CMOS Digital Integrated Circuits Analysis and Design

CMOS Digital Integrated Circuits Analysis and Design pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

出版者:McGraw-Hill College
作者:Kang, Sung-Mo/ Leblebici, Yusuf
出品人:
页数:672
译者:
出版时间:2002-10
价格:$ 270.35
装帧:HRD
isbn号码:9780072460537
丛书系列:
图书标签:
  • XJTLU
  • 专业
  • CMOS
  • 集成电路
  • 数字电路
  • 电路分析
  • 电路设计
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具体描述

"CMOS Digital Integrated Circuits: Analysis and Design" is the most complete book on the market for CMOS circuits. Appropriate for electrical engineering and computer science, this book starts with CMOS processing, and then covers MOS transistor models, basic CMOS gates, interconnect effects, dynamic circuits, memory circuits, BiCMOS circuits, I/O circuits, VLSI design methodologies, low-power design techniques, design for manufacturability and design for testability. This book provides rigorous treatment of basic design concepts with detailed examples. It typically addresses both the computer-aided analysis issues and the design issues for most of the circuit examples. Numerous SPICE simulation results are also provided for illustration of basic concepts. Through rigorous analysis of CMOS circuits in this text, students will be able to learn the fundamentals of CMOS VLSI design, which is the driving force behind the development of advanced computer hardware.

好的,这是一本专注于现代集成电路设计与分析的经典教材的详细简介,内容不涉及您提到的特定书籍: 现代半导体器件与电路设计:基础理论与前沿技术 图书定位: 本书旨在为电子工程、微电子学、材料科学等领域的学生、研究人员和行业工程师提供一套全面、深入且与时俱进的半导体器件物理、模拟与数字集成电路设计理论框架与实践指导。它侧重于从底层物理机制到系统级实现的完整技术链条的剖析。 --- 第一部分:半导体器件物理基础与模型精要 本部分构建了理解现代集成电路性能瓶颈和设计权衡的基础。内容从半导体材料的晶体结构、能带理论入手,系统阐述了载流子输运机制、PN结和MOS结构的基本工作原理。 1. 基础半导体物理: 深入探讨了晶体缺陷、杂质势能、费米能级在热平衡和非平衡状态下的行为。详细分析了漂移、扩散电流的微观来源,并介绍了霍尔效应在材料表征中的应用。对于材料科学背景的读者,提供了理解器件性能极限的物理基础。 2. 晶体管核心模型: 重点剖析了双极型晶体管(BJT)和场效应晶体管(FET)的内部物理过程。对于MOSFET,本书摒弃了过于简化的早期模型,转而深入研究近源/漏极效应(如DIBL、沟道长度调制)、有限沟道效应、亚阈值斜率的物理限制,以及高温和低温下的行为偏差。同时,详细介绍了用于电路仿真的混合参数模型(如BSIM系列模型的核心概念),特别是关于沟道电荷模型的精确处理,这对高精度模拟电路设计至关重要。 3. 先进器件结构: 随着摩尔定律的推进,传统平面结构已接近极限。本部分专门辟章讨论了下一代晶体管结构,包括鳍式场效应晶体管(FinFET)的静电控制机制、应变硅技术(Strained Silicon)对载流子迁移率的提升,以及对隧道效应晶体管(TFET)等低功耗器件的初步探索。理解这些结构是掌握当代先进工艺节点(如10nm及以下)设计梯度的关键。 --- 第二部分:模拟集成电路设计:从单元到子系统 本部分聚焦于电路设计中对精度、动态范围和低噪声要求最高的模拟域。设计方法论强调性能指标的量化分析与折衷。 1. 晶体管级基础: 详细分析了晶体管的跨导 ($g_m$)、输出阻抗 ($r_o$) 和增益带宽积(GBW)在不同工作区域的特性。重点讲解了噪声分析,包括热噪声、闪烁噪声($1/f$ Noise)的产生机理及在设计中(如输入级选择)的抑制策略。 2. 核心单元电路: 详尽讨论了偏置电路、电流镜的设计与失配(Mismatch)分析。在放大器设计方面,系统梳理了共源极、共射极、共基极等基本放大结构,并深入研究了高增益差分放大器的设计,包括共模抑制比(CMRR)和电源抑制比(PSRR)的优化。大量的篇幅用于分析反馈理论在运算放大器(Op-Amp)频率补偿中的应用,如米勒补偿、导纳提升补偿等。 3. 关键模拟子系统: 涵盖了高精度数据转换器(ADC/DAC)的设计原理。对于ADC,重点阐述了采样与保持(S/H)电路的设计挑战、流水线(Pipeline)结构的时序要求与校准技术。对于DAC,讨论了电阻梯形、R-2R以及电容分阵(Charge-Scaling DACs)的非线性误差来源与校正。此外,还包括低噪声锁相环(PLL)的相位噪声分析和环路滤波器设计。 --- 第三部分:数字集成电路设计与系统实现 本部分关注大规模数字电路的设计流程、时序分析和功耗管理,是当前芯片设计的主流领域。 1. 静态时序分析(STA)的深入: 区别于简单的时间裕量计算,本书深入讲解了STA的原理,包括启动时间(Setup Time)、保持时间(Hold Time)的精确定义。详细分析了时钟偏移(Clock Skew)、时钟毛刺(Clock Glitch)和过程、电压、温度(PVT)变化对时序裕量的影响,并介绍了多周期路径和交叉时钟域的约束处理方法。 2. 低功耗设计技术: 功耗管理是现代数字系统的核心挑战。内容覆盖了从工艺级到系统级的多层次降功耗策略。包括动态功耗的电压频率调节(DVFS)、时钟门控(Clock Gating)的实现与避免竞争冒险(Hazard)的设计;以及静态功耗控制技术,如阈值电压优化(Multi-Vt Cell Selection)和电源门控(Power Gating)在隔离和唤醒电路中的应用。 3. 存储器与接口电路: 系统地分析了SRAM单元(如6T、8T单元)的读写稳定性(Noise Margin Analysis)和写能力限制。对DRAM的电荷泵和刷新机制进行了物理层面的探讨。同时,介绍了高速串行接口(如SerDes)的基本原理,包括均衡技术(如CTLE、DFE)对信道损耗的补偿机制。 --- 第四部分:EDA工具链与版图实现挑战 本部分连接了理论设计与实际制造之间的桥梁,强调了设计验证和物理实现环节中的关键考虑因素。 1. 设计验证与仿真: 详述了电路仿真中的收敛性问题,特别是对于开关噪声大、高频效应明显的电路。介绍了Monte Carlo仿真在分析工艺失配和噪声裕度中的作用。强调了HDL语言(如Verilog/VHDL)在功能验证中的建模精度要求。 2. 版图设计与寄生参数提取: 阐述了版图对电路性能的决定性影响。重点讨论了互连线寄生电阻和电容的提取方法,以及它们如何影响延迟和串扰(Crosstalk)。深入分析了版图效应(Layout Effects),如阱效应(Well Effect)、电迁移(Electromigration)和静电放电(ESD)保护电路的设计原则。 3. 信号完整性与电源完整性: 针对高集成度芯片,详细分析了电源网络中的去耦电容规划、电感耦合的建模与抑制,以及地弹(Ground Bounce)的产生和缓解措施。对于高速信号线,讨论了串扰对相邻信号的影响,并介绍了串扰屏蔽技术和差分信号设计中的线宽和间距规则。 --- 总结: 本书通过严谨的物理基础、成熟的设计范例和对前沿挑战的讨论,旨在培养读者构建复杂集成电路系统的能力,使他们不仅知其“如何做”(How),更能深刻理解其“为何如此”(Why),从而适应快速迭代的半导体技术发展需求。

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读后感

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用户评价

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我是一名对电子工程领域有着浓厚兴趣的爱好者,虽然没有接受过系统的专业训练,但一直渴望能够学习一些核心的电子技术。《CMOS Digital Integrated Circuits Analysis and Design》这本书,虽然书名听起来有些专业,但实际阅读起来却发现它对初学者也相当友好。书中从最基本的概念讲起,例如电压、电流、电阻等,然后循序渐进地引入MOSFET的工作原理。即便是在讲解一些更复杂的电路时,作者也尽可能地使用清晰的语言和生动的比喻,让非专业人士也能够理解。这本书让我认识到,原来那些我们日常使用的电子设备,其核心的芯片设计竟然如此精妙。它让我看到了集成电路设计背后庞大的知识体系,也激发了我进一步学习的动力,让我对接下来的电子工程学习充满了期待。

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作为一名初入模拟电路设计领域的研究生,我一直面临着如何在CMOS工艺下实现高性能模拟电路的挑战。在导师的推荐下,我开始阅读《CMOS Digital Integrated Circuits Analysis and Design》,起初有些担心它过于偏向数字电路,但实际阅读后,我发现它提供了许多宝贵的背景知识和分析方法,对于理解模拟电路的CMOS特性非常有帮助。书中对MOSFET在不同工作区域下的行为分析,以及各种CMOS基本电路单元(如反相器、电流镜)的详细讲解,都为我理解模拟电路的构建提供了坚实的基础。虽然它不是一本纯粹的模拟电路书籍,但它对CMOS器件特性的深入剖析,以及对电路性能优化(如功耗、速度)的探讨,都极大地启发了我对模拟电路设计思路的拓展。我尤其喜欢书中关于噪声分析和失配效应的部分,这对我理解和减小模拟电路中的误差至关重要。总而言之,这本书为我打开了理解CMOS模拟电路设计的一扇窗户。

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我一直对集成电路设计充满兴趣,但苦于找不到一本能够系统梳理CMOS数字集成电路设计原理和方法的书籍。偶然间,我翻阅了这本《CMOS Digital Integrated Circuits Analysis and Design》,原本只是想随便看看,没想到却被它深深吸引。这本书的讲解非常清晰,从最基础的MOSFET器件模型入手,逐步深入到复杂的逻辑门电路、时序电路以及存储器等设计。书中大量的图示和实例,让抽象的概念变得直观易懂,尤其是在分析电路性能和功耗方面,作者的讲解细致入微,让我在理解CMOS电路的精妙之处时,获得了前所未有的成就感。这本书不仅仅是理论的堆砌,更注重实际的设计考量,例如版图设计、互连线效应、噪声分析等,这些都是在实际工程中不可或缺的知识点。读完这本书,我感觉自己在CMOS数字集成电路设计领域,已经建立起了一个坚实的知识体系,也更有信心去探索更深层次的设计技术。

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在我看来,一本好的技术书籍,应该能够激发读者的探索欲,并为他们提供解决问题的工具。《CMOS Digital Integrated Circuits Analysis and Design》无疑做到了这一点。它不仅仅是一本教科书,更像是一位经验丰富的导师,引导读者一步步揭开CMOS集成电路设计的奥秘。从MOSFET的开关特性到复杂的数字系统架构,书中几乎涵盖了所有重要的方面。作者在解释原理时,总是能够巧妙地结合实际的应用场景,让我们能够理解理论知识的价值和意义。我尤其被书中关于低功耗设计和高速电路设计的章节所吸引,这些都是当今集成电路设计领域的热点和难点,而这本书则提供了非常扎实的基础理论和分析方法。读完之后,我感觉自己对集成电路设计有了更宏观的认识,也为今后深入研究特定领域打下了坚实的基础。

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我在大学期间学习过数字逻辑电路和一些基本的半导体物理知识,但一直觉得对CMOS集成电路的理解不够深入,尤其是在如何从理论走向实际电路设计方面存在瓶颈。《CMOS Digital Integrated Circuits Analysis and Design》这本书恰好填补了这一空白。它不仅涵盖了CMOS器件的物理特性,还详细介绍了各种CMOS逻辑门的实现方式、时序电路的设计以及存储器单元的结构。书中通过大量的图解和公式推导,将复杂的概念一步步分解,使得读者能够清晰地理解电路的工作原理。我特别欣赏书中关于工艺偏差和可靠性方面的讨论,这让我意识到,在实际的集成电路设计中,这些因素是多么重要。这本书的实用性很强,很多内容都可以直接应用到课程设计和未来的工作实践中,让我对CMOS集成电路设计有了更全面、更深入的认识。

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策哥的课!

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