专用集成电路设计基础教程 pdf epub mobi txt 电子书 下载 2025

第1章 专用集成电路概述 1 1.1 集成电路的发展 1 1.2 集成电路的分类 2 1.2.1 按集成规模分类 2 1.2.2 按制作工艺分类 3 1.2.3 按生产形式(按适用性)分类 4 1.2.4 按设计风格分类 4 1.2.5 按用途分类 5 1.3 ASIC及其发展趋势 5 1.4 专用集成电路设计流程 6第2章 集成电路的基本制造工艺及版图设计 11 2.1 集成电路的基本制造工艺 12 2.1.1 双极工艺 14 2.1.2 CMOS工艺 18 2.1.3 BiCMOS工艺 23 2.2 集成电路的封装工艺 26 2.2.1 集成电路的封装类型 26 2.2.2 集成电路封装工艺流程 27 2.2.3 封装材料 28 2.2.4 互连级别 28 2.2.5 在封装中对于热学方面问题的考虑 29 2.3 集成电路版图设计 30 2.3.1 版图概述 30 2.3.2 版图设计规则 30 2.3.3 版图检查与验证 34 2.3.4 IC版图格式 36第3章 器件的物理基础及其SPICE模型〖WT〗 39 3.1 PN结 39 3.1.1 PN结的形成 39 3.1.2 PN结的理想伏安特性 40 3.1.3 PN结的单向导电性 40 3.2 有源器件 42 3.2.1 双极型晶体管及其SPICE模型 42 3.2.2 MOS晶体管及其SPICE模型 48 3.3 无源器件 53 3.3.1 电阻及其SPICE模型 53 3.3.2 电容及其SPICE模型 58 3.3.3 集成二极管及其SPICE模型 60 3.4 模型参数提取 62第4章 数字集成电路设计技术 64 4.1 MOS开关及CMOS传输门 64 4.1.1 MOS开关 64 4.1.2 CMOS传输门 66 4.2 CMOS反相器 67 4.2.1 CMOS反相器的工作原理 68 4.2.2 CMOS反相器的直流传输特性 69 4.2.3 CMOS反相器的静态特性 71 4.2.4 CMOS反相器的动态特性 74 4.2.5 CMOS反相器的功耗和速度 76 4.2.6 BiCMOS反相器 78 4.3 CMOS组合逻辑 79 4.3.1 CMOS与非门 79 4.3.2 CMOS或非门 82 4.3.3 CMOS与或非门 84 4.3.4 CMOS组合逻辑门电路设计方法 85 4.4 触发器 87 4.4.1 RS触发器 87 4.4.2 D触发器 89 4.4.3 施密特触发器 92 4.5 存储器 95 4.5.1 随机存取存储器(RAM) 95 4.5.2 只读存储器(ROM) 100第5章 模拟集成电路设计技术 103 5.1 电流源 103 5.1.1 双极型电流源电路 103 5.1.2 MOS电流源 108 5.2 差分放大器 110 5.2.1 双极IC中的放大电路 111 5.2.2 CMOS差动放大器 116 5.3 集成运算放大器电路 128 5.3.1 双极集成运算放大器 128 5.3.2 CMOS集成运算放大器 132 5.3.3 集成运算放大器的主要性能指标 136 5.4 比较器 137 5.4.1 比较器的基本特性 138 5.4.2 两级开环比较器 141 5.4.3 其他开环比较器 145 5.4.4 开环比较器性能的改进 147 5.5 带隙基准 154 5.5.1 基本原理分析 154 5.5.2 实际电路分析 156 5.6 振荡器 157 5.6.1 概述 157 5.6.2 环形振荡器 158 5.6.3 压控振荡器(VCO) 159第6章 专用集成电路设计方法 162 6.1 全定制设计方法(Full-Custom Design Approach) 162 6.2 半定制设计方法(Semi-Custom Design Approach) 163 6.2.1 标准单元设计方法 163 6.2.2 门阵列设计方法 166 6.2.3 标准单元法与门阵列法的比较 169 6.2.4 设计实例 171 6.3 可编程逻辑器件(PLD)设计方法 174 6.3.1 概述 174 6.3.2 PLD的结构与分类 174 6.3.3 宏单元设计方法 177 6.3.4 设计流程 178 6.4 现场可编程门阵列(FPGA)设计方法 179 6.4.1 现场可编程门阵列(FPGA)的基本组成 179 6.4.2 现场可编程门阵列(FPGA)的优点及设计过程 180 6.5 不同设计方法的比较 180第7章 专用集成电路测试与可测性设计 183 7.1 测试的重要性 183 7.2 故障模型与模拟 184 7.2.1 故障模型 184 7.2.2 故障模拟 186 7.3 可测性设计 187 7.3.1 针对性(Ad Hoc)测试法 189 7.3.2 基于扫描的测试技术 190 7.3.3 内建自测试(BIST)技术 193 7.4 自动测试模板生成 196第8章 专用集成电路计算机辅助设计简介 197 8.1 概述 197 8.2 专用集成电路CAD工具简介 200 8.2.1 Cadence 200 8.2.2 Tanner Tools 210参考文献 218
· · · · · · (收起)