《半導體的檢測與分析(第2版)》的內容與1984年第一版的內容完全不同。《半導體的檢測與分析(第2版)》介紹補充瞭這二十年來半導體科研、生産中最常用的各種檢測、分析方法和原理。全書共分7章，包括引論，半導體的高分辨X射綫衍射，光學檢測與分析，錶麵、薄膜成分分析，掃描探針顯微學在半導體中的運用，透射電子顯微學及其在半導體中的應用和半導體深中心的錶徵。書中根據實踐列舉瞭一些實例，同時附有大量參考文獻和常用的數據，以便讀者進一步參考和應用。《半導體的檢測與分析(第2版)》可供從事半導體科研和生産的科研人員，大專院校老師和研究生使用。
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