Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials II

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出版者:
作者:Ewsuk, Kevin
出品人:
页数:490
译者:
出版时间:2007-7
价格:1142.00 元
装帧:
isbn号码:9780470184141
丛书系列:
图书标签:
  • Interfaces
  • Materials Science
  • Advanced Materials
  • Characterization
  • Control
  • Thin Films
  • Surface Science
  • Materials Engineering
  • Nanomaterials
  • Microscopy
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具体描述

This volume includes papers from the Second International Conference on Characterization and Control of Interfaces for High Quality Advanced Materials, and Joining Technology for New Metallic Glasses and Inorganic Materials (ICCCI2006) in Kurashiki, Japan, 2006. Interfaces are critically important to a broad spectrum of materials and technologies. This Proceedings of ICCCI 2006 features 71 peer-reviewed papers on interface characterization and control technology for materials synthesis, powder processing, composite processing, joining, and to control airborne particulates.

好的,这是一本关于先进材料界面结构、性质与精确调控的综合性专著的简介,旨在深入探讨构建高性能功能性材料的关键科学问题和前沿技术。 专著名称:《先进材料界面结构、性质与精确调控》 导言:界面——决定材料性能的“枢纽” 在当今的材料科学领域,单一均相材料的性能提升已接近物理极限。面向能源、信息、生物医学等尖端应用的需求,研究的焦点已无可争议地转向了材料的界面。界面,无论是固-固、固-液、固-气,还是晶界、孪晶界、相界,都充当了物质与能量传输、化学反应发生和电子结构重构的“枢纽”。这些界面区域的原子排列、缺陷密度、化学配位以及电子态的微观差异,直接决定了宏观尺度上材料的热力学稳定性、电荷传输效率、催化活性、机械韧性和光学响应等关键性能。 本专著聚焦于如何表征这些复杂界面的本质特征,并建立起从原子尺度到宏观性能的清晰关联,最终实现对界面进行精确设计与主动控制,以期突破现有材料性能的瓶颈。 第一篇:界面表征的维度与前沿技术 本篇系统梳理了理解界面结构和成分的先进表征手段,强调了多尺度、多模态数据融合的重要性。 第一章:超高分辨显微成像技术在界面分析中的应用 深入探讨透射电子显微镜(TEM)、扫描透射电子显微镜(STEM)的最新进展,特别是球差校正技术如何实现对异质结界面原子排列的直接成像。重点分析高角度环形暗场(HAADF)像、环形暗场(ADF)像以及低角度环形暗场(LAADF)像在区分轻元素与重元素、识别缺陷结构方面的互补性。同时,介绍同步辐射光源驱动的X射线衍射与成像技术,用于原位(in-situ)和非破坏性地探测界面在应力、温度或电场作用下的动态演变。 第二章:谱学技术揭示界面化学态与电子结构 详细阐述X射线光电子能谱(XPS)、俄歇电子能谱(AES)在界面化学价态分析中的应用,特别是如何通过表面敏感性区分不同层级的原子化学环境。引入X射线吸收精细结构(XAFS)和电子能量损失谱(EELS)——特别是利用EELS进行化学态成像和轨道填充分析——来揭示界面电荷转移、电子密度重构及晶格畸变对材料功能性的影响。 第三章:界面缺陷工程与表征 缺陷是界面的固有属性,也是调控功能的重要入口。本章着重讨论空位、间隙原子、位错环绕界面形成时的应力场分布,以及这些缺陷如何作为陷阱态或活性位点。内容涵盖如何利用深度能级瞬态光谱(DLTS)和光致发光(PL)谱对界面缺陷的能级位置进行精确测量和分类。 第二篇:功能性界面的构筑原理与性能关联 本篇将视角从表征转向设计,探讨如何基于基本物理化学原理,定向构筑具有特定功能的界面。 第四章:异质结中的能带调控与载流子动力学 系统分析p-n结、肖特基结以及多层异质结(如二维材料堆叠)中能带的相对取向(Type-I, Type-II, Type-III)。深入讨论界面势垒高度的精确预测模型,以及界面态密度(DOS)如何影响载流子的分离、传输和复合效率。在光电器件和热电器件中,界面对载流子“有效质量”和迁移率的调控机制被放在核心位置进行剖析。 第五章:界面催化活性与反应动力学 探讨在固-液或固-气界面上,催化剂的真实活性面(即界面)如何受限于电子结构和几何结构。分析表面原子配位环境的改变(如氧化态的调控)如何影响反应能垒。重点介绍通过表面形貌工程(如纳米结构暴露特定晶面)和界面电荷泵送效应,以增强界面催化反应的本征活性和选择性。 第六章:机械、热与电化学界面行为 研究界面在宏观力学性能中的“粘合剂”角色。从分子动力学模拟和原位拉伸测试的角度,分析界面处的应力集中与裂纹萌生机制。针对热管理应用,详述界面声子散射与热阻(Thermal Boundary Resistance, TBR)的微观机理,如何通过界面粗糙度或中间层调节实现热导率的优化。在电化学领域,关注电极/电解质界面的稳健性、界面阻抗的演变以及固态电解质界面的生长限制。 第三篇:界面调控的前沿策略与未来展望 本篇聚焦于实现界面性能定向优化的具体方法论和工程化挑战。 第七章:自组装与界面化学修饰技术 介绍利用分子间作用力(范德华力、氢键、π-π堆积)在基底上实现二维有序自组装的方法,用于构建结构清晰的分子层界面。详细阐述表面化学接枝、偶联剂处理以及单分子层(SAMs)技术,如何精确控制界面能和润湿性,进而影响膜的成核与生长。 第八章:动态界面工程与原位调控 强调材料性能的优化往往需要在工作条件下进行。探讨通过电场、光场或离子插层等外部刺激,实现界面的动态重构(Dynamic Reconfiguration)。例如,在忆阻器和相变材料中,界面缺陷的迁移和相的转变如何被精确激发和锁定,从而实现多稳态功能。 第九章:多尺度建模与人工智能辅助设计 总结从密度泛函理论(DFT)计算界面电子结构,到相场法(Phase Field)模拟宏观形貌演化的多尺度计算方法。引入机器学习和高通量计算平台,如何加速识别具有理想界面特性的新材料组合,并预测复杂多层结构中的界面耦合效应,从而指导实验合成。 结语:迈向智能与自适应界面材料 本专著旨在为材料科学家、化学家、物理学家以及工程师提供一个理解和掌控材料界面的全面框架。未来的挑战在于如何将这些原子级的精确调控能力,扩展到大面积、高稳定性的工业化制造中,最终实现对材料性能的实时、自适应控制,推动下一代先进功能材料的跨越式发展。

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