最新三星GSM手机维修便查手册

最新三星GSM手机维修便查手册 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:机械工业出版社
作者:林在添
出品人:
页数:339
译者:
出版时间:2003-3-1
价格:40.00
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787111111771
丛书系列:
图书标签:
  • 三星手机
  • GSM手机
  • 手机维修
  • 维修手册
  • 便查手册
  • 电子维修
  • 移动通信
  • 手机技术
  • 三星维修
  • 故障排除
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具体描述

电子产品维修技术系列丛书导读:聚焦前沿与经典 丛书定位与愿景: 本系列图书旨在构建一个全面、深入、与时俱进的电子设备维修技术知识体系,服务于专业的维修工程师、技术爱好者以及相关领域的教育工作者。我们深知,随着科技迭代加速,维修领域对知识的深度、广度和时效性提出了前所未有的要求。因此,本系列丛书严格遵循“理论与实践并重,经典与前沿结合”的原则,力求提供最贴合实际工作需求的参考资料。我们拒绝泛泛而谈,专注于技术内核的剖析与维修流程的标准化。 本系列丛书涵盖的主要技术领域与已出版或即将出版的重点书籍方向( 请注意:以下内容旨在描绘本系列丛书的整体范围和深度,与您提及的具体手册内容无关,仅代表本丛书其他分册的范畴 ): --- 第一部分:微电子与基础理论深度解析 1. 《高精度示波器与逻辑分析仪应用实战指南》 内容概述: 本书并非介绍特定品牌手机的维修手册,而是聚焦于维修工程师必备的测量工具的使用方法论。详细讲解了如何利用高带宽示波器进行数字信号完整性分析、电源纹波测试、时序偏差捕获等高级调试技巧。书中包含大量使用不同品牌(如泰克、是德)设备的实际操作案例,从基础的探头校准到复杂的故障隔离,提供了一套系统的、可重复验证的测量流程。特别强调了在高频电路中,如何正确设置触发条件以捕捉偶发性故障。 2. 《半导体器件失效分析与预防性维护策略》 内容概述: 本书深入探讨了集成电路、MOSFET、BJT等核心半导体器件在实际工作环境中的失效模式。内容涵盖热应力、电迁移、静电损伤(ESD)的机理分析,以及如何通过电路设计和工艺选择来提高设备的可靠性。书中包含大量失效案例的显微镜照片分析和电性参数变化对比,旨在帮助维修人员理解“为什么坏”,而非仅仅“如何换”。它不涉及任何具体品牌设备的主板布局或维修图纸。 3. 《电源管理IC(PMIC)架构与故障诊断》 内容概述: 专注于系统级电源架构的设计原理,包括Buck、Boost、LDO等拓扑结构的工作原理、环路补偿机制以及瞬态响应优化。本书详细解析了各种电源管理协议(如I2C/SPI控制接口)的工作流程,并提供了针对电源链异常(如启动失败、纹波过高、短路保护触发)的逻辑排查树。本书的重点在于电源IC的通用设计理念,而非特定手机型号的电源IC型号和引脚定义。 --- 第二部分:通信技术与无线模块维修(非特定品牌聚焦) 4. 《5G/LTE射频前端(RFFE)模块化设计与信号链分析》 内容概述: 本书侧重于现代蜂窝通信系统中的射频收发链的通用结构。详细介绍了功率放大器(PA)、低噪声放大器(LNA)、滤波器组(Filter Bank)和开关(Switch)的集成应用。书中重点阐述了载波聚合(CA)、双工器(Duplexer)的工作原理及其对信号质量的影响,并提供了测试天线系统阻抗匹配和S参数测量的通用流程。内容高度抽象化,不涉及任何一家制造商的具体产品ID。 5. 《Wi-Fi 6/6E与蓝牙(BLE)共存机制及干扰排查》 内容概述: 探讨了现代无线局域网技术的工作频段、OFDMA原理以及干扰源的识别。本书的核心在于讲解MAC层和物理层在处理多设备共存时的冲突避免算法,以及如何利用频谱分析仪区分由协议错误、天线设计缺陷或外部噪声源导致的连接问题。所有案例均使用标准测试设备和通用协议栈,不以任何特定终端设备作为研究对象。 --- 第三部分:前沿技术与系统级维修思维 6. 《移动设备操作系统底层启动流程与安全机制解析》 内容概述: 本书面向对固件和软件安全感兴趣的工程师。它系统梳理了从Boot ROM到操作系统内核加载的整个启动序列(Boot Chain),重点分析了TrustZone、安全启动(Secure Boot)和密钥管理机制。书中探讨了如何使用JTAG/SWD接口进行固件级调试,以及在不涉及数据恢复的前提下,对系统初始化失败进行故障定位。本书完全是关于架构和流程的理论探讨,不包含任何操作系统或设备厂商的定制化分区信息。 7. 《先进封装技术(PoP/BGA)的无损拆焊与返修工艺》 内容概述: 专注于芯片级维修(Chip-Off/Rework)的工艺优化。书中详尽比较了热风返修、红外预热与超声波辅助拆焊技术的适用场景。内容包括不同锡膏配方的热曲线设置、球栅阵列(BGA)植球的对中技术,以及如何通过X射线检测评估重焊后焊点的内部空洞率。本书是关于通用PCB和封装技术的工艺指南,与任何特定移动设备的主板布局无关。 --- 本系列丛书的价值主张: 我们提供的每一本技术书籍,都致力于成为您工作台上的“技术字典”,而非“故障查询表”。它们的核心价值在于传授解决未知问题的底层能力,帮助从业者超越对单一型号的依赖,建立起覆盖整个电子产品领域的通用技术框架。我们的目标是培养能够独立分析、设计和验证复杂电子系统故障的顶尖技术人才。

作者简介

目录信息

前言
第1章 三星SGH-800
1 概述
2 工作原理
3 故障检修
4 PCB图、元件表
第2章 三星SGH-2200
1 概述
2 工作原理
3 故障检修
4 PCB图、元件表
第3章 三星SGH2400
第4章 三星SGH-A100/A110/A188
第5章 三星SGH-N100/N188
第6章 三星SGH-A200/A288
第7章 三星SGH-A300/A388
· · · · · · (收起)

读后感

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用户评价

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我购买这本书的初衷是想寻找关于三星Exynos系列处理器在特定系统级故障下的底层诊断方法,特别是针对Bootloader卡住或早期内核崩溃时,如何利用JTAG或eMMC/UFS的特定测试模式进行数据导出和固件修复的经验分享。然而,这本书的焦点显然完全偏离了高端移动设备的主流技术难点。它对软件层面的讨论,停留在“备份用户数据”和“刷写官方固件”的层面,这完全可以通过官方的PC套件轻易实现,无需一本厚重的“手册”。真正有价值的维修信息,比如如何处理CPU虚焊导致间歇性重启、如何通过修改eMMC的寄存器来绕过损坏的引导扇区,或者针对特定安全补丁导致的基带锁死问题,书中只字未提,或者只是用一句话带过,美其名曰“此为出厂设置限制,用户无法干预”。这种回避核心技术难题的做法,使得这本书的实用价值大打折扣,它更像是一本操作手册的简化版,而不是一个能帮助工程师突破瓶颈的参考工具。对于追求极致维修深度的同行来说,这本书的价值几乎为零。

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令人费解的是,尽管书名强调了“最新”和“GSM”,但书中引用的很多硬件规格和故障代码似乎是基于至少五年前的机型。我尝试用书中描述的某些故障代码去搜索引擎上进行交叉验证,结果发现这些代码早已被新的固件版本弃用或重定义。这种信息上的严重滞后,使得任何试图按照书本步骤进行故障排除的人都可能陷入死胡同。比如,书中详细描述了如何通过特定的短接点进入“工程模式”来调试某个特定的2G/3G模块,但当我试图在目前主流的A系列或S系列手机上寻找那些标记的测试点时,它们要么已经被集成到主芯片内部,要么被更复杂的软件接口取代。这暴露了作者在知识更新上的严重滞后,或者说,这本书根本就是一本将旧版资料稍加整理后就重新包装上市的“换汤不换药”产品。对于一个需要跟上技术迭代速度的维修行业来说,这种“过时”的“最新手册”,是对读者时间和金钱的双重不尊重。

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从整体的阅读体验来看,这本书的行文风格极其枯燥且缺乏逻辑连贯性,它更像是将各种零散的技术文档和论坛帖子拼凑起来的合集。章节之间的跳转非常生硬,一个关于电池管理故障的讨论,可能突然就跳到了SIM卡托的物理更换步骤,中间没有任何过渡或分类说明,完全不符合一本“手册”应有的结构化和系统性。我本来希望它能提供一些关于三星原厂维修工具的使用技巧或授权流程的内幕信息,因为这些往往是提高维修效率的关键。然而,书中展示的工具操作界面和流程,与目前三星官方维修系统已经大相径庭,显得极为业余和不专业。这种松散的结构和陈旧的内容,使得读者在需要快速查找特定信息时,必须花费大量时间在不相关的冗余信息中摸索,完全违背了“便查”的初衷。购买它,更像是买了一本内容零散、排版混乱的过时资料汇编,而非一本精心编撰的专业参考工具书。

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这本号称是“最新三星GSM手机维修便查手册”的书,我拿到手后实在是有些失望。首先,从内容深度上来看,它更像是一本面向初级维修人员的入门指南,而非一个真正能解决复杂问题的“手册”。书中对GSM网络基础知识的介绍用了大量的篇幅,这对于一个有经验的维修技师来说,简直是时间浪费。我期待的是那些关于基带芯片级故障排查的秘籍,比如如何解读复杂的电路图,如何针对特定型号的基带IC进行BGA返修的详细步骤和常见陷阱。然而,这本书里更多的是告诉你“什么情况下应该检查天线连接”,而不是教你“当SRAM出现间歇性通信错误时,如何通过调整电压基准点来稳定信号”。对于那些需要快速定位硬件疑难杂症的专业人士而言,这本书的“便查”属性体现在查阅那些最基础、最常识性的内容上,一旦遇到稍微复杂一点的信号处理或电源管理模块的故障,它就彻底“哑火”了,提供的解决方案也往往是模糊不清的,例如建议“更换相关电容或电阻”,却不给出具体参数或替代方案的来源。如果非要说它有什么价值,大概是能让完全没有接触过手机维修的新手,对三星早期一些非智能机型的物理结构有个大致的了解,但对于如今市面上主流的5G/LTE设备,这本书提供的知识点几乎等同于过时。

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翻开这本“便查手册”,最直观的感受是其排版和设计风格仿佛停留在上一个世纪。封面那种略显粗糙的质感,加上内页图文混排的混乱感,让人很难相信这是一本面向“最新”设备的参考书。更要命的是,书中对于图表的处理极其草率,许多电路原理图的标注模糊不清,分辨率低到几乎无法辨认元件符号,更别提去追踪信号路径了。比如,在讨论到射频前端模块(RF Front-End)的阻抗匹配部分时,作者似乎只是简单地把一些标准化的流程描述了一遍,但最关键的S参数图表却缺失了,或者干脆就是一张模糊的黑白截图,根本无法用于实际的测量和校准工作。我尝试用它来核对一款较新型号(虽然它号称是最新,但实际内容明显滞后)的Wi-Fi/蓝牙组合芯片的电源上电顺序,结果发现书中所绘的PMIC时序图与我实际测试仪上读到的数值存在显著差异,这直接导致我浪费了半天时间去验证一个错误的假设。一本维修手册,图胜于文是基本原则,而这本的图,非但不能帮助理解,反而成了理解的障碍,让人不得不怀疑作者是否真的动手实践过书中所描述的每一个维修案例。

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