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数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计
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Alfred L.Crouch 作者
中国电力出版社
译者
2004-1-1 出版日期
376 页数
48.0 价格
平装(无盘)
丛书系列
9787508319049 图书编码

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发表于2024-08-20

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数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 在线电子书 图书描述

书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试

·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。

书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材料。通过为书中的第一部分列出流程图、工程图表和内容接要，使得读者能够更快更容易地学习和查找。本书是与设计和测试工作相关的工程师和管理员所备的资料书籍。

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