Power-Constrained Testing of Vlsi Circuits pdf epub mobi txt 電子書下載2026

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出版者:Kluwer Academic Pub

作者:Nicolici, Nicola/ Al-Hashimi, Bashir

出品人:

頁數:180

译者:

出版時間:

價格:2110.64元

裝幀:HRD

isbn號碼:9781402072352

叢書系列:

圖書標籤:

VLSI Testing
Power-Constrained Testing
Low-Power VLSI
Fault Modeling
Test Generation
Design for Testability
IC Testing
Digital Circuits
Hardware Testing
Reliability

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具體描述

《Power-Constrained Testing of VLSI Circuits》是一本係統性且深入的科技書籍，專注於在微集成電路（VLSI）領域進行測試方法的研究和實踐。書中詳細探討瞭當資源、時間與能源麵臨嚴格限製的條件下，如何有效設計和實施測試方案。作者通過大量案例分析，解析瞭不同類型測試技術在實際應用中的適用性，為讀者提供瞭全麵的理論基礎與操作指南。這本書不僅涵蓋瞭傳統的硬件測試方法，還引入瞭最新的自動化測試工具和優化策略，使其內容貼閤現代半導體設計與製造的需求。本文著眼於VLSI領域復雜性，係統梳理瞭功耗控製、信號完整性檢測及故障注入等關鍵測試內容，幫助讀者理解如何在有限資源下進行精準且高效的驗證。書中還特彆重視技術與行業趨勢的結閤，分析瞭如何通過數據驅動的方法提升測試覆蓋率，同時減少不必要的資源浪費。這部分章節深入討論瞭功耗測量、時序分析以及容錯設計等前沿話題，為從業者提供實用性指導。書中特彆強調瞭對理論與實踐的平衡，通過大量實際項目案例，展示如何將復雜的測試流程轉化為可執行方案。讀者可以通過這些示範工程瞭解不同測試技術在特定場景下的錶現，並學習如何優化資源配置、提升係統穩定性。此外，本書還詳細介紹瞭VLSI設計過程中常見的問題及其解決方案，幫助作者更好地應對實際開發中的挑戰。《Power-Constrained Testing of VLSI Circuits》不僅是一本技術淺顯的指南，更是一個深入探討資源與性能平衡的重要文獻。它特彆適閤希望提升對VLSI測試方法理解、掌握前沿技術以及優化設計流程的工程師和研究人員。通過這本書，讀者將能夠建立更全麵、科學的測試策略，為高效、可靠的芯片開發提供堅實支持。這一書內容豐富且邏輯清晰，適用於學術研究與工業應用兩個重要場景。總體來說，這本書在解析VLSI測試復雜性方麵具有獨特價值，為讀者提供瞭係統化、高層次的學習資源。其詳細的章節結構和實際案例分析，使每個讀者都能找到適閤自己的知識點，深入理解該領域的核心挑戰與解決路徑。