Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024


Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005

簡體網頁||繁體網頁
Seiler, D. G.; Seiler, David G.; Diebold, Alain C. 作者
American Inst. of Physics
譯者
2005-9-29 出版日期
667 頁數
USD 245.00 價格
Hardcover
叢書系列
9780735402775 圖書編碼

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 圖書標籤:  


喜歡 Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 的讀者還喜歡




點擊這裡下載
    


想要找書就要到 圖書目錄大全
立刻按 ctrl+D收藏本頁
你會得到大驚喜!!

發表於2024-11-10

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 epub 下載 mobi 下載 pdf 下載 txt 下載 2024

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 epub 下載 pdf 下載 mobi 下載 txt 下載 2024

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024



Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 用戶評價

評分

評分

評分

評分

評分

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 著者簡介


Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 著者簡介


Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 在線電子書下載

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 圖書描述

The worldwide semiconductor community faces increasingly difficult challenges in the era of silicon nanotechnology and beyond. The magnitude of these challenges demands special attention from the metrology and analytical measurements community. New paradigms must be found. Adequate research and development for new metrology concepts are urgently needed. Characterization and metrology are key enablers for developing new semiconductor technology and in improving manufacturing. This book summarizes major issues and gives critical reviews of important measurement techniques that are crucial to continuing the advances in semiconductor technology. It covers major aspects of process technology and most characterization techniques for silicon research, including development, manufacturing, and diagnostics. The book also covers emerging nano-devices and the corresponding metrology challenges that arise.

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 下載 mobi epub pdf txt 在線電子書下載


想要找書就要到 圖書目錄大全
立刻按 ctrl+D收藏本頁
你會得到大驚喜!!

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 讀後感

評分

評分

評分

評分

評分

類似圖書 點擊查看全場最低價

Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 pdf 下載 txt下載 epub 下載 mobi 下載 2024


分享鏈接





Characterization and Metrology for ULSI Technology 2005 在線電子書 相關圖書




本站所有內容均為互聯網搜索引擎提供的公開搜索信息,本站不存儲任何數據與內容,任何內容與數據均與本站無關,如有需要請聯繫相關搜索引擎包括但不限於百度google,bing,sogou

友情鏈接

© 2024 book.wenda123.org All Rights Reserved. 圖書目錄大全 版權所有