Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024
☆☆☆☆☆
簡體網頁||
繁體網頁
Sachdev, Manoj/ de Gyvez, Jose Pineda 作者
Springer Verlag
譯者
2007-6 出版日期
352 頁數
$ 213.57 價格
HRD
叢書系列
9780387465463 圖書編碼
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 圖書標籤:
喜歡 Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 的讀者還喜歡
下載鏈接在頁面底部
點擊這裡下載
立刻按 ctrl+D收藏本頁
你會得到大驚喜!!
發表於2024-11-30
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 epub 下載 mobi 下載 pdf 下載 txt 下載 2024
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 epub 下載 pdf 下載 mobi 下載 txt 下載 2024
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 用戶評價
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 著者簡介
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 著者簡介
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 在線電子書下載
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 圖書描述
The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance.
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 下載 mobi epub pdf txt 在線電子書下載
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 讀後感
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
評分
☆☆☆☆☆
類似圖書 點擊查看全場最低價
Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024