长虹液晶彩色电视机电路分析与故障检修 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:人民邮电

作者:王晓东

出品人:

页数:214

译者:

出版时间:2007-10

价格:28.00元

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isbn号码:9787115163486

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晶体管电路设计与应用：从基础理论到现代实践 本书深入剖析了晶体管在电子系统设计中的核心地位与前沿应用，旨在为电子工程专业人士、高级技术爱好者以及相关领域的研究人员提供一套全面、深入且极具实践指导意义的技术指南。 本书结构严谨，内容涵盖了从基础半导体物理原理到复杂集成电路设计方法学的全景式知识体系。全书共分为七大部分，每一部分都围绕晶体管技术展开，层层递进，确保读者能够建立起坚实而系统的理论基础，并能熟练应用于实际工程项目之中。 --- 第一部分：半导体基础与晶体管物理原理（奠定基石） 本部分重点梳理了构成现代电子学核心的半导体物理学知识，为理解晶体管的工作机制打下坚实基础。 1.1 固体物理基础回顾： 深入探讨了能带理论、有效质量、载流子输运等基本概念，阐述了本征半导体和掺杂半导体的电学特性差异。 1.2 PN结的形成与特性： 详细分析了PN结的建立过程、势垒电场、以及在正向和反向偏置下的伏安特性曲线。重点讲解了雪崩击穿和齐纳击穿的物理机制及其在电路保护中的应用。 1.3 双极性结型晶体管（BJT）的深度解析： 结构与工作原理： 全面介绍了NPN和PNP晶体管的几何结构、载流子注入、扩散与漂移过程。 小信号模型（混合π模型与T模型）： 详细推导了晶体管在不同工作状态下的等效电路模型，并解释了高频特性（如过渡频率$f_T$和最大振荡频率$f_{max}$）的限制因素。 大信号模型与Ebers-Moll模型： 探讨了晶体管在开关和饱和状态下的非线性行为，这对于设计高精度数字电路至关重要。 1.4 场效应晶体管（FET）的原理与分类： 覆盖了结型场效应晶体管（JFET）和金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFET）的结构、阈值电压的确定、跨导特性以及栅氧层的物理限制。 --- 第二部分：晶体管放大电路分析与设计（模拟核心） 本部分聚焦于如何利用晶体管构建高性能的模拟放大电路，是电子系统信号处理能力的关键所在。 2.1 基本放大电路组态： 详细分析了共射极、共集电极（射随器）、共基极三种基本组态的输入阻抗、输出阻抗、电压增益和电流增益的计算方法及其应用场景。 2.2 偏置技术与稳定工作点确定： 深入探讨了分压偏置、发射极反馈偏置等技术，重点讲解了如何利用温度补偿元件（如热敏电阻）实现集电极电流对温度变化的稳定性。 2.3 多级放大电路的设计： 讲解了阻抗匹配、直接耦合、电容耦合和变压器耦合的优缺点。重点分析了级联放大器如何实现高电压增益和高输入阻抗。 2.4 射频与宽带放大器设计： 引入了中频（IF）放大器的设计概念，讨论了中和技术（Neutralization）和反馈技术在抑制寄生电容和展宽带宽中的应用。 2.5 功率放大器（PA）的效率优化： 详述了甲类、乙类、甲乙类和丙类功率放大器的结构和效率特点，侧重于如何通过负载线分析来确定最佳工作点以最大化输出功率和效率。 --- 第三部分：集成运放（IC）的内部结构与应用（系统集成） 本部分将焦点从分立元件转向高度集成的运算放大器，探究其内部结构并扩展到高级模拟应用。 3.1 经典运放结构剖析： 详细解析了差分输入级、增益级（跨导放大器）和输出缓冲级的具体实现电路，理解共模抑制比（CMRR）的来源。 3.2 运放的非理想特性分析： 探讨了输入失调电压、输入偏置电流、开环增益滚降、以及转换速率（Slew Rate）对电路性能的影响。 3.3 线性应用电路的高级设计： 覆盖了有源滤波器（如萨伦-基滤波器的设计）、精密整流电路、电压/电流转换器（V-I, I-V 转换）的设计与误差分析。 3.4 跨导-电流反馈架构： 介绍了现代高速运放中使用的跨导-电流反馈结构，以及它们在高速数据采集系统中的优势。 --- 第四部分：晶体管在开关与逻辑电路中的应用（数字基石） 本部分侧重于晶体管作为高速开关的使用，这是数字电子学的核心。 4.1 BJT开关的瞬态响应： 分析了开关电路中的存储时间、上升时间和下降时间，以及如何通过基极电流控制来优化开关速度。 4.2 MOSFET开关电路的优化： 讨论了体效应、栅极驱动电路的设计，以及如何选择合适的MOSFET（如增强型与耗尽型）以满足特定的驱动和开关频率要求。 4.3 晶体管逻辑家族（TTL与CMOS）： 深入比较了早期的电阻晶体管逻辑（RTL）、二极管逻辑（DTL）以及主流的晶体管-晶体管逻辑（TTL）和互补金属氧化物半导体（CMOS）的工作原理、噪声容限和功耗特性。 4.4 驱动与电平转换电路： 讲解了如何设计高效的NMOS或PMOS驱动器来驱动大容性负载（如LED阵列或长传输线），以及实现不同逻辑电平之间的精确转换。 --- 第五部分：反馈理论与系统稳定性分析（系统工程视角） 反馈是所有电子系统性能提升的关键，本部分从理论高度审视反馈在放大器和振荡器中的作用。 5.1 负反馈拓扑结构： 分析了串联、并联反馈以及电流/电压反馈四种基本拓扑，并计算了每种拓扑对增益、带宽和输入/输出阻抗的影响。 5.2 稳定性分析： 运用波德图（Bode Plot）和奈奎斯特图（Nyquist Plot）对闭环系统进行稳定性分析，确定相移裕度和增益裕度。 5.3 振荡器设计： 详细推导了起振条件（Barkhausen准则）。重点讲解了LC振荡器（哈特莱、科勒）和RC振荡器（相移振荡器、文氏电桥振荡器）的设计与频率漂移控制。 --- 第六部分：现代半导体器件与高级应用（面向未来） 本部分引入了当前电子工程领域的热点和新兴器件，拓宽读者的技术视野。 6.1 结型场效应管（JFET）在低噪声放大器中的应用： 分析JFET的低噪声特性，并设计基于JFET输入级的超低噪声前置放大器。 6.2 绝缘栅双极型晶体管（IGBT）与功率器件： 探讨了IGBT的结构优势，以及它在电机驱动和高压开关电源中的应用，侧重于开关损耗和热管理。 6.3 固态继电器与光耦合器设计： 讲解了如何利用光电晶体管和光敏晶体管实现隔离控制，以及在工控系统中的安全应用。 6.4 宽禁带半导体概述： 简要介绍碳化硅（SiC）和氮化镓（GaN）器件在超高频和高功率密度应用中的突破性进展。 --- 第七部分：电路的仿真、测试与故障排除方法论（工程实践） 本部分将理论与实践紧密结合，提供了从仿真建模到实际故障诊断的全套工程流程。 7.1 SPICE仿真技术： 详细介绍了如何利用标准和子电路模型对BJT和MOSFET电路进行瞬态、交流和直流工作点分析，特别是如何准确建模寄生参数。 7.2 噪声分析与抑制： 深入探讨了热噪声、散粒噪声的来源，以及如何通过选择合适的晶体管（如高$g_m$、低$f_T$的器件）和优化偏置来降低系统噪声系数（NF）。 7.3 故障诊断的系统方法： 提出了基于信号流的故障排除策略，包括电压法、电阻法和示波器探查法。强调了在复杂系统中，如何通过隔离模块和输入/输出对比来快速定位失效的晶体管级。 7.4 PCB布局对高频性能的影响： 讨论了地线设计、电源去耦以及元件布局对晶体管电路中寄生电感和电容的影响，这是确保高频电路稳定性的关键要素。 --- 本书旨在提供一个全面的、跨越模拟与数字领域的晶体管设计手册，不仅仅停留在电路公式的罗列，更注重工程实践中的设计权衡与优化，是电子工程师不可或缺的工具书。

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这本书的语言风格，有一种沉稳而又不失温度的力量感。它不是那种冷冰冰的工程文档，反而像是老一辈技术专家对后辈的谆谆教诲。在描述一些复杂的故障排除流程时，作者会适时地插入一些个人经验总结，用非常接地气的方式来解释深奥的电子现象，让读者在紧张的维修学习之余，能感受到一丝亲切感。比如，在讲解如何判断行驱动电路IC是否虚焊时，作者用了一个非常形象的比喻，将信号路径比作自来水管，描述了轻微腐蚀如何导致水流时断时续，这瞬间就将抽象的电信号不稳具象化了。这种“润物细无声”的教学手法，使得学习过程的疲惫感大大降低。阅读体验上，大量的彩色流程图和实物拆解对比图，使得枯燥的电路图不再是高不可攀的符号集合，而是真实可触摸的电子元件阵列。可以说，这是一本真正为实践者量身定做的参考书，它不仅仅是一本工具书，更像是一个可以随时翻阅、相互印证的专业伙伴，极大地增强了我对复杂故障的攻克信心。

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这本书最让我感到惊喜和受用的部分，是它在故障排查思路上的那份“哲学深度”。它没有直接给出“哪里坏了换哪里”的简单粗暴指令，而是构建了一套系统性的、由浅入深的排查框架。作者似乎深知维修工作的复杂性，不仅仅关注硬件层面的电阻电容，更着墨于软件调试和固件层面的微妙差异。例如，在描述图像处理芯片的初始化流程时，书中详尽分析了不同软件版本可能导致的“间歇性花屏”现象，并给出了相应的软件版本比对表。这种对细节的执着，简直是“工匠精神”的体现。读完关于背光驱动电路的章节后，我立刻感觉自己对那些时灵时不灵的“黑屏”问题有了新的认识。以往我总会首先怀疑LED灯条本身，但书里强调了驱动IC的温度漂移和PWM调光信号的稳定性问题，这立刻拓宽了我的诊断范围。更别提那些针对ESD（静电放电）对主板逻辑电路损害的案例分析，配图直观地展示了微小损坏点如何引发整个系统崩溃，这对于我们在日常操作中的防护意识提升，有着不可估量的价值。这本书，更像是一位经验丰富的大师，坐在你身旁，耐心引导你如何像侦探一样去解构复杂的电子迷局。

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坦率地说，市面上关于家电维修的书籍汗牛充栋，大多流于表面，无非是照搬电路图，然后简单标注出几个测试点电压。然而，这本册子却展现出一种罕见的“跨界整合能力”。它不仅仅局限于电路原理的解析，更穿插了大量关于液晶显示技术的物理学背景知识。比如，对T-Con板上时序控制逻辑如何与主板进行数据握手的过程描述，详细到像素时钟的产生和延迟补偿机制，这一点对于理解为何会出现“横线”或“拖影”故障至关重要。更难能可贵的是，作者似乎对不同厂商的私有化设计语言有着深刻的洞察力，虽然碍于篇幅无法一一列举，但其中提及的几种主流芯片组在特定模式下的“隐藏校验”机制，对于我们处理那些找不到公开技术手册的机器时，提供了宝贵的“猜想依据”。这本书的价值在于，它教会的不是如何死记硬背，而是如何根据现有的硬件表现，反向推导出设计者的初衷和当前系统运行的实际状态。它提升的不是你的手速，而是你的“脑力”。

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这本书的装帧设计和印刷质量着实令人印象深刻，那种厚实的纸张带来的手感，以及清晰锐利的插图排版，都透露出一种严谨和专业的态度。我尤其欣赏它在结构布局上的用心良苦，从基础的元器件知识梳理，到复杂的信号通路讲解，逻辑链条衔接得天衣无缝，即便是初学者，也能顺着作者的思路，逐步建立起对电视机内部工作原理的宏观认识。书中对不同年代、不同技术路线的液晶面板特性进行了细致的横向对比，这对于我们这些常年在一线接触各种“疑难杂症”的维修人员来说，简直就是一本活的“技术演进史”。它不仅仅是教你如何“修”，更重要的是让你理解“为什么会这样坏”，这种深入骨髓的探究精神，是很多市面上泛泛而谈的技术手册所不具备的。翻阅过程中，我发现作者在一些关键电路环节的处理上，总是能够引经据典，引用最新的行业标准和测试数据，使得理论支撑异常坚实有力。那几张针对电源部分纹波抑制的特写图，简直是教科书级别的范例，对比我过去依赖的那些模糊不清的扫描件，简直是天壤之别。我甚至觉得，这本书本身就是一件精密的仪器，它的每一页都经过了精密的“校准”，确保传递给读者的信息是准确无误且高效的。

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初次接触这本书时，我主要关注的是它的实用性，但读到后面，我发现它在“安全操作规范”和“专业工具使用”方面的论述也极其到位，这点常常被其他维修书籍所忽略。作者用了相当大的篇幅来讨论高压开关电源的安全操作规程，并详细对比了示波器、逻辑分析仪和专用测试卡在诊断不同故障类型时的优劣和适用场景。比如，书中对于如何安全地对大容量滤波电容进行放电操作，给出了多种替代方案和风险评估，这对于工作环境复杂的维修师傅来说，是性命攸关的提醒。另外，针对液晶电视机的拆解，这本书提供了不同机型结构特点的通用注意事项，比如OLED和QLED面板的应力敏感区域辨识，这避免了太多因鲁莽拆卸导致二次损坏的悲剧。整本书读下来，我感觉自己不仅在学习电路，更是在进行一次全方位的专业技能升级，它将“技术操作”与“职业素养”紧密地结合在一起，体现了对维修工程师职业本身的尊重。

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