可靠性与可测性分析设计

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作者简介

丁瑾,1964年11月,出

生于安徽省怀宁县,1986年

7月毕业地合肥工业大学,

获学士学位,1992年6月在

莫斯科动力学院获博士学位

,1995年2月在北京邮电

大学博士后出站。现为北京

邮电大学电信系副教授,中

国电了学会高级会员。现已

完成部级以上科研项目六

项,以第一作者身份发表的

学术论文五十余篇。主要研

究兴趣是电路、系统和通信

网络的可靠性和可测性分析

设计,通信系统的性能评估,

模糊神经网络在系统和网络

性能分析中的应用等。

出版者:北京邮电学院出版社
作者:丁瑾
出品人:
页数:211
译者:
出版时间:1996-07
价格:17.80
装帧:平装
isbn号码:9787563502455
丛书系列:
图书标签:
  • 可测性 
  •  
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内 容 提 要

本书对系统与数字电路的可靠性和可测性作了完整的叙述及讨论。书

中很多部分是作者多年科学研究和教学实践的结果。全书共八章。第一、二

章介绍可靠性与可测性的一些基础知识和基本概念。第三、四章讨论系统

的可靠性分析及其设计,并介绍了人对系统可靠性的影响。第五、六、七

章分别讨论了数字电路的测试及其可测性分析设计,重点介绍了概率可测

性分析和结构可测性设计。第八章介绍了可维性设计,主要叙述了失效率

与修复率的分配。

本书对电子、系统工程、自动控制、动力、通信及信息等学科领域有

关的高年级大学生、研究生和工程技术人员是一本有益的参考书。

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