具体描述
《电子元器件检测与选用速查宝典》主要介绍当前市场流行的电子元器件的种类特点、检测方法以及选用方法和实际应用。《电子元器件检测与选用速查宝典》将“图解”的特色融入到“手册”中，将目前市场上流行的电子产品中所应用的电子元器件按照功能特点划分成电阻器、电容器、电感器等几大类，然后在针对不同类型的电子元器件，采用“图解”的方式，依次介绍其实用检测方法和技巧。最后，再将该电子元器件的实际用途与实际电路进行关联，从而剖析该器件的选用方案和选用原则。同时配合大量实际典型电路从多角度、多层面为读者建立电子元器件的选用和应用方案。
书中资料齐全，实测数据翔实，是维修人员学习和维修过程中的速查宝典。
《电子元器件检测与选用速查宝典》可作为各职业院校教学的专业教材，也可作为维修人员的培训教材，同时还可供广大电子爱好者阅读使用。
《现代集成电路设计与应用指南》 内容简介 本书旨在为电子工程领域的专业人士、技术爱好者以及相关专业的学生提供一本全面、深入且极具实践指导意义的集成电路（IC）设计、选型与应用参考手册。本书跳脱出单纯的元器件基础知识介绍，聚焦于现代电子系统设计中最核心、最复杂的“大脑”——集成电路。 全书共分为六大部分，涵盖了从IC基础理论到前沿技术应用的完整知识体系，旨在帮助读者系统掌握现代电子系统设计的核心技能。 --- 第一部分：集成电路基础理论与半导体物理前沿 本部分为读者奠定坚实的理论基础，重点阐述了现代半导体器件的工作原理及其在集成电路中的实现方式。 1.1 半导体物理基础回顾与器件模型： 详细介绍了PN结、BJT（双极结型晶体管）和MOSFET（金属氧化物半导体场效应晶体管）的能带理论、载流子输运机制。重点剖析了当前主流的CMOS工艺下，晶体管的短沟道效应、亚阈值导通等现代物理现象对电路性能的影响，并引入了精确的BSIM模型及其参数提取方法。 1.2 集成电路制造工艺进阶： 深入探讨了从硅片制备到最终封装的全过程。涵盖了光刻（包括EUV极紫外光刻技术）、刻蚀、薄膜沉积、离子注入等关键工艺步骤。特别强调了先进封装技术（如2.5D/3D集成、Chiplet技术）对系统性能提升的决定性作用，并分析了这些工艺对电路设计规则（DRC）的约束。 1.3 噪声与可靠性分析： 系统介绍了集成电路中主要的噪声来源（热噪声、散粒噪声、闪烁噪声等）的建模与抑制技术。同时，深入探讨了集成电路的可靠性问题，包括电迁移（EM）、静电放电（ESD）防护电路的设计，以及高温、高湿环境下的寿命预测模型。 --- 第二部分：模拟与混合信号集成电路设计 本部分专注于处理连续信号的电路设计，这是实现传感器接口、电源管理和射频通信等功能的关键。 2.1 线性电路设计核心技术： 详细讲解了运算放大器（Op-Amp）的结构、频率补偿技术（如米勒补偿、零点/极点补偿），以及高精度、低功耗、宽带宽运放的设计方法。内容包括跨导放大器（OTA）、电流反馈放大器（CFA）的拓扑选择与性能优化。 2.2 关键模拟模块设计： 深入剖析了数据转换器（ADC和DAC）的架构选择。对Sigma-Delta（Σ-Δ）、流水线（Pipeline）、逐次逼近寄存器（SAR）等主流ADC架构的原理、量化噪声塑形、失真分析和实际电路实现进行了详尽的论述。同时，覆盖了低噪声放大器（LNA）、混频器、锁相环（PLL）等射频前端模块的设计挑战。 2.3 电源管理集成电路（PMIC）： 重点讲解了线性稳压器（LDO）和开关模式电源（SMPS，如Buck/Boost转换器）的设计。分析了环路稳定性分析（波特图法）、瞬态响应优化，以及在低压差（LDO）和高效率（SMPS）设计中的权衡取舍。 --- 第三部分：数字集成电路设计与验证 本部分聚焦于基于CMOS技术的数字逻辑电路设计流程，从抽象的算法到最终的版图实现。 3.1 硬件描述语言（HDL）与综合： 深入学习Verilog HDL和SystemVerilog，重点在于编写可综合（Synthesizable）的代码风格，避免使用会引入不可测逻辑的结构。详述了逻辑综合工具的工作原理，包括逻辑优化、寄存器精简和时序约束的设置。 3.2 异步与同步数字系统设计： 系统阐述了时序逻辑（寄存器、有限状态机FSM）的设计规范。重点讨论了时钟域交叉（CDC）问题，包括使用握手协议、异步FIFO（先进先出）缓冲区的正确设计，以避免亚稳态的发生。同时，引入了异步电路设计的基本概念和其在超低功耗场景下的应用潜力。 3.3 静态时序分析（STA）与验证： 详细解释了建立时间（Tsu）、保持时间（Thold）、时钟偏移（Skew）等关键时序参数的计算。本书提供了进行全面的静态时序分析（Setup/Hold Check）的方法论，并指导读者如何解读时序报告，并据此调整设计或约束。 3.4 低功耗数字设计技术： 介绍先进的低功耗技术，包括门控时钟（Clock Gating）、电源门控（Power Gating）、多阈值电压（Multi-Vt）设计以及动态电压与频率调节（DVFS）策略在数字IP中的应用。 --- 第四部分：高速信号完整性与电磁兼容性（EMC） 随着工作频率的提升，信号的传输线效应和系统级的EMC问题变得至关重要。 4.1 传输线理论与阻抗匹配： 从集总电路模型过渡到分布式电路模型。详细分析了特性的传输线理论，包括反射、驻波比（VSWR）和回波损耗（Return Loss）。讲解了各种端接技术（串联、并联、AC/DC端接）的选择与应用。 4.2 串扰分析与串扰抑制： 深入探讨了相邻走线之间的耦合电容和互感效应如何导致串扰（Crosstalk）。提供了间距、屏蔽层设计、差分对（Differential Pair）的设计规范，以最小化串扰对信号质量的影响。 4.3 功耗完整性（Power Integrity, PI）： 讨论了电源分配网络（PDN）的设计。重点分析了去耦电容（Decoupling Capacitor）的选择、布局和放置策略，以及如何通过平面电感和封装寄生参数来抑制电源噪声（SSN/Ground Bounce）。 4.4 EMC与辐射设计： 概述了EMI/EMC的基本标准和测试方法。重点指导PCB设计者如何通过地平面分割、屏蔽罩设计、滤波器布局等手段，确保产品符合国际电磁兼容性法规要求。 --- 第五部分：先进架构与新兴技术 本部分着眼于未来趋势，介绍当前最前沿、对系统性能提升最显著的集成电路技术。 5.1 片上系统（SoC）与IP核集成： 讲解了SoC的层次化设计流程，重点分析了片上总线架构（如AXI、AHB）的互连机制和仲裁策略。指导读者如何有效地集成第三方IP核，并管理跨越多个时钟域的复杂数据流。 5.2 内存技术与接口： 系统梳理了SRAM、DRAM（如DDR4/5）的内部结构、读写时序要求。详细分析了高速串行接口（如PCIe Gen5/6、USB 4.0）的物理层（PHY）设计要点，包括均衡技术（CTLE/DFE）和误码率（BER）测试方法。 5.3 人工智能加速器架构： 探讨了针对深度学习任务的特定计算单元（如MAC阵列）的设计。分析了脉冲神经网络（SNN）和类脑计算芯片的潜在优势与挑战。 --- 第六部分：设计流程自动化与工具链应用 本部分侧重于将理论应用于实践，指导读者熟练运用行业主流EDA工具完成完整的设计项目。 6.1 物理设计（Physical Design）流程： 详细介绍了从网表到GDSII流片的后端流程，包括布局规划（Floorplanning）、电源网络规划（Power Planning）、布局布线（Place & Route）的优化目标和约束设置。强调了设计规则检查（DRC）和版图验证（LVS/ERC）的重要性。 6.2 仿真与调试策略： 覆盖了瞬态仿真（如Spectre/HSPICE）、噪声仿真、Monte Carlo分析在设计验证中的应用。指导读者如何构建准确的仿真环境，特别是针对混合信号电路的仿真建模。 6.3 固件协同设计： 强调了硬件与固件的协同开发模式，讨论了JTAG/Debug接口的配置，以及如何利用固件调试工具来验证和优化底层硬件寄存器的访问逻辑。 --- 本书特点： 本书的编写风格力求严谨、逻辑清晰，避免使用过于口语化的表达。内容深度适中，既包含了理论推导，更侧重于工程实践中的实际问题和解决方案。通过大量的实例分析和流程指导，确保读者能够将所学知识直接应用于实际的集成电路开发项目中。本书是电子设计工程师从“搭建电路”迈向“设计芯片”的必备参考资料。
作者简介
目录信息
第1章 电阻器的检测与选用速查
1.1 固定电阻器的检测与选用方法速查
1.1.1 固定电阻器的种类及识别方法
1.1.2 普通固定电阻器的检测方法速查
1.1.3 熔断器的检测方法速查
1.1.4 排电阻器的检测方法速查
1.1.5 固定电阻器的选用方法速查
1.2 可变电阻器的检测与选用方法速查
1.2.1 可变电阻器的种类
1.2.2 可变电阻器的识别方法
1.2.3 可调电阻器的检测与选用方法速查
1.2.4 热敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.5 光敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.6 湿敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.7 气敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.8 压敏电阻器的检测与选用方法速查
第2章 电容器的检测与选用速查
2.1 固定电容器的检测与选用方法速查
2.1.1 固定电容器的种类及识别方法
2.1.2 固定电容器的检测方法速查
2.1.3 电解电容器的检测方法速查
2.1.4 固定电容器的选用方法速查
2.2 可变电容器的检测与选用方法速查
2.2.1 可变电容器的种类
2.2.2 单联可变电容器的检测方法速查
2.2.3 可变电容器的选用方法速查
第3章 电感器的检测与选用速查
3.1 固定电感器的检测与选用方法速查
3.1.1 固定电感器的种类及识别方法
3.1.2 色环电感器的检测方法速查
3.1.3 固定电感器的选用方法速查
3.2 可变电感器的检测与选用方法速查
3.2.1 可变电感器的种类
3.2.2 磁棒线圈的检测方法速查
3.2.3 微调电感器的检测方法速查
3.2.4 典型电感器的选用方法速查
第4章 二极管的检测与选用速查
4.1 二极管的种类及识别方法
4.1.1 二极管的种类
4.1.2 二极管的识别方法
4.1.3 二极管的主要参数
4.2二极管的检测方法速查
4.2.1 二极管的检测方法速查
4.2.2 稳压二极管的检测方法速查
4.2.3 发光二极管的检测方法速查
4.2.4 光敏二极管的检测方法速查
4.2.5 通过电压值判断二极管好坏的检测方法速查
4.2.6 通过电流值判断二极管好坏的检测方法速查
4.2.7 变容二极管的检测方法速查
4.2.8 双向触发二极管的检测方法速查
4.2.9 二极管在路的检测方法速查
4.3 二极管的选用方法速查
4.3.1 整流二极管的选用方法速查
4.3.2 稳压二极管的选用方法速查
4.3.3 发光二极管的选用方法速查
4.3.4 变容二极管的选用方法速查
4.3.5 检波二极管的选用方法速查
4.3.6 开关二极管的选用方法速查
4.3.7 光敏二极管的选用方法速查
第5章 晶体三极管的检测与选用速查
第6章 场效应晶体管的检测与选用速查
第7章 晶闸管的检测与选用速查
第8章 变压器的检测与选用速查
第9章 集成电路的检测与选用速查
· · · · · · (收起)
1.1 固定电阻器的检测与选用方法速查
1.1.1 固定电阻器的种类及识别方法
1.1.2 普通固定电阻器的检测方法速查
1.1.3 熔断器的检测方法速查
1.1.4 排电阻器的检测方法速查
1.1.5 固定电阻器的选用方法速查
1.2 可变电阻器的检测与选用方法速查
1.2.1 可变电阻器的种类
1.2.2 可变电阻器的识别方法
1.2.3 可调电阻器的检测与选用方法速查
1.2.4 热敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.5 光敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.6 湿敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.7 气敏电阻器的检测与选用方法速查
1.2.8 压敏电阻器的检测与选用方法速查
第2章 电容器的检测与选用速查
2.1 固定电容器的检测与选用方法速查
2.1.1 固定电容器的种类及识别方法
2.1.2 固定电容器的检测方法速查
2.1.3 电解电容器的检测方法速查
2.1.4 固定电容器的选用方法速查
2.2 可变电容器的检测与选用方法速查
2.2.1 可变电容器的种类
2.2.2 单联可变电容器的检测方法速查
2.2.3 可变电容器的选用方法速查
第3章 电感器的检测与选用速查
3.1 固定电感器的检测与选用方法速查
3.1.1 固定电感器的种类及识别方法
3.1.2 色环电感器的检测方法速查
3.1.3 固定电感器的选用方法速查
3.2 可变电感器的检测与选用方法速查
3.2.1 可变电感器的种类
3.2.2 磁棒线圈的检测方法速查
3.2.3 微调电感器的检测方法速查
3.2.4 典型电感器的选用方法速查
第4章 二极管的检测与选用速查
4.1 二极管的种类及识别方法
4.1.1 二极管的种类
4.1.2 二极管的识别方法
4.1.3 二极管的主要参数
4.2二极管的检测方法速查
4.2.1 二极管的检测方法速查
4.2.2 稳压二极管的检测方法速查
4.2.3 发光二极管的检测方法速查
4.2.4 光敏二极管的检测方法速查
4.2.5 通过电压值判断二极管好坏的检测方法速查
4.2.6 通过电流值判断二极管好坏的检测方法速查
4.2.7 变容二极管的检测方法速查
4.2.8 双向触发二极管的检测方法速查
4.2.9 二极管在路的检测方法速查
4.3 二极管的选用方法速查
4.3.1 整流二极管的选用方法速查
4.3.2 稳压二极管的选用方法速查
4.3.3 发光二极管的选用方法速查
4.3.4 变容二极管的选用方法速查
4.3.5 检波二极管的选用方法速查
4.3.6 开关二极管的选用方法速查
4.3.7 光敏二极管的选用方法速查
第5章 晶体三极管的检测与选用速查
第6章 场效应晶体管的检测与选用速查
第7章 晶闸管的检测与选用速查
第8章 变压器的检测与选用速查
第9章 集成电路的检测与选用速查
· · · · · · (收起)
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