量损失谱(EELS)等其他能谱技术,阐述它们各自的原理、优势以及在元素分析和化学态研究中的应用。通过这些技术,我们可以深入了解材料的微观化学成分,揭示其性能与组成的内在联系。 第七章:活体世界的窗口——样品制备的艺术 无论是哪种显微成像技术,高质量的样品制备都是获取可靠结果的基石。本章将重点探讨各种样品制备技术,以及它们对最终成像质量的影响。我们将讨论用于光学显微镜的染色、切片、固定等技术,以及如何处理活体生物样品。随后,本章将深入介绍用于电子显微镜的复杂制备过程,包括固定、脱水、包埋、超薄切片(使用超微切片机)、冷冻干燥、金属镀膜等。我们将强调针对不同样品类型(生物组织、材料、粉末等)和不同成像技术,需要采用特定的制备策略,以最大限度地保留样品的信息,减少伪影,并确保样品能够承受真空环境和电子束的照射。 第八章:揭示动态——原位观察的可能 传统的显微成像往往只能捕捉静态的图像,而许多重要的科学过程是动态的。本章将探讨“原位观察”这一前沿领域,即在显微镜下直接观察样品在特定环境(如加热、冷却、受力、化学反应、电化学过程)下的实时变化。我们将介绍能够实现原位观察的各种实验装置和附件,以及如何设计实验来研究材料的相变、催化反应、电池充放电过程、生物细胞的生长和分裂等。通过原位观察,我们可以直接目睹微观尺度的动态过程,从而更深入地理解其机制和规律。 第九章:从二维到三维——立体重建的挑战 虽然许多显微镜主要提供二维图像,但对物体三维结构的理解至关重要。本章将深入探讨如何通过多角度成像或切片信息来重建样品的立体结构。我们将介绍诸如串行断层扫描(Serial Sectioning)结合电子显微镜,以及近年来兴起的断层扫描电子显微镜(TEM Tomography)和多视图扫描电子显微镜(Multi-view SEM)等技术。本书将详细阐述图像配准、三维建模和可视化等关键步骤,以及这些技术如何被应用于重建细胞器、病毒颗粒、纳米结构甚至复杂材料的完整三维形貌。 第十章:未来的前沿——创新与展望 科学的探索永无止境。本章将展望显微技术未来的发展方向和潜在的创新。我们将探讨更高分辨率成像技术的可能性,如球差校正电子显微镜在解析原子尺度结构上的突破。此外,我们还将关注人工智能在图像处理、分析和模式识别中的应用,如何加速科学发现。本章还将讨论新的成像模式、样品制备技术以及与其他学科(如光学、纳米技术、计算科学)的融合,预示着微观世界的研究将进入一个更加激动人心的时代。从对更精细结构的追求,到对动态过程的深入理解,再到三维空间的全面解析,显微技术的进步将持续推动我们对自然界基本规律的认知。 本书的目的是通过对显微科学各个方面的广泛介绍,激发读者对微观世界的探索热情。它将帮助读者理解我们是如何一步步揭开物质世界的神秘面纱,以及未来还有多少激动人心的发现等待着我们去探索。

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