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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024

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Sachdev, Manoj/ de Gyvez, Jose Pineda 作者

Springer Verlag

譯者

2007-6 出版日期

352 頁數

$ 213.57 價格

HRD

叢書系列

9780387465463 圖書編碼

Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書圖書標籤:

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發表於2024-09-22

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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書用戶評價

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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書著者簡介

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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits 在線電子書圖書描述

The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance.

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