Test and Measurement Applications of Optoelectronic Devices (Proceedings of Spie) pdf epub mobi txt 电子书 下载 2026

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出版者:Society of Photo Optical

作者:

出品人:

页数:0

译者:

出版时间:2002-04-16

价格:USD 70.00

装帧:Paperback

isbn号码:9780819443878

丛书系列:

图书标签:

• Optoelectronics
• Testing
• Measurement
• Optical Devices
• SPIE Proceedings
• Photonics
• Instrumentation
• Sensors
• Optical Engineering
• Applied Physics

光电子器件在测试与测量中的应用（SPIE 会议论文集） 本书简介 本书是汇集了光电子学领域前沿研究成果的会议论文集，聚焦于光电子器件在各类精密测试与测量技术中的创新应用。全书内容涵盖了从基础理论到实际工程应用的广泛主题，旨在为科研人员、工程师以及行业专家提供一个深入了解该领域最新进展的平台。 核心主题与章节概述 本书内容结构严谨，围绕光电子技术在现代测量科学中的关键作用展开，主要分为以下几个相互关联的核心部分： 第一部分：光电传感器的基本原理与新型结构 本部分深入探讨了用于光电测量的各类传感器的物理基础与设计优化。重点关注了如何通过材料科学和器件结构创新，提升传感器的灵敏度、动态范围和长期稳定性。 新型光电探测器技术： 详细介绍了基于半导体异质结、量子点、以及二维材料（如石墨烯、过渡金属硫化物）构建的高性能光电二极管和光电导探测器的性能特性。讨论了如何通过表面等离子体共振（SPR）增强效应，实现对微弱光学信号的超灵敏捕获。 光纤传感器的最新进展： 专题涵盖了基于光纤布拉格光栅（FBG）、长周期光纤光栅（LPFG）以及白光干涉技术在应力、温度、振动和化学物质监测中的应用。特别关注了分布式光纤传感（DOS）技术在基础设施健康监测（IHM）中的突破性进展，包括基于拉曼散射和后向散射的温度和应变剖面测量方法。 光电调制与解调技术： 分析了高速电光调制器（EOM）和声光调制器（AOM）在构建高带宽、低噪声光信号发生器和解调器中的关键作用。探讨了相干检测和零差检测在弱信号测量中的优势。 第二部分：精密光学测量与计量 本部分侧重于光电子学在实现高精度、非接触式测量中的应用，是计量科学领域的重要组成部分。 激光干涉计量学： 集中探讨了多频激光外差干涉仪在位移、表面形貌和振动测量中的最新优化方案。研究了如何利用频率梳技术（Frequency Combs）实现超高精度的长度和频率标准。 光谱分析技术： 介绍了基于傅里叶变换光谱仪（FTS）和可调谐激光吸收光谱（TLAS）在气体成分分析和痕量污染物检测中的应用。讨论了如何结合机器学习算法，加速复杂光谱数据的反演与解析。 三维成像与轮廓测量： 深入研究了结构光（Structured Light）投影系统和时间飞行（Time-of-Flight, ToF）相机在工业检测和机器人导航中的精度提升。重点分析了相位展开算法的改进，以克服多义性问题，提高复杂曲面测量的鲁棒性。 第三部分：光电子学在工业与环境监测中的实践 本部分聚焦于将实验室研究成果转化为可靠的工业和环境监测解决方案。 工业过程控制中的光电反馈： 阐述了光电编码器、光电开关在自动化生产线上实现高精度定位和速度反馈的应用案例。讨论了在极端工作环境下（高温、强电磁干扰）光电器件的可靠性设计。 环境污染物实时监测： 探讨了利用紫外-可见-近红外（UV-Vis-NIR）光电吸收光谱技术对水体和大气中的特定污染物进行在线、实时监测的方法。介绍了便携式和无人机搭载的光电监测系统设计考量。 生物医学成像与诊断： 本章节展示了光电技术在生命科学领域的跨界应用，包括光学相干断层扫描（OCT）在组织深度成像中的进展、荧光寿命成像（FLIM）在细胞代谢研究中的应用，以及基于等离激元共振的生物分子快速检测平台。 第四部分：器件集成、封装与系统优化 成功的测试与测量系统依赖于器件的高效集成和整体系统的优化。本部分着重于工程实施层面。 光电器件的封装技术： 讨论了影响器件长期性能的关键封装挑战，包括热管理、应力隔离和光学对准的精密工艺。研究了适用于高功率或高带宽应用的混合集成方案。 低噪声电子学与数据采集： 探讨了如何设计与光电探测器匹配的跨阻放大器（TIA）和低噪声模数转换器（ADC），以最大限度地提高信噪比（SNR）。分析了系统级噪声源的识别和抑制策略。 面向特定应用的系统级解决方案： 总结了几个成功的光电测试测量系统的案例研究，包括高精度雷达测速的优化、超快现象的光电采样、以及用于半导体晶圆缺陷检测的自动化光学检测（AOI）系统。 总结 本书汇集了来自全球顶尖研究机构和工业界专家的最新研究成果，为读者提供了一个全面而深入的视角，理解光电子器件如何驱动测试与测量技术向更高精度、更高速度和更智能化方向发展。通过对器件物理、信号处理和系统集成的综合探讨，本书是光电子测量领域研究人员和应用工程师不可或缺的技术参考资料。

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