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半导体的检测与分析

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许振嘉作者

科学

译者

2007-8 出版日期

635 页数

98.00元价格

丛书系列

9787030194626 图书编码

半导体的检测与分析在线电子书图书标签: 物理好文章

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发表于2024-11-28

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半导体的检测与分析在线电子书图书描述

《半导体的检测与分析(第2版)》的内容与1984年第一版的内容完全不同。《半导体的检测与分析(第2版)》介绍补充了这二十年来半导体科研、生产中最常用的各种检测、分析方法和原理。全书共分7章，包括引论，半导体的高分辨X射线衍射，光学检测与分析，表面、薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征。书中根据实践列举了一些实例，同时附有大量参考文献和常用的数据，以便读者进一步参考和应用。《半导体的检测与分析(第2版)》可供从事半导体科研和生产的科研人员，大专院校老师和研究生使用。

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