自动检测技术

自动检测技术 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:化学工业
作者:王化祥
出品人:
页数:368
译者:
出版时间:2004-8-1
价格:35.00元
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787502550349
丛书系列:
图书标签:
  • 自动检测
  • 缺陷检测
  • 图像处理
  • 机器视觉
  • 工业检测
  • 质量控制
  • 人工智能
  • 深度学习
  • 模式识别
  • 自动化
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具体描述

《自动检测技术》在介绍测量误差理论、测量系统特性及系统可靠性基本知识的基础上,较系统地阐述了温度、压力、流量、液位、成分分析及有关机械量等流程工业中主要参数的检测原理、测量方法、测量系统构成及测量误差分析,同时还注意介绍各种测量安置的安装使用条件,以保证检测系统的测量精度。

《自动检测技术》为高等院校自动化专业的专业必修课教材,也可供测控技术与仪器等相关专业的师生参考选用,对从事自动检测技术、过程控制领域的科研及工程技术人员也具有一定的参考应用价值。

《晶体管电路设计与应用》 内容简介 本书深入剖析了现代电子系统中最核心的元件——晶体管,系统地介绍了双极性结型晶体管(BJT)和场效应晶体管(FET)的物理原理、工作特性、设计方法及其在各类电路中的实际应用。本书旨在为电子工程、通信工程、自动化等领域的学生、工程师及技术人员提供一套全面、深入且具有实践指导意义的教材与参考资料。 第一部分:半导体基础与晶体管物理 本书开篇首先构建了坚实的半导体物理基础。详细阐述了PN结的形成、能带理论、载流子输运机制(漂移与扩散),为理解晶体管的工作原理奠定理论基石。 第一章:半导体基础物理 固体能带理论: 深入探讨了导体、绝缘体和半导体的能带结构,重点分析了费米能级在掺杂过程中的移动规律。 PN结特性: 详细分析了平衡态、正向偏置和反向偏置下的势垒区宽度、内建电场和电位移,以及开关过程中的存储电荷效应。 载流子输运现象: 区分并量化了漂移电流和扩散电流,阐述了寿命、复合与扩散长度等关键参数对器件性能的影响。 第二章:双极性结型晶体管(BJT) 本章聚焦于BJT的工作机理,从结构到参数的每一个细节都进行了详尽的讲解。 BJT的结构与工作区: 介绍了NPN和PNP晶体管的结构,详细分析了基区宽度调制(早期效应)、注入效率和传输系数,明确界定了截止、放大(线性区)、饱和和反向工作区的工作条件。 小信号模型与等效电路: 重点推导了混合$pi$模型和T型模型,计算了跨导($g_m$)、输入阻抗和输出阻抗,并探讨了高频效应,如米勒效应和过渡频率($f_T$)的限制。 BJT的制造工艺与版图设计: 简要介绍了扩散、离子注入等关键工艺步骤,以及如何通过版图布局来减小寄生电阻和电容,优化热管理。 第二部分:场效应晶体管(FET) 本部分转向研究电压控制型的核心器件——FET,包括结型场效应晶体管(JFET)和金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)。 第三章:场效应晶体管基础 JFET的工作原理: 阐述了耗尽层宽度调制对沟道导通电阻的控制作用,分析了其平方律特性曲线。 MOSFET的结构与I-V特性: 详细描述了增强型和耗尽型MOSFET的构造,重点分析了阈值电压($V_{th}$)的形成机制(包括体效应系数),并推导了跨辐射区、线性区和饱和区的电流-电压关系。 MOSFET的小信号模型: 引入跨导$g_m$和输出阻抗$r_{ds}$,构建了适用于交流分析的等效电路,并讨论了沟道长度调制对输出阻抗的影响。 第四章:高级晶体管特性与工艺考量 亚阈值导通(弱反型区): 分析了低功耗设计中MOSFET在低于$V_{th}$时的指数型漏电流特性,并计算了亚阈值斜率(Subthreshold Slope)。 寄生参数与噪声分析: 探讨了栅极电阻、源极引线电感等对高速性能的限制,并对热噪声、散弹噪声等晶体管固有噪声源进行了定量分析。 第三部分:晶体管电路设计与应用 本书的后半部分侧重于将理论知识应用于实际电路的构建与分析,涵盖了放大器设计和偏置技术的核心内容。 第五章:晶体管偏置电路设计 晶体管必须工作在特定的工作点才能实现线性放大。本章系统介绍了稳定工作点的方法。 BJT的偏置技术: 详细分析了固定偏压、分压器偏置、集电极反馈偏置等方法的直流偏置点稳定性。引入了用$eta$不确定度来评估偏置电路的性能指标。 MOSFET的偏置与电流源: 重点讲解了电压驱动偏置(如自偏置)、分压器偏置,并深入探讨了作为有源负载和电流镜(Current Mirror)的实现,包括两管、三管电流镜的匹配误差分析。 有源负载与电流镜: 阐述了使用有源负载替代电阻负载以提高电压增益的原理,并详细分析了镜像电流源(如Wilson镜)的精度和输出阻抗。 第六章:单级放大器设计 本章是应用的核心,涵盖了所有基本放大电路的增益、带宽和输入/输出阻抗计算。 共源极/共集电极/共基极放大器(MOSFET): 详细分析了这三种基本配置的特性,包括电压增益($A_v$)、电流增益($A_i$)、输入阻抗($Z_{in}$)和输出阻抗($Z_{out}$)。重点讨论了源极跟随器(共集电极)作为缓冲器的作用。 共发射极/共基极/共集电极放大器(BJT): 对应地分析了BJT的三种基本结构,强调了BJT在输入阻抗和输出阻抗控制上的优势与劣势。 增益与带宽的联合优化: 利用米勒定理分析了耦合电容和寄生电容对放大器带宽的影响,引入了单位增益频率($f_{eta}, f_T$)的概念来评估高频性能。 第七章:多级放大器与差分放大器 多级放大器级联: 讲解了如何通过级联来精确控制总电压增益,同时分析了级间耦合(直接耦合、RC耦合)对直流偏置和交流响应的影响。 差分放大器原理: 详细分析了差分对(Pair)的结构,推导了共模抑制比(CMRR),这是衡量放大器抗噪性能的关键指标。讲解了如何利用电流源作为尾部负载以获得高CMRR。 第八章:线性与开关应用实例 本章展示了晶体管在实际系统中的关键应用。 线性稳压器(LDO): 分析了调整管(Pass Transistor)的工作模式,讲解了如何利用误差放大器来稳定输出电压,并对比了BJT和MOSFET作为调整管的效率差异。 晶体管作为开关: 探讨了晶体管在数字电路中的开关特性,重点关注饱和区的导通电阻($R_{DS(on)}$或$V_{CE(sat)}$)对功耗的影响,以及开关速度的限制因素。 振荡器基础: 简要介绍了基于晶体管反馈网络的振荡器(如Clapp/Colpitts振荡器)的起振条件和频率稳定性的初步分析。 全书结合了大量的电路图例、精确的数学推导和工程实例,确保读者不仅理解“如何工作”,更能掌握“如何设计和优化”晶体管电路,是电子设计工程师必备的工具书。

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