电子显微分析实用方法

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出版者:冶金工业出版社
作者:吴杏芳
出品人:
页数:0
译者:
出版时间:1998-10-01
价格:12.0
装帧:
isbn号码:9787502422028
丛书系列:
图书标签:
  • 测试
  • 材料
  • 方法
  • 分析
  • 电子显微镜
  • 扫描电镜
  • 透射电镜
  • 材料分析
  • 微观结构
  • 表面形貌
  • 元素分析
  • X射线谱
  • 能谱分析
  • 微区分析
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具体描述

《电子显微分析实用方法》一书深入探讨了现代电子显微技术在材料科学、生物医学及工业检测中的关键应用,聚焦于从样品观察到数据解析的完整流程。全书以实际操作为核心,详细描述了透射电镜(TEM)与扫描电镜(SEM)的操作原理,包括电子束生成、样品制备、成像模式选择及图像处理技术,每一步均结合经典案例与前沿进展讲解。作者强调显微分析不仅依赖仪器,更在于科学思维与精准参数设置,书中通过多组分材料的形貌表征实例,展示如何通过高分辨率成像识别晶体结构缺陷、纳米颗粒分布及表面化学状态。生物应用部分特别关注细胞超微结构观察,包括神经元突触连接、病毒颗粒形态及细胞器精细构造,辅以冷冻电镜在大分子复合物解析中的突破性作用。工业检测章节则聚焦金属材料疲劳裂纹、半导体器件缺陷分析及涂层厚度评估,提供标准化流程与误差控制技巧。书中辅有大量图谱与数据表,涵盖典型样品显微特征、仪器参数设置指南及数据处理软件简介,帮助读者建立从实验设计到结果验证的完整思维链条。不涉及具体教程步骤,却通过深入剖析技术细节与应用逻辑,使专业读者获得系统性参考,助力在真实科研或工程环境中高效开展电子显微分析实践。

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