光学测试技术

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出版者:北京理工大学
作者:沙定国
出品人:
页数:218
译者:
出版时间:2010-1
价格:28.00元
装帧:
isbn号码:9787564025649
丛书系列:
图书标签:
  • 光学测试技术
  • 光学测试
  • 光学测量
  • 测试技术
  • 计量技术
  • 仪器仪表
  • 光电子技术
  • 质量控制
  • 精密仪器
  • 光学工程
  • 检测技术
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具体描述

《光学测试技术(第2版)》是一门技术基础课程教材,适合于光学工程、光电技术、测控技术与仪器各专业。《光学测试技术(第2版)》系统介绍了光学测试中七种主要测试技术的基本理论、主要应用、测试方法和测量误差分析等。在教材内容上既注重基础理论及实用性·又注意选择国内外有重要应用价值的光学测试新技术,其中不少是作者多年来的科研成果。因而使本教材既拓宽了知识面,又能适应光学测试近期发展的需要。各章附思考与练习题、参考文献。便于自学和组织教学。

《光学测试技术(第2版)》所介绍的测试技术,不仅适用于光学行业,对航空航天、计量、测绘、机械、轻工等部门的有关行业也有实用价值。所以,《光学测试技术(第2版)》还可供这些行业从事科研、生产的工作人员参考。

《精密测量:跨越微观与宏观的精度挑战》 本书并非一本聚焦于特定学科的教科书,而是对精密测量这一人类探索未知、掌握世界过程中的核心技术进行的一次深入而全面的审视。它将带领读者走进一个由微米、纳米乃至原子尺度构建起来的精密世界,同时又不乏对宏观尺度下精确度要求的极致追求。本书旨在揭示精密测量背后的科学原理、技术方法、发展演进以及其在各个尖端领域的广泛应用,为不同背景的读者提供一个理解并可能投身于这一领域的深度视角。 第一部分:精密测量的基石——原理与范式 本书的开篇将深入探讨精密测量赖以生存的哲学与科学基础。我们将从“测量是什么?”这一根本性问题出发,追溯人类早期对长度、时间、质量等基本物理量的朴素丈量,直至现代科学对测量不确定性的严谨定义与量化。这里,我们将重点阐述测量误差的来源,包括系统误差、随机误差、观测误差等,并介绍各种误差的分析与补偿方法,如最小二乘法、贝叶斯推断等。 在此基础上,本书将聚焦于精密测量中的几个关键概念。首先是“精度”与“准确度”的辨析,它们虽常被混淆,却代表着测量结果的两种不同属性。我们将通过生动的实例,解释高精度测量如何通过反复测量减少随机误差,而高准确度测量则如何通过校准和标准来消除系统偏差。其次,我们将探讨“可重复性”与“可复现性”,这是评估测量方法稳定性和可靠性的重要指标,并分析影响这些因素的环境条件与设备性能。 本书还将深入介绍现代精密测量中不可或缺的“不确定度”概念。我们将详细讲解国际计量委员会(BIPM)提出的“测量不确定度”评估指南(GUM),解析其评估的类型A和类型B方法,以及如何进行不确定度的合成与扩展。通过具体的计算示例,读者将能理解为何每一个测量结果都应该伴随一个与其相关的“误差区间”,以及这个区间对于决策的重要性。 第二部分:精密测量的技术图谱——从传感器到算法 进入本书的核心技术篇章,我们将逐一剖析支撑精密测量的各类技术手段。 传感技术: 我们将从最基础的物理传感器讲起,如应变片、热敏电阻、光电传感器等,详细解析它们的工作原理、灵敏度、线性度、迟滞等关键性能指标。随后,我们将重点介绍在精密测量领域占据核心地位的传感器,例如: 光学传感器: 包括激光干涉仪(用于超高精度长度测量)、光学编码器(用于角度和位移测量)、CCD/CMOS图像传感器(用于非接触式尺寸测量和形貌分析)、光谱仪(用于物质成分分析)等。我们将详细分析其工作原理,如干涉、衍射、折射、吸收等光学现象在测量中的应用,以及如何克服光路污染、环境波动等影响。 电磁传感器: 介绍霍尔效应传感器、电感式传感器、电容式传感器在位移、接近、液位测量中的应用,以及它们在强磁场或复杂电磁环境下的适用性。 力与压力传感器: 探讨压电传感器、电阻应变式压力传感器、力测量仪等在材料力学性能测试、精密装配中的作用。 惯性传感器: 介绍加速度计和陀螺仪在导航、姿态测量中的原理及在运动姿态精密控制中的应用。 信号处理与数据采集: 精密测量往往伴随着微弱信号的提取和复杂数据的处理。本书将详细介绍模数转换(ADC)的原理、采样率、分辨率、量化误差等关键参数,以及数字信号处理(DSP)在滤波(如低通、高通、带通滤波)、降噪、特征提取等方面的应用。我们将探讨傅里叶变换、小波变换等在时域和频域分析中的重要作用。 计量标准与校准: 精密测量的灵魂在于其可追溯性。本书将介绍国际单位制(SI)的七个基本单位以及它们如何通过层层传递的溯源链,确保全球测量结果的一致性。我们将深入探讨计量标准器的制备、维护与传递,以及各种校准方法(如传递校准、比对校准)的实施细节,强调校准在确保测量准确度和可靠性方面的核心地位。 精密仪器与设备: 除了传感器和信号处理,许多精密测量依赖于高度集成和精密制造的仪器。我们将介绍如坐标测量机(CMM)在三维尺寸和形貌测量中的优势,电子显微镜(SEM, TEM)在纳米尺度形貌和结构分析中的突破,以及原子力显微镜(AFM)在表面特性和原子分辨率成像中的独特能力。 第三部分:精密测量的应用领域——赋能现代科技 本书的第三部分将聚焦于精密测量在各个前沿科学与工程领域中的实际应用。 制造业与质量控制: 精密测量是现代制造业的生命线。本书将详细介绍其在产品设计验证、生产过程监控、成品质量检验等环节的应用,如零件尺寸精度、表面粗光洁度、表面粗糙度、几何形状误差等。我们将探讨无损检测(NDT)技术,如超声波探伤、X射线成像、涡流探伤等,如何在不损坏工件的前提下进行内部缺陷的检测。 半导体与微电子: 在微纳尺度高度集成的半导体行业,精密测量是不可或缺的。本书将重点介绍其在光刻精度、薄膜厚度测量、表面形貌分析、关键尺寸(CD)测量等方面的应用,以及这些测量如何直接影响芯片的性能和良率。 生物医学与生命科学: 精密测量在药物研发、基因测序、细胞成像、医学影像诊断等方面发挥着日益重要的作用。我们将探讨如流式细胞术、高分辨率显微成像技术、生物传感器在疾病早期诊断和个性化医疗中的应用。 航空航天与国防: 极端环境下的高精度测量是保障航空航天器安全运行的关键。本书将介绍其在飞行器结构形变监测、发动机性能评估、导航定位精度、目标识别与跟踪等方面的应用。 基础科学研究: 从粒子物理的精确测量,到天文学对宇宙距离的丈量,再到材料科学对物质微观结构的探索,精密测量是推动基础科学进步的强大引擎。我们将通过一些经典的科学发现案例,来展示精密测量如何为科学理论的建立和验证提供坚实基础。 第四部分:精密测量的未来趋势与挑战 在本书的最后,我们将展望精密测量领域未来的发展方向,并探讨其面临的挑战。 智能化与自动化: 随着人工智能和机器学习的发展,未来的精密测量将更加智能化,能够自主进行参数优化、异常检测和结果分析。自动化测量系统将进一步提高效率,减少人为误差。 多物理量耦合测量: 针对复杂系统,开发能够同时测量多个相互关联物理量的传感器和系统将是重要趋势,从而更全面地理解和控制系统行为。 新兴测量技术: 我们将探讨量子计量学、纳米光子学、新型传感器材料等新兴技术如何为精密测量带来革命性的突破。 极端环境下的测量: 探索在高压、高温、低温、强辐射等极端环境下进行精确测量的技术挑战与解决方案。 数据安全与隐私: 随着测量数据的爆炸式增长,如何保证数据的安全、准确存储和合规使用,也将是未来精密测量领域需要重点关注的问题。 结语 《精密测量:跨越微观与宏观的精度挑战》是一本内容丰富、视角多元的著作,它不仅仅是介绍技术的工具书,更是对人类精益求精精神的赞颂。通过对精密测量原理、技术、应用以及未来趋势的全面梳理,本书旨在激发读者对这一重要领域的兴趣,并为相关从业人员提供有价值的参考。它强调,在追求更高精度、更准确度的道路上,人类的智慧与创造力将永无止境。

作者简介

目录信息

第一章 基本光学测量技术 第一节 光学测量中的对准与调焦技术 第二节 光学测试装置的基本部件及其组合 第三节 光学测量误差与测量不确定度 第四节 焦距和顶焦距测量第二章 光学准直与自准直技术 第一节 激光准直与自准直技术 第二节 自准直法测量平面光学零件光学平行度 第三节 自准直法测量球面曲率半径和焦距第三章 光学测角技术 第一节 光学测量用的精密测角仪 第二节 测角技术的应用第四章 光学干涉测量技术 第一节 干涉测量基础 第二节 泰曼干涉测量和斐索干涉测量 第三节 移相干涉测量 第四节 错位干涉测量 第五节 点衍射移相干涉测量 第六节 激光外差干涉测量第五章 偏振光分析法测量 第一节 偏振光分析法基本原理 第二节 光学玻璃应力双折射测量 第三节 光学薄膜厚度和折射率测量 第四节 偏振干涉测量第六章 光学系统成像性能评测 第一节 成像性能评测的基本理论 第二节 星点检验 第三节 分辨率测量 第四节 畸变测量 第五节 光学传递函数测量第七章 光度测量 第一节 辐射度、光度量基础 第二节 积分球和CIE标准照明体 第三节 基本光度量的测量 第四节 光学系统透射比的测量 第五节 光学系统杂光系数的测量 第六节 照相物镜像面照度均匀性的测量
· · · · · · (收起)

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