Nano-CMOS Circuit and Physical Design

Nano-CMOS Circuit and Physical Design pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:Wiley-Interscience
作者:Ban Wong
出品人:
页数:416
译者:
出版时间:2004-11-29
价格:USD 111.50
装帧:Hardcover
isbn号码:9780471466109
丛书系列:
图书标签:
  • 专业书
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具体描述

Based on the authors' expansive collection of notes taken over the years, Nano-CMOS Circuit and Physical Design bridges the gap between physical and circuit design and fabrication processing, manufacturability, and yield. This innovative book covers: process technology, including sub-wavelength optical lithography; impact of process scaling on circuit and physical implementation and low power with leaky transistors; and DFM, yield, and the impact of physical implementation.

《摩尔定律的下一页:超越纳米CMOS的微电子世界》 在电子工业的黎明时期,晶体管是巨大的,其功能也相对有限。然而,随着科学技术的飞速发展,我们见证了电子元件尺寸的惊人缩小,以及由此带来的性能和效率的指数级提升。从早期的真空管到如今指尖上的超级计算机,每一次的飞跃都离不开材料科学、器件物理以及集成电路设计理念的革新。 本书将带您踏上一段探索微电子领域前沿的旅程,超越当前主流的纳米CMOS技术范畴,深入研究那些正在重塑我们数字未来的颠覆性创新。我们不再局限于硅基CMOS的物理极限,而是将目光投向更广阔的半导体材料、新型器件结构以及革命性的计算范式。 第一部分:超越硅基的材料革命 硅,作为半导体工业的基石,在过去几十年里扮演了无可替代的角色。然而,随着器件尺寸逼近物理极限,其固有的材料特性开始显现出瓶颈。本书将首先探讨硅的替代者——那些可能成为下一代电子器件“新宠”的先进材料。 二维材料的崛起: 石墨烯、过渡金属硫族化合物(TMDs)如二硫化钼(MoS₂)和二硒化钨(WSe₂),以及黑磷等二维材料,以其独特的电子、光学和力学性质,为超越硅基CMOS提供了全新的可能性。我们将深入研究它们的原子结构、载流子传输特性、本征载流子浓度以及作为沟道材料在场效应晶体管(FETs)中的应用潜力。重点关注如何克服其制备、集成和稳定性的挑战,以实现高性能、低功耗的器件。 III-V族化合物半导体的新篇章: 砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)等III-V族半导体以其高迁移率和优异的光电特性,在射频和光通信领域早已占有一席之地。本书将探讨如何将这些材料与CMOS工艺融合,或开发全新的III-V基器件,以满足更高频率、更高带宽的需求,并探索其在三维集成电路中的潜力。 新型氧化物半导体: 氧化物半导体,如IGZO(氧化铟镓锌)和ZnO,以其高透明度、易于加工和可调控的电子特性,在平板显示器和柔性电子领域展现出巨大潜力。我们将分析其器件工作原理,以及在低成本、大面积电子器件开发中的独特优势。 量子点与纳米线: 量子点和纳米线作为尺寸在纳米量级的半导体结构,展现出独特的量子 confinement 效应。本书将探讨如何利用这些效应实现新型的光电器件、传感器以及用于量子计算的量子比特。 第二部分:颠覆性的器件架构与工作原理 在材料的革新之外,器件本身的结构和工作原理也正在经历深刻的变革。传统的CMOS器件面临着短沟道效应、漏电流以及功耗等诸多限制,新的器件架构应运而生,旨在突破这些瓶颈。 负电容晶体管(NCFETs): 负电容效应,在铁电材料中被利用来提升栅极电压的放大作用,从而实现更低的亚阈值摆幅(SS),显著降低器件的功耗。我们将详细解析NCFETs的工作机制,以及其在超低功耗计算中的前景。 多栅极晶体管的演进: 从FinFET到GAAFET(Gate-All-Around FET),多栅极技术通过将栅极更紧密地包裹住沟道,提供了更好的栅极控制,有效缓解了短沟道效应。本书将深入分析不同多栅极结构的优缺点,以及其在进一步缩小尺寸和提升性能方面的贡献。 隧道场效应晶体管(TFETs): TFETs利用带间隧穿机制取代了CMOS中的热载流子注入,有望实现低于标准CMOS kT/ln(10)的亚阈值摆幅,从而实现更低的关断态漏电流和更高的能效比。我们将探讨TFETs的设计、工作原理以及与CMOS技术的兼容性问题。 新型开关器件: 除了传统的FETs,本书还将介绍诸如相变存储器(PCM)、磁性隧道结(MTJ)以及忆阻器(Memristor)等新型开关器件。这些器件不仅可以用于存储,更被寄予厚望能够实现“计算与存储一体化”,从而彻底改变传统的冯·诺依曼架构。 自旋电子学器件: 利用电子的自旋(除了电荷)作为信息载体,自旋电子学器件有望实现低功耗、非易失性存储和计算。我们将探讨巨磁阻(GMR)、隧道磁阻(TMR)以及自旋轨道矩(SOT)等关键效应,以及它们在自旋FETs、自旋存储器等方面的应用。 第三部分:迈向后摩尔时代的新计算范式 当器件本身的物理极限越来越近时,计算的范式本身也需要重新审视。如何更高效地利用现有的硬件资源,如何设计全新的计算架构来解决日益增长的计算需求,是后摩尔时代的核心议题。 存内计算(In-Memory Computing): 传统计算架构中,数据在处理器和存储器之间频繁的搬运是主要的能耗瓶颈。存内计算将计算单元集成到存储单元附近,甚至直接在存储单元内部进行计算,极大地提高了数据处理效率和能效。我们将深入探讨基于忆阻器、相变存储器等新型存储器件的存内计算架构。 神经形态计算(Neuromorphic Computing): 模仿人脑的结构和工作方式,神经形态计算旨在实现高效的并行处理、自适应学习和低功耗的类脑计算。本书将介绍基于脉冲神经网络(SNNs)的硬件实现,以及其在模式识别、传感器数据处理等领域的应用潜力。 量子计算的曙光: 虽然仍处于早期发展阶段,但量子计算以其独特的量子叠加和量子纠缠原理,有望解决传统计算机无法企及的复杂问题。我们将简要介绍量子比特的实现方式,量子门操作,以及量子算法的原理,并探讨其与微电子技术的结合点。 近似计算与低精度计算: 对于许多应用(如深度学习),精确的计算并非总是必需。近似计算通过牺牲一定的精度来换取显著的性能提升和能耗降低。我们将分析低精度数据格式(如INT8, FP16)以及相应的硬件加速技术。 三维集成电路(3D ICs)的进一步发展: 将多个功能层垂直堆叠,三维集成电路能够实现更高的集成密度、更短的互连线以及更高的整体性能。我们将探讨先进的3D堆叠技术,如TSV(硅通孔)以及垂直CMOS(V-CMOS),以及如何将新材料和新器件整合到3D结构中。 本书的目标是为读者提供一个全面而深入的视角,理解当前和未来微电子技术的发展趋势。我们不仅仅关注纳米CMOS的优化,更致力于探索那些将定义下一代计算能力的革命性创新。无论您是资深的研究人员、工程师,还是对未来科技充满好奇的学生,本书都将是您探索微电子世界下一页的宝贵向导。

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我花了相当长的时间消化这本书的后半部分,特别是关于高可靠性设计和设计验证的内容,它们是衡量一本工程书籍是否“接地气”的关键指标。这本书在这部分的处理上,展现了非凡的务实精神。对于ESD(静电放电)保护电路的讲解,不再是简单的二极管钳位模型,而是深入到器件级的失效机制和防护环的设计拓扑,配有大量的实际失效分析图例,极具警示作用。同时,对于设计签核(Sign-off)流程的描述,详尽地列举了PVT(工艺、电压、温度)角测试的复杂性,以及如何利用先进的建模技术来应对蒙特卡洛分析的挑战。这部分内容极大地拓宽了我的视野,让我认识到,一个成功的芯片设计,背后需要多么庞大的验证体系作为支撑。它迫使我重新审视自己过去在“设计完成”后就放松警惕的习惯,真正理解了从概念到流片成功的艰辛历程。这本书的价值,正在于它将“设计”的边界,清晰地延伸到了“可靠交付”的全生命周期。

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这本书的语言风格非常独特,它融合了严谨的学术探讨和一种近乎于哲学的思辨色彩。作者在论述技术演进的必然性时,时不时会穿插一些对摩尔定律极限的深刻反思,这让整个阅读体验变得丰富起来,不再是干巴巴的技术灌输。例如,在讨论互连延迟的日益突出时,作者的笔触中透露出一种对材料科学和拓扑结构的深刻忧虑,这使得读者在学习具体的布线技巧时,也能保持对宏观挑战的敏感性。更令人印象深刻的是,书中对设计流程自动化(EDA工具)的探讨,作者并未将工具视为解决一切问题的“黑箱”,而是审慎地分析了当前主流工具的局限性以及人为干预的必要性。这种平衡的视角非常重要,它提醒我们,无论工具如何发展,最终的创新和优化仍然根植于工程师对物理现象的直觉和理解。这本书无疑在知识传递之外,也在培养读者的批判性工程思维,让人学到的远不止是设计规范。

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这本书的排版布局简直是一场视觉上的盛宴,那些复杂的电路图和版图实例被清晰地分割和标注,即便是初次接触CMOS设计的读者也能迅速定位关键信息。我过去接触过不少类似主题的参考书,但它们的图表往往晦涩难懂,需要反复对比文字才能理解其意图。然而,这本书在这方面做得极为出色,它似乎深谙“一图胜千言”的道理,图注详尽且极富洞察力。例如,在讲解版图布局的敏感性分析时,作者用一系列渐进式的案例展示了如何通过调整器件的几何形状来优化性能指标,这种实战化的教学方法远比纯理论推导来得有效得多。更值得称道的是,书中对设计规则(DRC)的介绍并非枯燥的罗列,而是融入了对制造限制和良率考量的深刻理解,读起来让人感觉不是在啃一本技术手册,而是在偷师一位资深Layout工程师的“独门秘籍”。每一次翻阅,都能在那些细微的间距和层叠关系中,发现一丝巧妙的工程智慧,让人不禁感叹,在纳米尺度上做设计,果然是艺术与科学的完美结合。

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这本书的深度和广度,远超出了我对一本“设计”导论的预期。它并非仅仅停留在介绍基本的逻辑门和标准单元的设计流程上,而是真正深入到了性能优化的核心腹地。我特别留意了其中关于功耗管理的章节,作者对动态功耗和静态漏电的分析,不仅限于基本的RC延迟模型,而是引入了更先进的亚阈值电流和隧道效应的影响。这种对物理限制的深刻认知,使得书中提出的降功耗策略具有极强的可行性和前瞻性。举例来说,对于时序收敛的讨论,作者没有给出通用的“万金油”解决方案,而是根据不同的工艺节点和电路类型,提供了定制化的设计权衡方法。这种细致入微的分析,表明作者不仅了解“如何做”,更理解“为什么这么做”以及“在特定条件下应如何取舍”。读完这部分内容,我感觉自己的设计思维得到了极大的提升,不再满足于设计出“能跑”的电路,而是开始追求“最优”的实现路径,这对于任何渴望突破现有瓶颈的工程师来说,都是极其宝贵的财富。

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这本书的封面设计着实吸引人,那种深邃的蓝与科技感的线条交织在一起,立刻让人联想到微观世界的精密与复杂。我一拿到手,首先被它厚重的质感和印刷的精良所震撼,这显然是一部需要投入大量时间和精力的专业著作。书中对于半导体器件物理基础的探讨,简直是教科书级别的详尽,从载流子输运机制到量子效应的初步引入,都做到了深入浅出的讲解。特别是作者在阐述MOSFET工作原理时,那些精妙的图示和数学模型的推导,让我这个科班出身的工程师都能找到许多久违的清晰感。我尤其欣赏作者在介绍经典理论时,总能巧妙地与最新的工艺进展挂钩,使得理论学习不再是空中楼阁,而是紧贴业界脉搏的实践指南。阅读过程中,我发现作者对细节的掌控达到了偏执的程度,每一个公式的下标、每一个晶体管的命名规范,都体现了极高的专业素养。尽管内容涉及底层物理,但作者的叙述方式却保持着一种令人愉悦的流畅性,仿佛一位经验丰富的大师在亲自为你绘制宏伟的集成电路蓝图,让人对即将展开的更深层次设计部分充满了期待。

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