Power-Constrained Testing of Vlsi Circuits pdf epub mobi txt 电子书下载 2026

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出版者:Kluwer Academic Pub

作者:Nicolici, Nicola/ Al-Hashimi, Bashir

出品人:

页数:180

译者:

出版时间:

价格:2110.64元

装帧:HRD

isbn号码:9781402072352

丛书系列:

图书标签:

VLSI Testing
Power-Constrained Testing
Low-Power VLSI
Fault Modeling
Test Generation
Design for Testability
IC Testing
Digital Circuits
Hardware Testing
Reliability

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具体描述

《Power-Constrained Testing of VLSI Circuits》是一本系统性且深入的科技书籍，专注于在微集成电路（VLSI）领域进行测试方法的研究和实践。书中详细探讨了当资源、时间与能源面临严格限制的条件下，如何有效设计和实施测试方案。作者通过大量案例分析，解析了不同类型测试技术在实际应用中的适用性，为读者提供了全面的理论基础与操作指南。这本书不仅涵盖了传统的硬件测试方法，还引入了最新的自动化测试工具和优化策略，使其内容贴合现代半导体设计与制造的需求。本文着眼于VLSI领域复杂性，系统梳理了功耗控制、信号完整性检测及故障注入等关键测试内容，帮助读者理解如何在有限资源下进行精准且高效的验证。书中还特别重视技术与行业趋势的结合，分析了如何通过数据驱动的方法提升测试覆盖率，同时减少不必要的资源浪费。这部分章节深入讨论了功耗测量、时序分析以及容错设计等前沿话题，为从业者提供实用性指导。书中特别强调了对理论与实践的平衡，通过大量实际项目案例，展示如何将复杂的测试流程转化为可执行方案。读者可以通过这些示范工程了解不同测试技术在特定场景下的表现，并学习如何优化资源配置、提升系统稳定性。此外，本书还详细介绍了VLSI设计过程中常见的问题及其解决方案，帮助作者更好地应对实际开发中的挑战。《Power-Constrained Testing of VLSI Circuits》不仅是一本技术浅显的指南，更是一个深入探讨资源与性能平衡的重要文献。它特别适合希望提升对VLSI测试方法理解、掌握前沿技术以及优化设计流程的工程师和研究人员。通过这本书，读者将能够建立更全面、科学的测试策略，为高效、可靠的芯片开发提供坚实支持。这一书内容丰富且逻辑清晰，适用于学术研究与工业应用两个重要场景。总体来说，这本书在解析VLSI测试复杂性方面具有独特价值，为读者提供了系统化、高层次的学习资源。其详细的章节结构和实际案例分析，使每个读者都能找到适合自己的知识点，深入理解该领域的核心挑战与解决路径。