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Zhou, Weilie (EDT)/ Wang, Zhong Lin (EDT) 作者

Springer Verlag

译者

2006-11 出版日期

552 页数

$ 224.87 价格

HRD

丛书系列

9780387333250 图书编码

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发表于2024-11-13

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Scanning Microscopy for Nanotechnology 在线电子书图书描述

This book presents scanning electron microscopy (SEM) fundamentals and applications for nanotechnology. It includes integrated fabrication techniques using the SEM, such as e-beam and FIB, and it covers in-situ nanomanipulation of materials. The book is written by international experts from the top nano-research groups that specialize in nanomaterials characterization. The book will appeal to nanomaterials researchers, and to SEM development specialists.

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