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係統芯片SoC的設計與測試

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潘中良 作者
譯者
2009-10 出版日期
323 頁數
60.00元 價格
叢書系列
9787030256720 圖書編碼

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發表於2024-10-06

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係統芯片SoC的設計與測試 在線電子書 圖書描述

《係統芯片SoC的設計與測試》內容簡介:係統芯片SoC能實現一個係統的功能,它是從整個係統的功能和性能齣發,采用軟硬結閤的設計和驗證方法,利用芯核復用及深亞微米技術,在一個芯片上實現復雜的功能。係統芯片具有速度快、集成度高、功耗低等特點。《係統芯片SoC的設計與測試》詳細介紹瞭係統芯片SoC的設計與測試的關鍵技術和主要方法。全書共15章,內容包括:係統芯片的設計模式與流程、係統芯片的總綫結構、芯核設計、軟硬件協同設計、係統芯片的存儲係統設計、係統芯片中模擬/混閤信號的設計、係統芯片的低功耗設計、信號完整性、係統芯片的驗證、係統芯片的可測性設計、測試調度與測試結構的優化設計、芯核的測試、係統芯片的物理設計、片上網絡等。

《係統芯片SoC的設計與測試》可作為電子、通信、計算機、自動控製等學科高年級本科生和研究生的教材,也適閤於從事電子信息、數字係統設計、測試和維護等相關專業的研究人員、工程技術人員學習參考。

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