透射电子显微学（4卷本） pdf epub mobi txt 电子书下载 2026

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☆☆☆☆☆

出版者:清华大学

作者:[美] 威廉斯

出品人:

页数:729

译者:

出版时间:2007-8

价格:89.00元

装帧:

isbn号码:9787302155294

丛书系列:国外大学优秀教材材料科学与工程系列

图书标签:

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具体描述

《透射电子显微学:材料科学教材》(4卷本)(影印版)是美国最为流行的教科书之一。它分为4卷：基本概念，衍射理论，成像原理及能谱分析。其中第1卷主要讲解电子显微镜的基本概念，包括衍射基础知识、显微镜的组成部件、仪器构造与功能以及样品制备。第2卷介绍衍射图像、倒易点阵、衍射电子像的标定，以及各种衍射分析方法。第3卷主要是关于成像原理。该卷对材料研究中典型的课题进行系统的介绍。比如晶体缺陷、内应力、相分析等。该卷还着重介绍了高分辨电子显微镜和图像模拟。第4卷讨论各种能谱的分析方法与技术。比如X射线谱、X射线定量定性分析、电子能量损失谱、离子能量损失谱等。在电子显微学研究中最为基本的理论是衍射理论，因而该书利用相当大的篇幅介绍衍射理论以及与其紧密相关的晶体结构，这些知识是材料学专业的重要基础理论之一。

《微观世界的探索者：透射电子显微学（4卷本）》—— 深入解析，开启物质世界新视野《透射电子显微学（4卷本）》是一套系统、详实的学术著作，旨在为广大科研工作者、材料科学家、物理学家、化学家、生物学家以及相关领域的研究生提供最前沿、最权威的透射电子显微学（TEM）理论、技术与应用指导。本套巨著由多位在TEM领域享有盛誉的专家学者倾力编撰，以其严谨的科学态度、清晰的逻辑结构和丰富的实例，全面展现了TEM作为一种强大的物质微观结构分析工具的深邃魅力。第一卷：透射电子显微镜原理与成像机制本卷是理解TEM基础的关键。它从电子光学理论出发，深入浅出地阐述了电子的波动性、波长与加速电压的关系，以及电子束在电磁透镜中的聚焦和成像过程。读者将了解到，TEM如何利用高能电子束穿透极薄的样品，并通过与样品相互作用产生的衍射、散射和吸收等现象，在荧光屏或探测器上形成放大的图像。本卷详细讲解了TEM的关键组成部分，包括电子枪（灯丝类型、电子发射原理）、加速腔（电压对电子能量和波长的影响）、聚光镜系统（电子束的聚焦与孔径控制）、样品台（样品定位与倾转）、物镜（成像的核心）、中间镜和投影镜（放大与成像）、真空系统（维持电子束的稳定传播）以及成像系统（显示与记录）。此外，本卷还深入探讨了TEM的基本成像模式，如明场成像（BF）和暗场成像（DF）。读者将学习到如何通过调整光阑来优化成像效果，揭示样品的晶体结构、缺陷、晶粒取向等信息。本卷的重点在于建立起读者对TEM成像原理的深刻认识，为后续章节的学习奠定坚实基础。第二卷：透射电子显微学的样品制备技术高质量的样品是获得可靠TEM数据的先决条件。本卷专注于TEM样品制备的各种关键技术，涵盖了不同类型材料的制备方法，并详细解析了各种技术的优缺点、适用范围以及操作要领。本卷将涵盖的样品制备技术包括但不限于：机械抛光法：针对块状材料，介绍如何通过研磨、抛光至超薄厚度，以及最终的离子减薄工艺。聚焦离子束（FIB）技术：重点讲解FIB在制备特定区域、特定形貌样品方面的优势，如定向取样、三维重构的样品制备。电抛光法：适用于金属材料，介绍电解液的选择、工艺参数的控制，以获得无应力、高质量的样品。沉积与刻蚀技术：针对薄膜、涂层等材料，介绍如何通过物理气相沉积（PVD）、化学气相沉积（CVD）制备样品，以及反应离子刻蚀（RIE）等技术。切片技术：针对生物样品、聚合物等，详细介绍超薄切片机的操作、抗体标记技术、冷冻固定与切片等。样品减薄与穿孔：介绍使用离子减薄仪、电解抛光仪等设备，以及手工方法实现样品减薄至TEM所需的电子穿透厚度。特殊样品制备：如纳米材料、粉末、液体、生物样品（包括活体样品）等的特殊制备技巧。本卷强调了样品制备对TEM图像质量和分析结果的决定性影响，提供了大量的实践指导和故障排除建议，帮助读者克服样品制备过程中的常见难题。第三卷：透射电子显微学的衍射与分析技术本卷将重点放在TEM的衍射能力及其在结构分析中的应用。读者将学习到如何通过电子衍射花样来获取样品的晶体结构信息，包括晶格常数、晶体类型、晶体取向以及晶体缺陷。本卷深入讲解了电子衍射的形成机制，包括布拉格定律在电子衍射中的应用，以及如何解释不同类型的衍射花样，如点状衍射（单晶）、环状衍射（多晶）、虚带衍射（缺陷）等。本卷详细介绍了几种重要的衍射分析技术：标准衍射花样分析：如何通过比对已知晶体结构的衍射花样来鉴定样品。高分辨透射电子显微学（HRTEM）的应用：讲解如何利用HRTEM直接观察晶格条纹，实现原子尺度的晶格成像，并解释晶格缺陷（如位错、孪晶界）的成像特点。选区电子衍射（SAED）：如何通过选择特定区域进行衍射，获得该区域的晶体学信息。 Kikuchi 线分析：介绍Kikuchi线的形成原理及其在精确确定晶体取向方面的应用。电子背散射衍射（EBSD）在TEM中的应用（虽然EBSD通常是SEM配套，但本卷可能侧重于TEM如何辅助理解EBSD结果或利用TEM观察EBSD的样品）。此外，本卷还可能涉及一些先进的衍射技术，如二维电子衍射（2DED）等，为读者提供更全面的结构分析工具。第四卷：透射电子显微学的能谱与先进应用本卷将目光投向TEM在化学成分分析以及更高级、更前沿的应用领域。读者将学习到如何结合TEM的成像能力与能量色散X射线光谱（EDX/EDS）或电子能量损失谱（EELS）等技术，进行多维度、多元素的微区成分分析。本卷重点讲解：能量色散X射线光谱（EDX/EDS）：详细阐述EDX的原理，如何通过探测样品在电子束激发下产生的特征X射线来确定元素的种类和含量。本卷将提供详细的谱图解析方法，包括元素识别、定量分析、面扫描（mapping）和线扫描（line-scan）等。电子能量损失谱（EELS）：深入介绍EELS的原理，其能够提供比EDX更丰富的化学态、价态、价电子结构以及低Z元素（如Li, Be, B, C, N, O）的分析能力。本卷将讲解EELS的各种谱图（如低损失区、零损失峰、Plasmon峰、内壳层激发现象）的解析方法，以及其在表面科学、材料表征、生物样品分析等方面的独特优势。 TEM的先进应用：三维重构技术：介绍如何通过连续倾转样品采集多角度图像，并进行三维重建，以获得样品的三维形貌和内部结构信息。原位TEM实验：讲解在TEM样品室内进行加热、拉伸、电化学反应、气氛控制等原位实验的技术，实时观察材料在动态过程中的微观结构演变。缺陷分析：结合衍射和成像技术，深入分析各种晶体缺陷（如空位、间隙原子、位错、层错、堆积层错、晶界、相界）的形成、分布和对材料性能的影响。纳米材料的表征： TEM在纳米颗粒、纳米线、量子点、二维材料等纳米结构表征中的关键作用，包括形貌、尺寸、晶体结构、表面形貌和表面物种分析。生物与软材料的TEM应用：讲解TEM在细胞结构、生物大分子、病毒、聚合物、液晶等研究中的应用，以及相应的样品制备和成像技术。《透射电子显微学（4卷本）》不仅是TEM技术的教科书，更是科研人员解决复杂微观结构和成分分析问题的得力助手。本套著作力求全面、深入，为读者提供一个系统学习和深入研究TEM的平台，助力其在各自的研究领域取得突破性进展。

作者简介

目录信息

Ⅰ Basics1 The Transmission Electron Microscope2 Scattering and Diffraction3 Elastic Scattering4 Inelastic Scattering and Beam Damage5 Electron Sources6 Lenses,Apertures,and Resolution7 How to“See”Electrons8 Pumps and Holders9 The Instrument10 Specimen Preparation Ⅱ Diffraction11 Diffraction Patterns12 Thinking in Reciprocal Space13 Diffracted Beams14 Bloch Waves15 Dispersion Surfaces16 Diffraction from Crystals17 Diffraction from Small Volumes18 Indexing Diffraction Patterns19 Kikuchi Diffraction20 Obtaining CBED Patterns21 Using Convergent-Beam Techniques Ⅲ Imaging22 Imaging in the TEM23 Thickness and Bending Effects24 Planar Defects25 Strain Fields26 Weak-Beam Dark-Field Microscopy27 Phase-Contrast Images28 High-Resolution TEM29 Image Simulation30 Quantifying and Processing HRTEM Images31 Other Imaging Techniques Ⅳ Spectrometry32 X-ray Spectrometry33 The XEDS-TEM Iterface34 Qualitative X-ray Analysis35 Qualitative X-ray Microanalysis36 Spatial Resolution and Minimum Detectability37 Electron Energy-Loss Spectrometers38 The Energy-Loss Spectrum39 Microanalysis with lonization-Loss Electrons40 Everything Else in the Spectrum
· · · · · · (收起)

读后感

评分☆☆☆☆☆

用户评价

评分☆☆☆☆☆

这套关于电子显微镜的书籍，真是让我大开眼界。我一直对微观世界的探索充满好奇，尤其是在材料科学和生命科学领域，电子显微镜的应用无处不在。这本书的宏大结构和内容的广度令人印象深刻，它似乎涵盖了从基础理论到前沿应用的方方面面。我尤其欣赏作者们在梳理复杂概念时的清晰逻辑，对于初学者来说，它提供了一个坚实的知识基础，让人能够逐步深入到更精细的细节中。那些关于样品制备和图像采集的章节，读起来就像是一份精心设计的操作指南，即使是那些我平时觉得晦涩难懂的技术细节，也被讲解得生动形象，让人有种跃跃欲试的冲动。全书的编排体现出极高的专业水准，让人感觉到这不仅仅是一套教科书，更像是一部权威的参考手册，足以伴随我度过很长一段时间的研究生涯。

评分☆☆☆☆☆

老实说，面对如此厚重的专业著作，一开始我感到有些畏惧，但深入阅读后，我发现它真正体现了“大象无形”的境界。它并没有试图用华丽的辞藻去包装深奥的原理，而是用最朴素、最严谨的数学和物理语言去构建起整个理论体系的骨架。在学习过程中，我发现自己对于微观形貌、晶体结构、缺陷分析等核心概念的理解，得到了质的飞跃。它教会我的不仅仅是如何操作仪器，更是如何像一个真正的电子显微镜学家那样去思考问题——如何从二维的图像中重建三维的真实世界，如何从信号的微弱变化中解读出物质的本质属性。这是一套真正能塑造思维方式的典籍。

评分☆☆☆☆☆

我对这套书的阅读体验可以用“沉浸式”来形容。它不是那种干巴巴的理论堆砌，而是充满了对实际问题的深刻洞察。作者们似乎深谙研究者在实际操作中会遇到的各种挑战，并提前给出了富有建设性的解决方案。我特别留意了其中关于高分辨率成像和谱学分析的部分，那些对衍射图样和图像对比度的深入探讨，极大地拓宽了我对成像机理的理解。更值得称道的是，书中穿插的那些经典案例和最新的研究成果，让知识点不再是孤立的符号，而是与现实世界的具体联系起来。阅读的过程，仿佛是跟随几位资深专家进行了一场长期的、高强度的学术交流会，每一次翻页都能带来新的启发，对于提升我的实验设计能力有着立竿见ීමේ的帮助。

评分☆☆☆☆☆

从排版和装帧来看，这套书显然是花费了大量心血的精品。纸张的质感、插图的清晰度，以及公式和图表的排布，都达到了顶级出版物的标准。在查阅一些特定技术名词时，我发现索引做得非常详尽且人性化，这对于需要快速定位信息的科研人员来说，是极其宝贵的。虽然内容深度要求读者具备一定的背景知识，但作者在关键术语的引入和解释上依然保持了克制而精准的节奏，确保了知识的传递效率。可以说，这是一套能让人心甘情愿地花时间去“啃”的专业书籍，它不仅是知识的载体，更是一种对科学探索精神的致敬。

评分☆☆☆☆☆

我发现这套书在跨学科的融合上做得非常出色。它并没有将自己局限在某一单一领域，而是巧妙地串联起了物理学、化学、材料科学乃至生物医学成像的脉络。我尤其欣赏作者们对不同分析技术（比如EELS和EDS）之间的优势与局限性的客观比较，这使得读者在选择实验方法时，能够做出更加明智的判断。书中对现代同步辐射源或球差校正仪等尖端设备的介绍，也紧跟住了科技发展的步伐。这种前瞻性和包容性，让这套书的生命力得以延续，即便几年后，它依然能够作为衡量该领域技术水平的重要参考标尺。

评分☆☆☆☆☆

超級大部頭的英文教材，雖然手上拿著電子版，可還是耽於紙質書的實感花了八十塊大洋去買了一本。特麽的買完回來就後悔了，實在是太大太重了.. 建議讀之前先看會劉文西的那本電鏡教材~

评分☆☆☆☆☆