电子电路故障查找技巧

电子电路故障查找技巧 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:机械工业出版社
作者:杨海祥
出品人:
页数:188
译者:
出版时间:2004-9-1
价格:18.00元
装帧:平装(无盘)
isbn号码:9787111150640
丛书系列:
图书标签:
  • 电子电路
  • 故障诊断
  • 维修技巧
  • 电路分析
  • 电子维修
  • 故障排除
  • 实战案例
  • 电路问题
  • 电子技术
  • 动手实践
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具体描述

本书主要内容包括:常用电子元器件的识别技巧与检测,框图、电路原理图、印刷电路的识图方法与技巧,电子电路故障查找的方法与技巧,模拟电路、数字电路、整机电路故障查找的方法与技巧,以及整机电路的主要技术指标、调试和维护方法。附录中还介绍了常用组装工具、常用仪器仪表、国内晶体管、集成电路的型号和参数。

本书可作为高职高专电子与信息技术应用专业、电子技术、电气技术及相关专业的通用教材,也可作为电子类有关工程技术人员的培训教材及高职电子类实训教师的技术参考书。

好的,这是一份关于《模拟集成电路设计与应用》的详细图书简介,完全不涉及《电子电路故障查找技巧》的内容。 --- 图书名称:《模拟集成电路设计与应用:从理论基础到前沿实现》 图书简介 本书籍旨在为电子工程、微电子学、通信工程等领域的专业人士、研究生以及高级电子爱好者提供一套全面、深入且极具实践指导意义的模拟集成电路(Analog Integrated Circuit, AIC)设计与应用知识体系。在当今数字化浪潮席卷一切的背景下,高性能模拟前端电路(Analog Front-End, AFE)和高精度数据转换器(Data Converters)仍然是连接物理世界与数字处理核心的“桥梁”,其设计难度与重要性日益凸显。 本书超越了传统教科书中对基本器件特性的简单罗列,而是聚焦于现代集成电路工艺下,如何实现高精度、高线性度、低功耗的模拟功能模块的设计与优化。全书结构清晰,逻辑严密,从半导体物理基础回顾入手,逐步深入到复杂电路拓扑的系统级考量。 第一部分:基础理论与器件模型精研 本部分是构建扎实理论基础的基石。我们首先回顾了深亚微米CMOS工艺下的晶体管工作原理,但重点不在于重复基础概念,而是深入探讨了亚阈值区、饱和区和线性区的非理想效应,如沟道长度调制、栅极电流泄漏、热电子效应等,这些对低电压、低功耗设计至关重要。 随后,章节详细剖析了无源与有源器件的噪声特性,特别是闪烁噪声(1/f Noise)与热噪声的建模与抑制策略。我们不仅会介绍噪声等效带宽(NEB)的计算,更会展示如何在版图层面通过共质心、对称结构等方式来有效降低噪声对电路性能的负面影响。 匹配与失配是模拟电路设计的核心挑战之一。本书用大量篇幅论述了器件失配(如阈值电压失配、跨导失配)如何影响电路的直流精度,并系统性地介绍了统计失配分析(Statistical Mismatch Analysis)方法,指导读者如何在设计初期就对工艺角、温度点下的失配进行量化预估。 第二部分:关键模拟基本单元的深度解析 本部分是本书的心脏,专注于那些在所有模拟设计中反复出现的关键构建模块。 电流源与电流镜(Current Sources and Mirrors)的设计不再停留在教科书上的理想模型。本书深入讲解了高精度、高输出阻抗的二级、三级电流镜,包括如何利用自偏置技术(Self-Biasing)和特定的补偿电容来确保在宽泛工艺和温度范围内保持良好的电流复制精度。 运算放大器(Operational Amplifiers, Op-Amps)的设计被提升到系统级视角。我们详细分析了各类经典的两级、折叠式、折叠-旁路(Folded-Cascode)架构的优缺点,并针对不同应用场景(高增益、高带宽、低噪声、轨到轨输出)给出了具体的拓扑选择指南。特别地,我们详述了频率补偿技术,包括米勒补偿(Miller Compensation)、导纳平面分析(Pole-Zero Analysis)以及现代设计的RC补偿和反作用力补偿(Nulling Resistor Compensation),以确保闭环系统的稳定性和瞬态响应。 高精度电阻与电容的实现:在集成电路中,如何制造出具有极低温度系数(TC)的电阻和具有高Q值、低泄漏的电容,是决定整体性能的关键。本书对比了扩散电阻、多晶硅电阻和埋入式电阻的特性,并探讨了MOS电容、MOM电容(Metal-Oxide-Metal)在不同工艺节点下的应用权衡。 第三部分:核心功能模块设计与优化 基于前两部分的理论,本部分将重点放在实际系统中的核心功能模块设计。 数据转换器(Data Converters)是模拟与数字世界的交汇点。我们对逐次逼近型(SAR ADC)和流水线型(Pipeline ADC)架构进行了深入的剖析。对于SAR ADC,本书着重讲解了开关误差的消除技术(如共模采样、动态单元匹配)以及电容DAC的设计优化。对于流水线ADC,则聚焦于MDAC(Multiplying DAC)的设计,特别是增益误差的校准和反馈机制。 锁相环(Phase-Locked Loops, PLLs)与频率合成:PLL是现代通信系统不可或缺的部分。本书详细阐述了压控振荡器(VCO)的设计,包括LC振荡器与环形振荡器在不同频率范围内的适用性。对电荷泵(Charge Pump)的非理想效应(如电流不匹配、毛刺)的处理,以及环路滤波器(Loop Filter)的设计,以确保PLL在宽频率范围内具备快速锁定时间和低相位噪声。 低压差稳压器(LDO)与电源管理:现代系统对电源的质量要求极高。本书讲解了LDO内部的误差放大器设计、PMOS/NMOS源极跟随器驱动级,并重点分析了LDO的环路稳定性(Phase Margin)分析方法,特别是针对大输出电容负载下的补偿策略。 第四部分:先进设计方法与前沿趋势 本部分面向未来和挑战性的设计领域。 设计自动化与验证(EDA Tools Integration):强调将理论设计转化为可制造版图的实际流程。内容涵盖了版图引起的寄生效应建模、后仿真(Post-Layout Simulation)的必要性,以及如何利用先进的仿真工具(如Spectre APS, HSPICE)进行蒙特卡洛(Monte Carlo)分析以验证电路的鲁棒性。 新型工艺节点下的挑战:探讨了FinFET、FD-SOI等新技术对模拟电路设计带来的机遇与挑战,例如亚阈值设计的深化、栅极电阻的影响以及新器件的噪声特性。 低功耗与高线性度融合设计:系统性地介绍如何平衡增益、带宽、功耗和线性度这“四元矛盾体”,包括使用前馈线性化技术(Feedforward Linearization)和动态偏置技术(Dynamic Biasing)来突破传统架构的性能瓶颈。 本书的特色 本书的编写风格严谨而不失生动,所有关键电路拓扑均配有详细的数学推导、性能指标的定量分析以及针对具体工艺角的仿真波形案例。读者将获得的不仅仅是电路的“黑箱”结构,而是对每一个元器件选择、每一个偏置点设置背后的设计哲学有深刻的理解。本书是驱动下一代高性能模拟系统开发不可或缺的参考手册。

作者简介

目录信息

前言
第1章 常用电子元器件的识别与检测
第2章 电子电路识图方法
第3章 电子电路故障查找基本方法
第4章 单元模拟电路故障查找方法与技巧
第5章 单元数字电路故障查找方法与技巧
第6章 整机电路故障查找方法
第7章 电子设备的调试与维护
附录
参考文献
· · · · · · (收起)

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