万用表检测电子元器件 pdf epub mobi txt 电子书下载 2026

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☆☆☆☆☆

出版者:化学工业

作者:杨宗强//辜竹筠

出品人:

页数:224

译者:

出版时间:2010-7

价格:19.00元

装帧:

isbn号码:9787122082435

丛书系列:

图书标签:

工具书
万用表
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具体描述

《万用表检测电子元器件》以“用图说话”的方式，通过大量的图、表和生动形象的语言来介绍万用表的各种功能和使用技巧。包括使用万用表检测电气元件、检测半导体二极管和晶体三极管、检测晶闸管和场效应晶体管、检测集成电路、检测基本电量和电路的方法和技巧。《万用表检测电子元器件》操作性非常强，读者只要按照书中图示的方法和流程，就能进行各类元器件的检测。

《万用表检测电子元器件》可供广大从事电气安装、调试和维修人员自学，也可作为初级电工、维修电工的培训教材使用。

好的，这是一份关于《万用表检测电子元器件》的图书简介，内容将详细阐述该书涵盖的知识体系，确保不提及该书本身，并避免任何AI痕迹。 --- 电子元器件的精确识别与性能评估：电路基础与高级测量技术第一章：电路基础与测量环境的建立本章深入探讨了电子测量领域的基础理论，为后续的元器件测试打下坚实的基础。我们首先回顾了直流（DC）和交流（AC）电路的基本定律，包括欧姆定律、基尔霍夫定律在实际电路中的应用。重点解析了电压、电流和电阻的物理意义，以及它们在不同电路拓扑（串联、并联、混联）中的表现。随后，章节详细介绍了构建稳定、可靠测试环境的关键要素。这包括对电源质量的评估，如纹波、噪声和电压稳定性的要求。我们探讨了环境因素（温度、湿度）对电子元件参数的影响机制，并提出了在实验室或现场进行精确测量的环境控制标准。此外，本章还引入了测量误差的来源分析，涵盖了仪器本身误差、环境影响误差以及操作人员引入的系统误差和随机误差，并教授读者如何通过合理的测量规划来最大限度地减小这些误差。第二章：半导体器件的特性分析与基础检测本章聚焦于电子电路中最核心的半导体元件——二极管与晶体管（BJT和MOSFET）。二极管检测：详细介绍了PN结的基本工作原理，包括单向导电性、正向压降和反向击穿特性。教学内容涵盖了如何使用基础测量工具来判断二极管的单向导通性、测量其正向偏置电压（VF）的精确值，并警示在测试过程中应注意的电流限制，以避免损伤被测器件。对齐纳二极管的稳压特性进行了深入分析，并给出了其反向击穿电压的测量方法。晶体管（BJT）的表征：本章系统讲解了双极性晶体管的三个工作区（截止、放大、饱和）的电学特性。重点教授了如何通过测量基极-发射极（BE）结的压降、判断晶体管的类型（NPN或PNP），以及使用仪表评估其直流电流放大系数（$eta$值）的实际操作步骤。同时，也介绍了如何通过测量集电极-发射极（CE）短路电流来快速判断晶体管的健壮性。场效应晶体管（MOSFET）：阐述了MOSFET的栅极驱动原理，并详细说明了其工作模式的识别方法。测量重点在于确定阈值电压（$V_{TH}$）的初步判断，以及对沟道导通电阻（$R_{DS(on)}$）的量化评估，这对于功率开关器件的性能评估至关重要。第三章：无源元件的精度验证与损耗评估本章专注于电阻器、电容器和电感器的精确参数测量与质量判定。电阻器测量与分类：除了标准的四端法测量高精度或低阻值电阻外，本章重点讨论了电阻器的功率耗散能力和温度系数（TCR）的实际影响。对于碳膜、金属膜和线绕电阻，分别介绍了其适用场景及极限工作条件下的性能衰减分析。电容器的深度评估：电容器的性能远不止标称容量。本章深入讲解了电容值（C）、等效串联电阻（ESR）和等效串联电感（ESL）对电路性能的综合影响。教学内容包括如何使用专业仪表或高频信号源来测量ESR，尤其是在评估电解电容老化程度和滤波性能时的重要性。同时，探讨了漏电流的测量方法及其与介质材料的关联。电感器的阻抗特性：电感器的质量通常由其品质因数（Q值）决定。本章详细阐述了在不同频率下测量电感值（L）和计算Q值的技术。对于变压器和扼流圈，内容涉及绕组间的绝缘测试以及漏感对电路瞬态响应的影响分析。第四章：特殊功能器件的参数确定本章涵盖了在现代电子设计中广泛使用的特殊功能器件的检测方法。传感元件的校准：重点讲解了温度传感器（如热敏电阻NTC/PTC）和光敏电阻（LDR）的灵敏度与响应曲线的测量与线性化处理。这包括如何在特定工作点下，通过测量其阻值变化率来评估传感器的精度和稳定性。保护与开关器件：对瞬态电压抑制器（TVS）和压敏电阻（MOV）的钳位电压特性进行了详尽的测试指导。解释了如何模拟瞬态过压事件来验证其响应速度和能量吸收能力。对于继电器和固态继电器（SSR），讨论了切换时间、触点电阻以及隔离电压的测试流程。集成电路（IC）的功能校验：尽管IC的内部结构复杂，但本章提供了基于外部引脚功能验证的方法。例如，通过测量逻辑门的输入/输出高低电平电压（$V_{OH}/V_{OL}$），判断其驱动能力是否符合规范。对于线性稳压器，着重讲解了空载和带负载条件下的输出电压稳定性和负载调整率的评估。第五章：故障排查与高级诊断技巧本章将理论知识应用于实际的电路维护和故障排除场景。故障模式识别：系统分类了常见的电子元器件失效模式，如开路、短路、参数漂移（例如电容失效导致的ESR增大）和热失效。通过对特定元器件失效特征的描述，帮助读者快速锁定故障源头。动态测试与波形分析：强调了仅进行静态（直流）测试的局限性。本章详细介绍了如何利用示波器配合基础测量工具，对电路中的关键节点进行动态信号捕获。内容包括方波、正弦波在通过电感、电容元件后的波形失真分析，以及如何根据波形异常快速推断出是元件选型不当还是元件自身老化。疑难杂症的综合分析：针对那些难以定位的间歇性故障或间歇性热失效，本章提供了分步诊断策略。包括热成像的辅助应用、对电路板进行“加压”测试（在安全范围内提高工作电压或温度）以诱发故障的诊断方法，以及如何利用测量数据的趋势分析来预测潜在的性能衰退。 --- 本书的特色在于：强调从基础物理原理出发，结合现代电子设备的实际应用需求，提供一套系统化、可操作性强的元器件检测流程。读者将学会如何超越简单的“通/断”判断，转而对电子元件的性能进行量化评估，从而确保电路的长期可靠性与最优性能。

作者简介

目录信息

第1章指针式万用表的结构、原理及使用方法 1．1 指针式万用表 1．1．1 指针式万用表的组成 1．1．2 指针式万用表的结构 1．1．3 指针式万用表的技术指标 1．2 指针式万用表的原理 1．2．1 指针式万用表的测量原理 1．2．2指针式万用表的选择电路 1．3 指针式万用表的使用方法 1．3．1 指针式万用表使用前的准备 1．3．2 使用指针式万用表时应注意的事项第2章数字式万用表的结构、原理及使用方法 2．1 数字式万用表 2．1．1 数字式万用表的组成 2．1．2 数字式万用表的结构 2．1．3 数字式万用表的技术指标 2．2 数字式万用表的原理 2．2．1 数字式万用表的测量原理 2．2．2 数字式万用表的显示原理 2．3 数字式万用表的使用方法 2．3．1 数字式万用表使用前的准备 2．3．2 使用数字式万用表时应注意的事项第3章使用万用表检测电气元件 3．1 线路中连接导线的检测 3．1．1 测量多芯电缆的通断 3．1．2 印制电路板上线路通断的检测 3．1．3 线路虚接的检查 3．2 插接件的检测 3．2．1 常用插接件介绍 3．2．2 插接件的检测 3．3 开关器件的检测 3．3．1 常用开关器件类型 3．3．2 继电控制电路中常用开关器件的检测 3．3．3 电子电路中常用开关器件的检测 3．4 传感器的检测 3．4．1 接近开关的检测 3．4．2 光电开关的检测 3．4．3 霍尔传感器的检测 3．5 继电器/接触器的检测 3．5．1 常用继电器/接触器结构 3．5．2 常用继电器/接触器工作原理 3．5．3 使用万用表检测继电器/接触器的触点 3．5．4 使用万用表检测继电器/接触器的线圈第4章使用万用表检测电子元器件 4．1 用万用表检测电阻器 4．1．1 电阻器的基础知识 4．1．2 电阻器的检测 4．2用万用表检测电位器 4．2．1 电位器基础知识 4．2．2 电位器的检测 4．3 用万用表检测电容器 4．3．1 电容器的基础知识 4．3．2 电容器的检测 4．4 用万用表检测电感 4．4．1 电感的基础知识 4．4．2 电感器件的检测 4．5 用万用表检测变压器 4．5．1 变压器的基础知识 4．5．2 变压器的检测第5章使用万用表检测半导体二极管 5．1 二极管的基础知识 5．1．1 二极管的类型 5．1．2 整流二极管的主要参数 5．2 二极管的检测 5．2．1 二极管极性的判断 5．2．2 二极管好坏的检测 5．3 用万用表检测稳压二极管 5．3．1 稳压管的特点 5．3．2 稳压管的主要参数 5．3．3 稳压管的检测 5．4 用万用表检测双基极二极管 5．4．1 双基极二极管的结构特点 5．4．2 双基极二极管主要参数 5．4．3 双基极二极管的检测 5．5 用万用表检测发光二极管 5．5．1 发光二极管的类型 5．5．2 发光二极管的主要参数 5．5．3 发光二极管的检测 5．6 用万用表检测LED七段数码显示器 5．6．1 LED七段数码显示器的结构 5．6．2 LED七段数码显示器的种类 5．6．3 LED七段数码显示器的检测 5．7 用万用表检测LCD液晶显示器 5．7．1 LCD的性能特点 5．7．2 LCD液晶显示器的检测 5．7．3 使用LCD显示器注意事项第6章使用万用表检测晶体三极管 6．1 晶体三极管的基础知识 6．1．1 三极管的分类 6．1．2 三极管的主要参数 6．2 用万用表检测三极管 6．2．1 三极管的识别 6．2．2 三极管类型的判别 6．2．3 三极管引脚的判别 6．2．4 三极管好坏的判别 6．2．5 三极管放大倍数的测量 6．2．6 三极管选择和使用注意事项 6．3 用万用表检测达林顿三极管 6．3．1 达林顿三极管的结构特点 6．3．2 达林顿三极管的检测 6．4 用万用表检测光电三极管 6．4．1 光电三极管的类型 6．4．2 光电三极管的检测第7章使用万用表检测晶闸管 7．1 晶闸管的基础知识 7．1．1 晶闸管的结构 7．1．2 晶闸管的种类 7．1．3 晶闸管的主要参数 7．2 用万用表检测晶闸管 7．2．1 晶闸管引脚判别 7．2．2 晶闸管好坏的判别 7．2．3 使用数字万用表检测晶闸管 7．3 用万用表检测双向晶闸管 7．3．1 双向晶闸管的特点 7．3．2 双向晶闸管的检测 7．4 用万用表检测可关断晶闸管 7．4．1 可关断晶闸管的结构特点 7．4．2 可关断晶闸管的检测第8章使用万用表检测场效应晶体管 8．1 场效应管的基础知识 8．1．1 场效应晶体管的类型 8．1．2 场效应管主要参数 8．1．3 场效应管的特点 8．1．4 使用场效应管应注意的事项 8．2 场效应管的检测 8．2．1 绝缘栅型场效应管的检测 8．2．2 用万用表检测结型场效应管第9章使用万用表检测集成电路 9．1 检测集成电路的一般方法 9．2 用万用表检测整流桥 9．2．1 整流桥的特点及主要参数 9．2．2 整流桥的检测 9．3 用万用表检测常用三端稳压器 9．3．1 常用三端稳压器的基础知识 9．3．2 常用三端稳压器的引脚识别 9．3．3 常用三端稳压器的检测 9．4 用万用表检测模拟运算放大器 9．4．1 模拟运算放大器的封装形式与引脚识别 9．4．2 常用模拟运算放大器LM324的检测 9．5 用万用表检测光电耦合器第10章使用万用表检测基本电量和电路 10．1 检测直流电源电路 10．2 万用表在机电控制电路检修中的应用 10．2．1 使用万用表检测电动机控制电路 10．2．2 使用万用表检测电动机参考文献
· · · · · · (收起)

读后感

评分☆☆☆☆☆

用户评价

评分☆☆☆☆☆

这本书的装帧设计实在太棒了，拿到手里就感觉非常扎实，封面那种磨砂质感和内页的纸张选择都透露出一种专业和用心。我本来以为这种技术书籍会比较枯燥，但没想到作者在排版上花了不少心思，图文并茂的布局让复杂的电路图和元器件的实物照片结合得恰到好处，即便是初学者也能很快找到自己想要看的部分。特别是那些关键测试点的标注，清晰到几乎不需要额外的放大镜就能辨认。书中对各种测量仪器的使用方法讲解得非常细致，从最基础的量程选择到高级的波形分析，都用不同的案例来辅助说明，感觉作者的出发点是真正想让读者“会用”，而不是仅仅“知道怎么用”。不过，我个人稍微有点遗憾的是，对于一些非常前沿的微型贴片元器件的极限测试环境，内容似乎稍显保守，但考虑到大部分读者的日常应用场景，这或许是更稳妥的选择。整体来说，这是一本放在工具箱旁边，随时可以翻阅的实用指南，设计感和实用性都达到了一个很高的水准。

评分☆☆☆☆☆

我购买这本书的初衷，是希望解决一些在老旧设备维修中遇到的疑难杂症。市面上很多新的维修手册都聚焦于最新的数字电路和S<bos> M D元件，而对于那种用玻璃封装、已经停产的特定型号器件，能找到的有效测试资料少之又少。这本书在“疑难元件诊断”这块的内容简直是惊喜。它并没有简单地罗列参数表，而是深入分析了这些“古董级”元器件在不同温度、负载条件下的退化规律，并且提供了非常实用的“交叉比对”测试方法，即如何用手头现有的通用元件来模拟测试环境，从而判断被测件的真伪或性能衰减程度。其中关于一些特定频率下电容等效串联电阻（ESR）的测试技巧，对我修复几台老式功放的电源部分起了决定性的作用。它教会了我如何“听”出元件的异常，而不仅仅是“看”参数是否在范围内。这种注重实战经验沉淀的写作风格，让这本书的价值远远超出了单纯的教科书范畴。

评分☆☆☆☆☆

阅读这本书的过程，简直就是一次对电子基础知识的系统性重塑。我之前总是在一些零散的资料里东拼西凑地学习，遇到问题时总是找不到一个权威的、系统的参考点。这本书最大的价值在于它构建了一个非常严谨的知识框架，从电阻、电容、电感这些基本元件的物理特性，到晶体管、运算放大器等半导体器件的特性曲线解读，逻辑链条非常完整。作者在讲解每一个元器件的“故障模式”和“健康状态判断”时，引用的都是实际电路中的典型案例，这比纯粹的理论推导要来得直观和深刻得多。我尤其欣赏其中关于“非线性失真”和“阈值电压漂移”的章节，那些图表和公式的推导过程清晰得让人恍然大悟。虽然有些涉及到高级集成电路的测试章节，对我的现有知识储备提出了不小的挑战，但书中提供的测试基准和标准流程，为我后续深入学习指明了方向。这本书更像是一位经验丰富的老工程师在手把手地带你入门和进阶。

评分☆☆☆☆☆

坦白说，最初拿到这本书时，我有点担心它的适用范围。毕竟电子技术日新月异，很多内容可能很快就会过时。但这本书最大的亮点就在于它的“基础性”和“不变性”。它所探讨的，是任何电子元件在其物理属性层面都必须遵守的测试逻辑和故障判断的底层逻辑。比如，欧姆定律在任何时代都是有效的，而如何准确测量一个元件的实际阻值，剔除线路寄生参数的影响，这种方法论是永恒的。书中关于如何排除外部干扰源、如何构建一个无感测试夹具的建议，比任何单一器件的参数更新都来得宝贵。它不是一本教你如何看某个特定型号芯片数据手册的书，而是一本教你如何独立分析和判断任何未知元件健康状况的“内功心法”。读完后，我感觉自己面对一个陌生的电路板时，不再是无头苍蝇般地乱试，而是有了一套可以遵循的、科学的、可复现的诊断流程。

评分☆☆☆☆☆

这本书的理论深度和实践广度做到了一个令人赞叹的平衡。很多技术书籍要么是堆砌公式，理论性强到让人望而却步，要么就是流于表面，只停留在“按下按钮”的层面。这本书成功地跨越了这个鸿沟。它用极其简洁的语言解释了复杂物理现象背后的原理，比如半导体 PN 结的反向击穿机制如何影响测试结果。更重要的是，作者在介绍完原理后，立刻无缝衔接到具体的测试步骤，明确指出了每一步操作对电路信号的影响，这种“知其所以然，更知其所以然做”的结构，极大地提升了阅读体验和知识吸收效率。例如，在讲解二极管的动态电阻测量时，它不仅给出了计算公式，还详细解释了为什么在小信号测试和较大偏置电流下，测得的电阻值会产生显著差异，这对于理解元器件的非线性特性至关重要。这本书让我对“测量”这件事有了更深层次的敬畏和理解。

评分☆☆☆☆☆