Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing) 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024


Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing)

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Zorian, Yervant 編 作者
Springer
譯者
1997-05-31 出版日期
167 頁數
USD 147.00 價格
Hardcover
叢書系列
9780792399209 圖書編碼

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發表於2024-12-29

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Multi-Chip Module Test Strategies (Frontiers in Electronic Testing) 在線電子書 圖書描述

MCMs today consist of complex and dense VLSI devices mounted into packages that allow little physical access to internal nodes. The complexity and cost associated with their test and diagnosis are major obstacles to their use. Multi-Chip Module Test Strategies presents state-of-the-art test strategies for MCMs. This volume of original research is designed for engineers interested in practical implementations of MCM test solutions and for designers looking for leading edge test and design-for-testability solutions for their next designs. Multi-Chip Module Test Strategies consists of eight contributions by leading researchers. It is designed to provide a comprehensive and well-balanced coverage of the MCM test domain. Multi-Chip Module Test Strategies has also been published as a special issue of the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA, Volume 10, Numbers 1 and 2).

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