Advances in Imaging and Electron Physics pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:

作者:Hawkes, Peter W. (EDT)

出品人:

页数:440

译者:

出版时间:

价格:215

装帧:

isbn号码:9780123742186

丛书系列:

图书标签:

• Imaging
• Electron Physics
• Physics
• Materials Science
• Nanotechnology
• Microscopy
• Optics
• Spectroscopy
• Condensed Matter Physics
• Biophysics

好的，这是一份关于《Advances in Imaging and Electron Physics》之外的其他图书的详细简介，旨在提供一个丰富且深入的阅读选择。 --- 《微观结构解析：材料科学中的先进电子显微镜技术》 作者： 张伟，李明，王芳 出版社： 科学前沿出版社 页数： 约 1200 页 出版日期： 2023 年 11 月 ISBN： 978-7-5681-XXX-X 内容简介： 本书系统深入地探讨了在材料科学领域中应用最为广泛和前沿的电子显微镜技术，特别是针对透射电子显微镜 (TEM) 和扫描电子显微镜 (SEM) 的最新发展与应用。与专注于传统成像或光电子物理的著作不同，本书的核心聚焦于如何利用这些强大的工具，以前所未有的分辨率和灵敏度揭示从原子尺度到微米尺度的材料微观结构、缺陷演化以及界面行为。 第一部分：电子显微镜的理论基础与仪器发展 本部分首先回顾了电子光学的基础理论，包括电子束的产生、聚焦与偏转机制。重点阐述了现代高分辨透射电子显微镜（HRTEM）的关键组成部分，例如球差校正器的原理及其对图像质量的革命性影响。我们详细分析了像差对成像对比度的影响，并介绍了如何通过像差对焦（Defocus Series）来重建真实的原子结构。此外，对新一代低电压 SEM 和环境 SEM (ESEM) 的技术特性进行了深入剖析，强调了它们在分析非导电或易受损材料时的独特优势。 第二部分：定量分析技术与谱学方法 本卷的精髓在于其对定量分析技术的详尽介绍。我们不仅讨论了传统的能量色散X射线谱学（EDS）和波谱分析（WDS），还着重介绍了电子能量损失谱学 (EELS) 的前沿应用。EELS 被视为探究材料电子态、化学价态和局部电子结构的关键工具。书中包含大量的实例，展示如何通过EELS的共振边分析，精确确定纳米颗粒中金属元素的氧化态变化，或分析二维材料中的载流子行为。 此外，本书还收录了对环形暗场像 (ADF)、高角度环形暗场像 (HAADF) 的深度解析。我们详细解释了 Z-对比度成像的物理机制，并展示了如何利用 HAADF 图像来精确地定位和量化掺杂原子在晶格中的位置，这是理解新型催化剂和半导体异质结性能的关键步骤。 第三部分：先进材料的微观结构表征 本部分将理论与实践紧密结合，针对当前材料科学研究的热点，提供了详尽的案例研究： 1. 纳米材料与量子点： 探讨了如何使用 STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) 模式，特别是高角度暗场成像，来分析量子点尺寸分布的均匀性、表面缺陷以及核壳结构中的界面应力。我们特别关注了用于光电转换材料中的缺陷工程。 2. 能源材料： 深入分析了锂离子电池正负极材料的电化学反应过程中的结构演变。包括固态电解质与电极材料界面阻抗的微观成因，以及高镍正极材料在充放电循环中晶格氧失稳导致的结构重构。 3. 先进功能陶瓷与薄膜： 阐述了如何通过聚焦离子束 (FIB) 配合 TEM 准备技术，制备出高质量的 TEM 样品，从而研究薄膜外延生长过程中的位错密度、晶界结构以及多层膜体系的应力分布。我们详细介绍了如何利用电子衍射（Selected Area Electron Diffraction, SAED）和二维衍射图谱分析复杂氧化物中的磁性或铁电畴结构。 第四部分：原位（In-Situ）电子显微镜技术 这是本书最前沿的部分，聚焦于在真实工作条件下（如加热、应力加载、电化学反应或光照）观察材料动态行为的技术。书中详尽介绍了各种原位电镜支架的设计原理和操作规程，包括加热台、原位拉伸杆、电化学池等。我们通过多个实际案例，展示了如何捕捉材料断裂过程中的微裂纹萌生、迁移机制，以及催化剂表面在反应气氛下活性位点的实时变化。这种动态观察能力极大地深化了我们对材料性能起源的理解。 第五部分：图像处理、模拟与大数据关联 最后，本书讨论了如何从复杂的电镜数据中提取定量信息。我们涵盖了先进的图像处理技术，如非晶材料的结构解析、晶体缺陷的三维重构（例如使用对称性恢复算法），以及如何利用傅里叶变换技术从高分辨图像中提取晶格参数。此外，书中还探讨了密度泛函理论 (DFT) 计算如何与实验 EELS 数据进行对比验证，构建起实验观察与第一性原理模拟之间的桥梁。 读者对象： 本书适合材料科学、凝聚态物理、化学工程、纳米技术等领域的博士研究生、博士后研究人员、资深工程师以及相关领域的教师和科研工作者。虽然本书内容深入，但作者以清晰的叙事和丰富的图表，确保了即使是初次接触高级电子显微镜技术的读者也能有效掌握核心概念。 ---

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