图书目录大全

 windowsfront.com logo

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 pdf 下载 txt下载 epub 下载 mobi 下载 2024

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计
☆☆☆☆☆
简体网页||繁体网页
Alfred L.Crouch 作者
中国电力出版社
译者
2004-1-1 出版日期
376 页数
48.0 价格
平装(无盘)
丛书系列
9787508319049 图书编码

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 图书标签:  

喜欢 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 的读者还喜欢


下载链接在页面底部


点击这里下载
    
想要找书就要到 图书目录大全
立刻按 ctrl+D收藏本页
你会得到大惊喜!!

发表于2024-11-27

linkedin mastodon messenger pinterest reddit telegram viber vkontakte whatsapp 复制链接

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 epub 下载 mobi 下载 pdf 下载 txt 下载 2024

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 epub 下载 mobi 下载 pdf 下载 txt 下载 2024

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 pdf 下载 txt下载 epub 下载 mobi 下载 2024


数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 用户评价

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 著者简介

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 图书目录

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 pdf 下载 txt下载 epub 下载 mobi 在线电子书下载

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 图书描述

书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试

·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。

书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材料。通过为书中的第一部分列出流程图、工程图表和内容接要，使得读者能够更快更容易地学习和查找。本书是与设计和测试工作相关的工程师和管理员所备的资料书籍。

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 下载 mobi epub pdf txt 在线电子书下载
想要找书就要到 图书目录大全
立刻按 ctrl+D收藏本页
你会得到大惊喜!!

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 读后感

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

评分☆☆☆☆☆

类似图书 点击查看全场最低价

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 pdf 下载 txt下载 epub 下载 mobi 下载 2024

分享链接

linkedin mastodon messenger pinterest reddit telegram viber vkontakte whatsapp 复制链接


数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 相关图书



服务条款
联系我们
关于我们
隐私政策

本站所有内容均为互联网搜索引擎提供的公开搜索信息，本站不存储任何数据与内容，任何内容与数据均与本站无关，如有需要请联系相关搜索引擎包括但不限于百度，google,bing,sogou 等

友情链接

中国国家图书馆
国立台湾图书馆
美国国会图书馆
开放图书馆 openlibrary.org

© 2024 book.wenda123.org All Rights Reserved. 图书目录大全 版权所有