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数字集成电路测试优化

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作者
译者
2010-6 出版日期
344 页数
58.00元 价格
丛书系列
9787030278944 图书编码

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发表于2024-11-10


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数字集成电路测试优化 在线电子书 图书描述

《数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度》内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面:测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理,激励压缩的有效方法,测试响应压缩方法和电路结构;测试功耗优化的基本原理,静态测试功耗优化方法,动态测试功耗优化;测试压缩与测试功耗协同优化方法;测试压缩与测试调度协同优化方法;并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。

全书阐述了作者及其科研团队自主创新的研究成果和结论,对致力于数字集成电路测试与设计研究的科研人员(尤其是在读研究生)具有较大的学术参考价值,也可用作集成电路专业的高等院校教师、研究生和高年级本科生的教学参考书。

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