精密测控与系统

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出版者:清华大学出版社
作者:董永贵
出品人:
页数:389
译者:
出版时间:2005-9
价格:38.00元
装帧:简裝本
isbn号码:9787302114604
丛书系列:
图书标签:
  • 教材 
  • 自动化 
  • 测控 
  • 工科 
  •  
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本书以系统的观点,阐述了现代精密仪器设计中的控制理论、测试技术和设计方法。本书内容新颖、实用性强。

本书共分9章: 导论、系统的数学模型、传感器与测试系统、信号调理、图像处理技术、微弱信号检测技术、数字控制系统、计算机测控系统、现场总线技术与基于Internet的远程测控系统。

本书可供高等工科院校测控技术与仪器、电子精密机械、机电一体化及光学仪器等专业的师生使用,也可供从事精密仪器与机械及微纳米机电系统的研究、设计、制造、使用和调修的工程技术人员学习和参考。

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