專用集成電路設計基礎教程 pdf epub mobi txt 電子書 下載2025

第1章 專用集成電路概述 1 1.1 集成電路的發展 1 1.2 集成電路的分類 2 1.2.1 按集成規模分類 2 1.2.2 按製作工藝分類 3 1.2.3 按生産形式(按適用性)分類 4 1.2.4 按設計風格分類 4 1.2.5 按用途分類 5 1.3 ASIC及其發展趨勢 5 1.4 專用集成電路設計流程 6第2章 集成電路的基本製造工藝及版圖設計 11 2.1 集成電路的基本製造工藝 12 2.1.1 雙極工藝 14 2.1.2 CMOS工藝 18 2.1.3 BiCMOS工藝 23 2.2 集成電路的封裝工藝 26 2.2.1 集成電路的封裝類型 26 2.2.2 集成電路封裝工藝流程 27 2.2.3 封裝材料 28 2.2.4 互連級彆 28 2.2.5 在封裝中對於熱學方麵問題的考慮 29 2.3 集成電路版圖設計 30 2.3.1 版圖概述 30 2.3.2 版圖設計規則 30 2.3.3 版圖檢查與驗證 34 2.3.4 IC版圖格式 36第3章 器件的物理基礎及其SPICE模型〖WT〗 39 3.1 PN結 39 3.1.1 PN結的形成 39 3.1.2 PN結的理想伏安特性 40 3.1.3 PN結的單嚮導電性 40 3.2 有源器件 42 3.2.1 雙極型晶體管及其SPICE模型 42 3.2.2 MOS晶體管及其SPICE模型 48 3.3 無源器件 53 3.3.1 電阻及其SPICE模型 53 3.3.2 電容及其SPICE模型 58 3.3.3 集成二極管及其SPICE模型 60 3.4 模型參數提取 62第4章 數字集成電路設計技術 64 4.1 MOS開關及CMOS傳輸門 64 4.1.1 MOS開關 64 4.1.2 CMOS傳輸門 66 4.2 CMOS反相器 67 4.2.1 CMOS反相器的工作原理 68 4.2.2 CMOS反相器的直流傳輸特性 69 4.2.3 CMOS反相器的靜態特性 71 4.2.4 CMOS反相器的動態特性 74 4.2.5 CMOS反相器的功耗和速度 76 4.2.6 BiCMOS反相器 78 4.3 CMOS組閤邏輯 79 4.3.1 CMOS與非門 79 4.3.2 CMOS或非門 82 4.3.3 CMOS與或非門 84 4.3.4 CMOS組閤邏輯門電路設計方法 85 4.4 觸發器 87 4.4.1 RS觸發器 87 4.4.2 D觸發器 89 4.4.3 施密特觸發器 92 4.5 存儲器 95 4.5.1 隨機存取存儲器(RAM) 95 4.5.2 隻讀存儲器(ROM) 100第5章 模擬集成電路設計技術 103 5.1 電流源 103 5.1.1 雙極型電流源電路 103 5.1.2 MOS電流源 108 5.2 差分放大器 110 5.2.1 雙極IC中的放大電路 111 5.2.2 CMOS差動放大器 116 5.3 集成運算放大器電路 128 5.3.1 雙極集成運算放大器 128 5.3.2 CMOS集成運算放大器 132 5.3.3 集成運算放大器的主要性能指標 136 5.4 比較器 137 5.4.1 比較器的基本特性 138 5.4.2 兩級開環比較器 141 5.4.3 其他開環比較器 145 5.4.4 開環比較器性能的改進 147 5.5 帶隙基準 154 5.5.1 基本原理分析 154 5.5.2 實際電路分析 156 5.6 振蕩器 157 5.6.1 概述 157 5.6.2 環形振蕩器 158 5.6.3 壓控振蕩器(VCO) 159第6章 專用集成電路設計方法 162 6.1 全定製設計方法(Full-Custom Design Approach) 162 6.2 半定製設計方法(Semi-Custom Design Approach) 163 6.2.1 標準單元設計方法 163 6.2.2 門陣列設計方法 166 6.2.3 標準單元法與門陣列法的比較 169 6.2.4 設計實例 171 6.3 可編程邏輯器件(PLD)設計方法 174 6.3.1 概述 174 6.3.2 PLD的結構與分類 174 6.3.3 宏單元設計方法 177 6.3.4 設計流程 178 6.4 現場可編程門陣列(FPGA)設計方法 179 6.4.1 現場可編程門陣列(FPGA)的基本組成 179 6.4.2 現場可編程門陣列(FPGA)的優點及設計過程 180 6.5 不同設計方法的比較 180第7章 專用集成電路測試與可測性設計 183 7.1 測試的重要性 183 7.2 故障模型與模擬 184 7.2.1 故障模型 184 7.2.2 故障模擬 186 7.3 可測性設計 187 7.3.1 針對性(Ad Hoc)測試法 189 7.3.2 基於掃描的測試技術 190 7.3.3 內建自測試(BIST)技術 193 7.4 自動測試模闆生成 196第8章 專用集成電路計算機輔助設計簡介 197 8.1 概述 197 8.2 專用集成電路CAD工具簡介 200 8.2.1 Cadence 200 8.2.2 Tanner Tools 210參考文獻 218
· · · · · · (收起)