具体描述
全书分上下篇，上篇主要介绍了数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准等内容，下篇重点介绍了数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统等内容，并特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，本书可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。
全书按集成电路测试原理和集成电路测试设备划分为上、下篇。根据现代集成电路测试技术发展和专业测试需求，上篇主要介绍数字VLSI结构化测试方法、数模混合信号电路测试方法、设计验证技术和集成电路测试标准；下篇重点介绍数字／模拟／数模混合信号等三种类型集成电路测试系统和集成电路测试验证系统，同时特别关注了以SOC测试、基于DFT测试、RAM测试为主要特点的新类别测试系统和基于标准总线集成电路测试系统的发展，并安排了测试系统计量和自动分选机／探针测试台两个专题。
本书可作为从事微电子测试和设计工作的研究人员、技术人员，以及准备进入该领域的管理人员的学习和培训教材，也可作为高等院校相关专业师生的教材和参考书。
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用户评价
**《现代集成电路测试技术》这本书，就像一位经验老道的工匠，用细腻的手法，雕琢出集成电路测试的方方面面。** 我是一名在IC制造厂工作的技术人员，平日里接触的都是具体的生产和检测环节，对于测试技术的理论深度，一直感觉有些力不从心。读了这本书，我才真正理解了“为什么”和“怎么样”。它不仅仅停留在“怎么做”的层面，而是深入剖析了各种测试技术背后的原理，比如为什么需要边界扫描，为什么BIST能够有效提高测试效率，以及如何根据不同的电路特性选择最合适的测试方法。书中对各类测试设备和仪器的介绍，也让我对我们工作中使用的设备有了更深的认识，知道它们各自的优势和局限性。我特别欣赏书中对于测试数据分析和良率提升的章节，这直接关系到我们的生产成本和产品质量，提供了许多实用的指导。它还涉及了如何应对越来越小的制程节点带来的测试挑战，以及一些新兴的封装技术对测试提出的新要求。总的来说，这本书让我能够从更深层次地理解我们的工作，不仅仅是执行者，更能成为一个思考者，在实际操作中不断优化和改进，为生产出更高质量的集成电路贡献自己的力量。
评分**这本《现代集成电路测试技术》简直就是一场知识的盛宴，让我应接不暇，却又欲罢不能。** 作为一个多年从事IC验证工作的工程师，我对芯片的“性能”和“功能”有着深刻的理解，但对于“测试”这一环节，总觉得隔靴搔痒。直到我读了这本书，才真正体会到测试技术在整个芯片生命周期中的重要性。它不仅仅是简单的“找虫子”，而是贯穿于设计、制造、封装、应用等各个环节，并且随着技术的不断发展，测试的复杂性和重要性也在不断提升。书中对各种测试技术，如静态测试、动态测试、扫描测试、内置自测试等，都有非常细致的讲解，并且提供了大量的实例，让我能够将理论知识与实际应用相结合。我特别欣赏书中关于测试可达性、测试成本和测试时间的权衡分析，这些都是我们在实际工作中需要面对的实际问题。它还探讨了如何应对功耗、热效应等物理层面的挑战，以及如何利用自动化工具来提高测试效率。总而言之，这本书让我对集成电路测试有了全新的认识，也为我未来在这一领域深入研究提供了宝贵的指导。
评分**初读《现代集成电路测试技术》，便被其宏大的叙事和深刻的洞察力所吸引。** 作为一个刚踏入IC测试领域的新人，我原以为会面对一堆枯燥乏味的理论知识，没想到这本书却像打开了一扇通往全新世界的大门。它没有直接将我抛入复杂的测试向量和模式生成器之中，而是从集成电路发展的宏观视角出发，娓娓道来测试技术是如何与时俱进，应对着日新月异的设计挑战。书中对不同时期IC测试技术演进的梳理，让我对这一领域的历史脉络有了清晰的认识，也更能理解当下测试技术的重要性。它不仅讲解了传统的A-TPG、BIST等技术，还详细介绍了诸如DFT、AC-scan、IO-scan等最新的设计与测试一体化策略，以及如何在SoC设计中有效集成这些技术。我尤其对书中关于测试成本优化和测试覆盖率提升的讨论印象深刻，这些都是我们在实际工作中经常面临的痛点，而书中提供的分析和解决方案，具有极高的参考价值。它还提及了一些前沿的研究方向，比如利用机器学习预测和诊断芯片缺陷，这让我对未来的测试技术发展充满了期待。总而言之，这本书为我打下了坚实的基础，也点亮了我前行的方向，让我不再对测试领域感到迷茫，而是充满信心去探索和实践。
评分**《现代集成电路测试技术》这本书，是一部为集成电路测试领域量身打造的“百科全书”。** 作为一名对测试技术充满好奇的学生，我一直在寻找一本能够系统性地讲解这个领域的书籍。而这本书，恰好满足了我所有的需求。它从最基本的概念讲起，循序渐进地引导读者进入更复杂的测试理论和实践。书中对各种测试模式的详细介绍，例如Scan Chain、BIST、ATPG等，以及它们在实际应用中的优劣势，让我对如何构建高效的测试方案有了深刻的认识。我尤其对书中关于测试向量生成和故障模型的讲解印象深刻，这些内容对于理解芯片的潜在问题和设计测试策略至关重要。它还涉及了如何处理不同类型的故障，如随机故障、持久故障等，以及如何通过测试来提高芯片的良率。更让我惊喜的是，书中还探讨了如何将测试技术与SoC设计流程紧密结合，以及如何应对移动设备和高性能计算等领域对芯片测试提出的特殊要求。这本书不仅是我的学习资料，更是我未来职业生涯的启蒙之作。
评分**当我翻开《现代集成电路测试技术》时，我以为会面对一堆枯燥乏味的参数和流程，没想到却被书中深刻的见解和清晰的逻辑所折服。** 作为一名在IC设计行业摸爬滚打了多年的技术人员，我深知芯片设计的复杂性，但对于测试环节，总觉得有些模糊。这本书，就像一位经验丰富的向导，带领我一步步探索这个神秘而重要的领域。它不仅讲解了各种基础的测试技术，如功能测试、结构测试、性能测试等，还深入剖析了现代集成电路测试所面临的各种挑战，如功耗、信号完整性、可靠性等。我特别喜欢书中关于测试覆盖率和测试成本的权衡分析，这对于我们在实际工作中如何做出最优的测试决策提供了非常有价值的参考。它还探讨了如何利用自动化工具来提高测试效率，以及如何应对日益复杂的SoC设计带来的测试难题。书中还提及了一些前沿的测试技术，比如利用AI进行故障诊断和预测，这让我对未来的测试技术发展充满了期待。总之，这本书不仅仅是技术手册，更是一本关于如何保证芯片质量和可靠性的“圣经”。
评分**这本《现代集成电路测试技术》简直就是我从业生涯中的一座宝藏！** 作为一名在IC设计领域摸爬滚打了多年的老兵，我深知芯片制造过程中，测试环节是多么关键，却又常常被许多人忽视。过去，我们更多地是将精力集中在设计和验证上，而对测试这块“幕后英雄”的理解，总觉得隔着一层纱。直到我翻开这本书，那种豁然开朗的感觉，至今仍让我心潮澎湃。它不像某些流于表面的技术手册，仅仅罗列一些冷冰冰的公式和流程，而是深入浅出地剖析了现代集成电路测试所面临的种种挑战，从功耗、漏电、串扰等物理层面的难题，到功能、性能、可靠性等系统层面的要求，都给予了详尽的论述。书中对各种测试方法，如静态测试、动态测试、边界扫描、故障仿真等，都有着清晰的解释和生动的案例，让我能够将抽象的概念与实际应用紧密联系起来。更让我惊喜的是，它还探讨了先进的测试技术，例如AI在测试中的应用，以及如何应对日益复杂的3D IC和高密度封装带来的测试难题。阅读过程中，我时常会停下来，对照自己过去遇到的实际问题，恍然大悟，甚至有些后悔没有早点读到这本书。它不仅仅是一本技术指南，更像是一位经验丰富的导师，循循善诱地指引着我，如何在瞬息万变的集成电路技术浪潮中，把握测试的核心脉络，提升芯片的质量和可靠性。
评分**这本《现代集成电路测试技术》绝对是我近年来读过的最具有价值的专业书籍之一。** 作为一名在IC封装领域工作的工程师，我一直对芯片测试环节的复杂性和重要性有所耳闻，但缺乏系统性的了解。这本书，就像一盏明灯，照亮了我之前模糊的认知。它不仅仅是简单地列举各种测试技术，而是从更深层次地剖析了测试的原理、方法和应用。我尤其对书中关于如何提高测试效率、降低测试成本以及如何应对日益复杂的封装技术（如3D IC、WLP等）所带来的测试挑战的讨论，印象非常深刻。它提供了一些非常实用的策略和案例，让我能够将书本知识与实际工作相结合，解决我面临的一些实际问题。书中还涉及了如何利用仿真工具来预测和诊断芯片的潜在问题，以及如何通过测试来提升产品的可靠性和性能。这本书的深度和广度，都远远超出了我的预期，它无疑为我在这个领域的进一步学习和发展提供了坚实的基础。
评分**《现代集成电路测试技术》这本书，就像一幅精美的画卷，徐徐展开了集成电路测试的宏大图景。** 我是一名刚毕业不久的大学生，在学习期间，对集成电路的制造和封装过程有了一定的了解，但对于测试环节，却一直感到有些神秘。这本书，恰好弥补了我的知识空白。它从最基本的概念讲起，循序渐进地引导我理解各种测试技术，比如边界扫描、内置自测试、故障仿真等。书中对每种技术的原理、优缺点以及应用场景都进行了详细的阐述，让我能够深刻理解它们的价值。我尤其对书中关于测试覆盖率的分析和优化策略印象深刻，这对于如何设计出高效且经济的测试方案至关重要。它还涉及了如何应对不同类型的故障，以及如何利用EDA工具来辅助测试流程。更让我惊喜的是，书中还探讨了如何将测试技术与SoC设计流程紧密结合，以及如何应对物联网和人工智能等新兴领域对芯片测试提出的新要求。这本书不仅为我打下了坚实的理论基础，更点亮了我未来职业发展的方向。
评分**坦白说，当我拿起《现代集成电路测试技术》时，我对它并没有抱有太高的期望。** 我是一名在半导体行业打拼多年的工程师，自认为对这个领域已经有了相当的了解。然而，这本书，真的给了我一个巨大的惊喜。它没有像许多书籍那样，堆砌大量晦涩难懂的专业术语，而是用一种非常清晰、有条理的方式，层层递进地阐述了集成电路测试的各个环节。从最基础的功能测试，到复杂的性能测试，再到令人头疼的可靠性测试，书中都给出了详尽的解释和实际的案例。我特别喜欢它关于测试覆盖率分析的部分，这确实是我们工作中常常遇到的一个难题，而书中提供的多种度量标准和优化策略，让我受益匪浅。此外，书中对测试自动化的探讨，以及如何利用EDA工具来辅助测试过程，都为我打开了新的思路。它还预见了未来的一些发展趋势，比如如何应对物联网和人工智能等新兴领域对芯片测试提出的新挑战，这让我对未来的职业发展有了更清晰的规划。这本书的深度和广度，都远远超出了我的想象，它无疑是我近年来读过的最具有价值的一本专业书籍。
评分**《现代集成电路测试技术》这本书，对我来说，不仅仅是一本技术书籍，更像是一次心灵的洗礼。** 我是一名在IC产品研发一线工作的工程师，曾经认为只要设计和验证做得好，芯片就能顺利流片。然而，当我真正接触到流片后的量产和客户反馈时，才意识到测试的重要性远远超出了我的想象。这本书，让我看到了一个隐藏在芯片背后，却又至关重要的领域。它详细阐述了各种测试技术，从底层的功耗和信号完整性测试，到上层的性能和可靠性测试，都进行了深入的剖析。我尤其对书中关于测试覆盖率的计算和优化策略印象深刻，这直接关系到我们产品的质量和用户的体验。它还探讨了如何利用仿真工具来预测和诊断芯片的潜在问题，以及如何通过硬件和软件的协同来提高测试效率。书中还涉及了未来的一些发展趋势，比如如何应对3D IC和异构集成等新型封装技术带来的测试挑战，这让我对未来的技术发展有了更清晰的认识。总而言之，这本书让我对集成电路测试有了更深刻的理解，也为我未来在产品研发中更好地考虑测试需求提供了重要的参考。
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