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Noncontact Atomic Force Microscopy

簡體網頁||繁體網頁
Morita, S. 作者
Springer Verlag
譯者
出版日期
457 頁數
$ 303.97 價格
HRD
叢書系列
9783540431176 圖書編碼

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發表於2024-11-30

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Noncontact Atomic Force Microscopy 在線電子書 圖書描述

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.

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